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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :' Y, W8 A% l4 I" s: ^/ N# _4 ~, |% l2 I
我认为标准在这点上是严谨的。1 C9 ?( v$ D! w3 `, ~6 {
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。/ Q' s: d0 m4 X7 j* D
二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。7 n! r$ s4 M) P+ {
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。
+ h- Z' q" v, k3 y; a" I4 E0 t四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
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第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? ( c4 n6 @9 K! \% d$ N4 L7 A
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?# a) m4 L, }: q3 V7 L
5 R3 u0 R+ ` i2 Y$ o5 q比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
9 d7 A) G) v8 k1 n- M这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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