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楼主: 安规007

[电源产品] 二极管做绝缘

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 楼主| 发表于 2010-11-24 17:27 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
呵呵,8楼的回答比较难以反驳。9楼的方法挺不错的。
发表于 2010-11-24 22:06 | 显示全部楼层
保护阻抗之所以可以用来跨接绝缘,其先决条件是有足够的稳定性,这一点600335中结构一章提到了,60065和60950没有仔细查核。两只电视高压包内的硅堆反向连接,其耐压也是数万伏级别。但构成电阻的是多只串联的PN结,那个仅靠添加不同物质所形成阻止电流反向通过的电场,不可能视其为有足够稳定性的,因而不能用作保护阻抗。
发表于 2010-11-25 01:21 | 显示全部楼层
电气间隙和爬电距离如何保证?
 楼主| 发表于 2010-11-25 10:05 | 显示全部楼层
引用第11楼山炮于2010-11-24 22:06发表的  :
4 J2 E: U- D; s保护阻抗之所以可以用来跨接绝缘,其先决条件是有足够的稳定性,这一点600335中结构一章提到了,60065和60950没有仔细查核。两只电视高压包内的硅堆反向连接,其耐压也是数万伏级别。但构成电阻的是多只串联的PN结,那个仅靠添加不同物质所形成阻止电流反向通过的电场,不可能视其为有足够稳定性的,因而不能用作保护阻抗。
  U3 ~$ ]1 s6 S0 s$ `1 ]) u+ S
你的理由很有说服力,但是在60950里面我找不到类似60335的说法,60950  2.9.1里面有列出了可以作为绝缘的材料,但是并没有列出半导体材料能不能作为绝缘,还有 2.10.5.4中 有如下内容:
7 t5 X1 ?- y: d% C2.10.5.4 Semiconductor devices
# b0 B1 `( E- }3 d% \; z: zThere is no minimum distance through insulation for SUPPLEMENTARY INSULATION or% u5 [5 {5 x0 {) u
REINFORCED INSULATION consisting of an insulating compound completely filling the casing of a  D  \! [' [+ z
semiconductor component (for example, an optocoupler, see Figure F.17), provided that the. A6 l! U+ G9 y: t& `4 e
component satisfies one of the following, a) or b):
/ ]8 k3 S$ n/ s4 V5 ia) – passes the TYPE TESTS and inspection criteria of 2.10.11; and0 w" I* E7 {& H# Q$ U1 Q  ?
– passes ROUTINE TESTS for electric strength during manufacturing, using the appropriate1 C5 t# x+ t: W% w6 E
value of the test voltage in 5.2.2; or' j' i/ j7 K; G! l7 \7 S& w
b) for an optocoupler only, complies with the requirements of IEC 60747-5-51), where the test5 v2 z* m; a) _1 I' f$ o
voltages as specified in 5.2.6 (of IEC 60747-5-5):( O0 |+ R  m) C( A
– the voltage Vini,a for TYPE TESTING and
( S  z) l  i  Q# f3 J– the voltage Vini,b for ROUTINE TESTING,
& s6 Z& H4 w  r1 L* a3 g7 a  ~; {shall be the appropriate value of the test voltage in 5.2.2 of this standard.
  {7 ?4 V  V( L5 l; YNOTE The above constructions may contain cemented joints, in which case 2.10.5.5 also applies.
6 c+ X) y, ]" i, q/ AAs an alternative to a) and b) above, it is permitted to treat a semiconductor according to5 n3 \0 ~: e* G# y5 A4 {
2.10.5.3, if applicable.( y( `( K' g( H; F) B* `
For compliance criteria, see 2.10.5.1.
9 J3 S9 I* L. V3 ]
' x/ f6 I0 f3 r1 o我个人理解二极管是可以满足a 的要求的,现在有争论的就是打耐压方向的问题,就像8楼所说的,标准没有规定从哪个方向打,既然没有规定,那我可以按对我产品有利的方向来打,就算是机构的工程师,如果说不允许,也要有相关的标准作为依据才可以反驳我的做法吧。我们都知道,只要二极管的反向击穿电压大于我们的绝缘耐压要求,按固定的方向来打耐压(DC)是可以打得过的。
# {& E3 t) }# H* i5 H
, w, R: z; S5 a继续期待着大家进行讨论。
发表于 2010-11-25 12:29 | 显示全部楼层
不过标准中所有测试都是以最不利的情况下做的,就如楼上说的,认证工程师一般都会要求以最不利的方向打耐压。
发表于 2010-11-25 13:12 | 显示全部楼层
判断绝缘是否合格,并不是只有耐压一种方法,同时还得满足隔离要求,再者,二极管反向可以通过耐试验,那正向呢?
 楼主| 发表于 2010-11-25 14:26 | 显示全部楼层
引用第14楼清水白菜于2010-11-25 12:29发表的  :
5 S7 k( {- h6 U5 ?不过标准中所有测试都是以最不利的情况下做的,就如楼上说的,认证工程师一般都会要求以最不利的方向打耐压。
3 c5 {# |0 M. u' y1 S- Y3 a+ C8 S
其实我们这个电路是对地打的,从实际应用来说,只有可能从L/N对地击穿,所以如果根据实际情况来评估的话,从地往L/N打(DC)应该就没有必要了吧。
 楼主| 发表于 2010-11-25 14:28 | 显示全部楼层
引用第15楼zhysff于2010-11-25 13:12发表的  :
. y& E0 x4 h7 j1 N  N判断绝缘是否合格,并不是只有耐压一种方法,同时还得满足隔离要求,再者,二极管反向可以通过耐试验,那正向呢?

