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BS上的PTI和CTI：3 V6 y: \+ `8 A
对比电弧径迹指数值（CTI）和耐漏电起痕指纹值（PTI）的测定
3 w- |7 A5 h. }+ E4 K# u5 _* _依据BS 5901测定CTI和PTI。
# }) i4 K0 [* W1 _- U$ y为达到此标准的目的，以下适用：0 s: [+ f0 N1 A1 D4 r' k
a）BS 5901的条款3，测试件：, D* ]5 \* X, \1 E
—第一段的最后一句不适用；
9 s0 v/ G3 t8 ?( q9 B# ?/ a —注2和注3同样适用于PTI；
& x3 K& i0 ?, q. J- `2 U4 q9 q4 e —如果由于PT系统的尺寸过小而不包括表面15mm×15mm，则应使用同样的制造程序制作测试件。
) _( z& f) S6 H8 z% V5 O! hb)可使用BS5091中分条款5.4描叙的测试方法“A”；
% f F( H/ \! v( P0 ]- Hc）在条款6中，测定CTI或PTI的方法：
5 [! Y M, B/ E- D —依据BS 5901的分条款6.2测定CTI；& D# a0 K* ^ ^' K! g
—BS 5901中分条款6.3的耐漏电起痕试验在5个样品上进行。其电压基于相应的爬电距离、材料级别、污染等级和生产商声明的额定电压。 |
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发表于 2009-4-28 18:48
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