|
|
引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :& o! ?; r5 {# _* x
我认为标准在这点上是严谨的。: F9 m2 J1 W3 u8 G
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
+ l( b! c4 {0 L6 S! O二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。# X8 [; c+ @8 Q6 ?: y& f. X
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。: P% P- H# `5 e; R3 g& P
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。: W7 `. P+ S; w, a: V/ P ^2 w
....... . Q% x" r) `+ M L t5 h3 w
* ?' M* Z1 Y1 _ z6 V0 ]
第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? 9 K# z6 d/ `6 y" }) ^0 W; ]
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?
) D# _8 L+ }9 C8 z8 T5 t, K6 }3 ? H5 O
比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了. 0 z b1 s4 O1 t( K9 n5 I
这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
|