' K# k( B+ \" Q5 _6 Y正向是从地到L/N的,从实际情况来评估的话,是否有必要两边都要打(DC)呢?
发表于 2010-11-25 14:38 | 显示全部楼层
引用第17楼安规007于2010-11-25 14:28发表的  :, z3 ~) w, B! }, D) u: Z& ^

- {$ k' g8 {" p$ U/ b& o* I
: n. K9 w. D# w正向是从地到L/N的,从实际情况来评估的话,是否有必要两边都要打(DC)呢?
8 w6 t! a' l2 T( ~# X; M1 y
0 d. A+ P2 n! p* ?' Y$ L
打抗电强度的时候并没有规定电压的方向,那么,实验工程师从两极防护的原则上考虑的话,是可以在两边都进行抗电强度试验的
! G3 |5 Y5 s* Z8 c$ G) m1 @0 |. S1 H$ z3 X3 b+ b
再者,刚才还提到一个隔离的问题,初次级之间是需要隔离的,可以是空间距离的隔离,也可以是如光耦一样用绝缘化合物填充,二极管仅仅是一个PN结,是满足不了隔离的,而且二极管在两端电势差较大的情况下是会击穿短路,就从这点来说,就不能让产品持续符合安全的要求
 楼主| 发表于 2010-11-25 14:49 | 显示全部楼层
引用第18楼zhysff于2010-11-25 14:38发表的  :; Z5 ]* l" S& f

. w/ K+ `) [) H7 L& U: b* [
. _0 P$ ?! Z; R' B- G: W; P; U2 M" j3 ?8 n' q
打抗电强度的时候并没有规定电压的方向,那么,实验工程师从两极防护的原则上考虑的话,是可以在两边都进行抗电强度试验的
9 S+ X/ }% K2 P/ ^* S0 s9 F
" h. `0 a# G" `( ?.......
/ m  P* P5 j; T+ O; o
呵呵,关于抗电强度,我可以从实际情况来进行评估,L/N是带电体,而地是安全的,我只要保证从L/N那边不会有高压对地击穿应该就可以满足安全的要求吧。0 S* N5 N: r) ]
3 t5 D" f8 H2 K: g/ [% L
还有关于隔离的问题,关于半导体内部的隔离是没有最小距离要求的,标准已经拿光耦来做例子。关于PN结是否可靠,标准里面没有说到,这就是有争议的地方了,你说二极管两端电势差比较大会击穿,这个我们会考虑到的,我只要选用反向击穿电压大于2120 V的二极管就可以满足基本绝缘要求了。
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