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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :
7 n' e1 n& Z4 B, M+ S3 f# E我认为标准在这点上是严谨的。
, P9 m. p: O. Z5 i, X一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
2 C* s) a7 J/ J: I9 f0 e. ~+ d二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
* c0 o% D1 k' `! }4 n! Y& h三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。
3 W2 [2 e# j* @7 g7 {* F四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
j: O7 c, [% f# L6 n3 O2 _.......
# n1 M1 {, M/ R9 G- t- Y# N9 _
第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? 2 C: z0 ~4 Z: c1 ]$ w+ X( ?: n
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?: ~8 [8 u& _ g8 W7 n' g
( d5 I) t5 @& @8 M3 O' \比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了. , p* G2 W s7 {" Z+ T7 c
这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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