|
|
引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :, ~0 Z6 F* o/ |3 s" y5 V
我认为标准在这点上是严谨的。$ L+ u0 H1 s! K0 I3 f V. ~9 s
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。" o. w7 W- V9 z: V! H0 d4 d
二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。' o# M$ F5 l7 H- |1 S9 e$ V$ e' Q
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。1 ~. T$ m/ V: b5 D9 a
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
3 C, p' o" |3 n( K1 F....... S: k3 K7 Y9 x% @" u/ D' P; O
L- c; u3 [ M6 F; I' F
第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL?
( x9 f6 P% K" _. r$ S爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?0 ~4 }% u) [: c8 T b
, ~" ?& p, w) z- T9 g5 w; W# G
比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了. 5 p/ @/ }2 _. C. D& Q& i# {7 W2 U
这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
|