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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :& j4 k3 D0 s* ~/ E1 n6 G# z6 [# `
我认为标准在这点上是严谨的。$ V7 L% ?1 I- L+ W0 a2 |2 P
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
0 x3 Q- X, B, \6 U( E二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。/ g7 ~1 s. D' D1 `/ I$ x! }
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。
3 o5 u7 H, T. D: o" T6 o& o四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
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$ z0 G3 C" I+ @, v0 H3 g. N第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? 1 G# |! B5 w" d* w0 z H9 E
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?
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比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
1 x2 \& g5 i" f' q3 T& b5 }这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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