测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘

ajay · 发表于 2011-5-8 01:12

广东安规检测
有限公司提供：

引用第6楼安规007于2011-05-06 16:49发表的 :
$ [* e4 i4 `) {60950里面也有类似的问题，很纠结。

950没有这个问题。楼主的例子（Cl & Cr< BI），950说得很清楚：在电压不超过1000V a.c. 或1500V d.c.时，对内部导体和试验指或试验针之间的空气间隙没有要求。

山炮 · 发表于 2011-5-8 19:46

纠结的是：标准似乎放弃了我们一截手指。

killterry · 发表于 2011-5-10 19:19

引用第11楼山炮于2011-05-08 19:46发表的 :
- m1 Z( k7 ~) d, a) |( T+ \5 Z+ L纠结的是：标准似乎放弃了我们一截手指。

这位兄弟挺幽默的。

zylyr · 发表于 2011-5-12 10:13

引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的  :3 Q+ l  i% z: r+ q' e  q7 N' O7 B8 J
我认为标准在这点上是严谨的。
1 p$ H0 O4 y( u) ^一：8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力，考核开口外壳的强度。: z6 U/ N6 J6 `' ^# k: B; [  R6 }
二：Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
% a$ I# g+ F0 a+ B2 d# S4 f0 N三：Cl和Cr考核时是外壳施加力（30N），而不是在作用在手指上。9 A7 [3 Q3 x: M  h4 V! \  }
四：依据IEC 60664（家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定）, 测量Cl和Cr时，假设绝缘表面覆盖金属薄（锡箔纸）。
  W4 Y3 B; t. W# X; ^.......

第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL?
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?

比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗?

山炮 · 发表于 2011-5-13 13:06

关于开孔的电气间隙与爬电距离测量的问题，在GB8898的图3中有一个说明（在注解处）。不妨看看。

keith_chen · 发表于 2011-5-13 21:55

引用第3楼woody05于2011-05-06 16:19发表的 :
( C5 K0 m! i5 F! d* M好，就假定是I类开孔，测试手指的指身与接地金属可靠连接，/ A; g0 v& d4 G( w8 S$ L
测试手指碰不到live part，但是与live part的 Cr. 或 Cl.又不满足B.I.的要求，
3 z# ^( d9 q* {% m. D+ x1 {* M" j这种结构可以接受吗，如果不可接受，是不是就是cl.8.1.1的不严谨？

正是因为有这样的情况出现，所以才有29章的存在。这不是标准严谨不严谨的问题，每个章节要求不同，考核的对象不一样，一个条款就能完成所有的判断，那就不用整个几十页的标准了，一条标准就行了。

david888 · 发表于 2011-5-15 19:07

引用第15楼AQ守望者于2011-05-13 21:55发表的 :
9 d: F4 k' {( R6 m# j/ [& r: p* h
2 C A) S1 x4 t正是因为有这样的情况出现，所以才有29章的存在。这不是标准严谨不严谨的问题，每个章节要求不同，考核的对象不一样，一个条款就能完成所有的判断，那就不用整个几十页的标准了，一条标准就行了。

同意楼上说的，标准的意思应该不是说器具满足了第八章，就不需要满足了后面的章节了。因为，对于不同的章节，考核和判定的侧重点不一样。

xuexizhong · 发表于 2011-5-16 20:50

顶 14楼

ko_god · 发表于 2011-5-17 10:03

4706.1里面没有指明

reddrogne · 发表于 2011-5-20 22:31

8.1.1试验指与带电部件之间需要满足加强绝缘(2类)或基本绝缘(1类)的电气间隙和爬电距离的要求。与8.2并不矛盾. 8.1.2和8.1.3则没有距离的要求.

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