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BS上的PTI和CTI:
% _1 b) O( O% k* }9 v" Q8 h7 m& [对比电弧径迹指数值(CTI)和耐漏电起痕指纹值(PTI)的测定4 i# P& {/ ]7 Q
依据BS 5901测定CTI和PTI。
1 B3 y1 V; j7 f7 v/ }为达到此标准的目的,以下适用:# {; f( E+ S& U* X6 u" g! y5 a
a)BS 5901的条款3,测试件:
4 D6 e% T4 Z. `4 [2 w6 w- A —第一段的最后一句不适用;
; r6 q3 R. `$ R3 A% ]7 y —注2和注3同样适用于PTI;
% V4 v5 z, G! D0 n9 C: t* R —如果由于PT系统的尺寸过小而不包括表面15mm×15mm,则应使用同样的制造程序制作测试件。
. s$ `+ q) e, P6 F: u/ P( Sb)可使用BS5091中分条款5.4描叙的测试方法“A”;" U1 E+ P. N' T; ?! y, R
c)在条款6中,测定CTI或PTI的方法:7 A2 x+ {3 o! u
—依据BS 5901的分条款6.2测定CTI;; D& U" Z* u6 w2 s
—BS 5901中分条款6.3的耐漏电起痕试验在5个样品上进行。其电压基于相应的爬电距离、材料级别、污染等级和生产商声明的额定电压。 |
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