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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :
3 K1 p3 P) L3 d2 ?4 ?, j ]我认为标准在这点上是严谨的。
( ~2 r/ ~. U4 F+ W( Y一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。3 J0 ~2 C# v) U# n i. c* {
二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
' }/ y- {& S6 p3 z5 E6 w, t& G三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。; t( b0 M2 D) z9 t" L3 ^
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
# X- {& w$ U! T4 n....... & Y5 m* n" G q! _( }0 C
1 T4 h* ^$ j- @( ^6 q5 |第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL?
& J! c( \+ ?& D) j6 [爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?9 N' }# s4 f' j- \9 J% {7 m
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比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
6 [+ ?6 _- L; J" J这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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