二极管做绝缘

安规007

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呵呵，8楼的回答比较难以反驳。9楼的方法挺不错的。

山炮

保护阻抗之所以可以用来跨接绝缘，其先决条件是有足够的稳定性，这一点600335中结构一章提到了，60065和60950没有仔细查核。两只电视高压包内的硅堆反向连接，其耐压也是数万伏级别。但构成电阻的是多只串联的PN结，那个仅靠添加不同物质所形成阻止电流反向通过的电场，不可能视其为有足够稳定性的，因而不能用作保护阻抗。

bob_dai

电气间隙和爬电距离如何保证？

安规007

引用第11楼山炮于2010-11-24 22:06发表的  :
+ J* b9 O7 V3 r) ^# z! ^+ f3 c保护阻抗之所以可以用来跨接绝缘，其先决条件是有足够的稳定性，这一点600335中结构一章提到了，60065和60950没有仔细查核。两只电视高压包内的硅堆反向连接，其耐压也是数万伏级别。但构成电阻的是多只串联的PN结，那个仅靠添加不同物质所形成阻止电流反向通过的电场，不可能视其为有足够稳定性的，因而不能用作保护阻抗。

你的理由很有说服力，但是在60950里面我找不到类似60335的说法，60950  2.9.1里面有列出了可以作为绝缘的材料，但是并没有列出半导体材料能不能作为绝缘，还有 2.10.5.4中 有如下内容：
. E; Q! {  Q" v) m9 K2.10.5.4 Semiconductor devices
There is no minimum distance through insulation for SUPPLEMENTARY INSULATION or
8 V* r5 Z! O1 P& k- A  h! NREINFORCED INSULATION consisting of an insulating compound completely filling the casing of a
+ l+ g3 H" L5 {3 w& v- gsemiconductor component (for example, an optocoupler, see Figure F.17), provided that the
' i/ P; N; K1 _component satisfies one of the following, a) or b):
a) – passes the TYPE TESTS and inspection criteria of 2.10.11; and
– passes ROUTINE TESTS for electric strength during manufacturing, using the appropriate
value of the test voltage in 5.2.2; or
b) for an optocoupler only, complies with the requirements of IEC 60747-5-51), where the test
voltages as specified in 5.2.6 (of IEC 60747-5-5):
– the voltage Vini,a for TYPE TESTING and
6 r, R7 ?4 N/ a. f8 x+ l7 |– the voltage Vini,b for ROUTINE TESTING,
shall be the appropriate value of the test voltage in 5.2.2 of this standard.
; m+ Z1 c9 O7 b6 o! VNOTE The above constructions may contain cemented joints, in which case 2.10.5.5 also applies.
As an alternative to a) and b) above, it is permitted to treat a semiconductor according to
0 t3 H) [; t9 r0 A# o2.10.5.3, if applicable.
For compliance criteria, see 2.10.5.1.
1 z9 x- v7 Q- ~, B5 X/ b) T3 P
/ _! X. w9 i( B: k我个人理解二极管是可以满足a 的要求的，现在有争论的就是打耐压方向的问题，就像8楼所说的，标准没有规定从哪个方向打，既然没有规定，那我可以按对我产品有利的方向来打，就算是机构的工程师，如果说不允许，也要有相关的标准作为依据才可以反驳我的做法吧。我们都知道，只要二极管的反向击穿电压大于我们的绝缘耐压要求，按固定的方向来打耐压（DC)是可以打得过的。

继续期待着大家进行讨论。

清水白菜

不过标准中所有测试都是以最不利的情况下做的，就如楼上说的，认证工程师一般都会要求以最不利的方向打耐压。

zhysff

判断绝缘是否合格，并不是只有耐压一种方法，同时还得满足隔离要求，再者，二极管反向可以通过耐试验，那正向呢？

安规007

引用第14楼清水白菜于2010-11-25 12:29发表的  :
不过标准中所有测试都是以最不利的情况下做的，就如楼上说的，认证工程师一般都会要求以最不利的方向打耐压。

- A  n' Q+ e! ]( r5 l# z其实我们这个电路是对地打的，从实际应用来说，只有可能从L/N对地击穿，所以如果根据实际情况来评估的话，从地往L/N打(DC)应该就没有必要了吧。

安规007

引用第15楼zhysff于2010-11-25 13:12发表的  :
1 y$ W8 X" v! H2 [判断绝缘是否合格，并不是只有耐压一种方法，同时还得满足隔离要求，再者，二极管反向可以通过耐试验，那正向呢？

正向是从地到L/N的，从实际情况来评估的话，是否有必要两边都要打(DC)呢？

zhysff

引用第17楼安规007于2010-11-25 14:28发表的  :
- m$ F* M8 F& L% N

正向是从地到L/N的，从实际情况来评估的话，是否有必要两边都要打(DC)呢？

5 b$ m# f; t  T4 x( r打抗电强度的时候并没有规定电压的方向，那么，实验工程师从两极防护的原则上考虑的话，是可以在两边都进行抗电强度试验的

再者，刚才还提到一个隔离的问题，初次级之间是需要隔离的，可以是空间距离的隔离，也可以是如光耦一样用绝缘化合物填充，二极管仅仅是一个PN结，是满足不了隔离的，而且二极管在两端电势差较大的情况下是会击穿短路，就从这点来说，就不能让产品持续符合安全的要求

安规007

引用第18楼zhysff于2010-11-25 14:38发表的  :
, g! ?4 q. n8 T: {

* z  c( Z- `* ~9 c" r& Y) v
% @5 J) B5 x3 u9 _7 k+ K打抗电强度的时候并没有规定电压的方向，那么，实验工程师从两极防护的原则上考虑的话，是可以在两边都进行抗电强度试验的

: ~/ x, J, g# }7 H8 N5 y.......

: o% `  L* F4 Q. {* P呵呵，关于抗电强度，我可以从实际情况来进行评估，L/N是带电体，而地是安全的，我只要保证从L/N那边不会有高压对地击穿应该就可以满足安全的要求吧。

: r: }$ h. f6 z2 N4 ?还有关于隔离的问题，关于半导体内部的隔离是没有最小距离要求的，标准已经拿光耦来做例子。关于PN结是否可靠，标准里面没有说到，这就是有争议的地方了，你说二极管两端电势差比较大会击穿，这个我们会考虑到的，我只要选用反向击穿电压大于2120 V的二极管就可以满足基本绝缘要求了。