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BS上的PTI和CTI:
4 U% u# y- Y2 [3 c2 s/ m; i$ J对比电弧径迹指数值(CTI)和耐漏电起痕指纹值(PTI)的测定
- L) V- S$ \( S; Z- u; s依据BS 5901测定CTI和PTI。
0 o9 M* D0 A! u+ e. o% y为达到此标准的目的,以下适用:% d7 w7 n: l7 a( A8 N" W5 Y, @
a)BS 5901的条款3,测试件:$ E3 g* K' a% v7 x& m6 {; w
—第一段的最后一句不适用;
6 b- A" P3 ]9 d8 _ —注2和注3同样适用于PTI;
( Q; H* L# _$ R- _# s" s( G& V —如果由于PT系统的尺寸过小而不包括表面15mm×15mm,则应使用同样的制造程序制作测试件。
1 M8 G# o- d2 F% B+ {3 W0 Fb)可使用BS5091中分条款5.4描叙的测试方法“A”;. A! D$ Z1 G3 i$ a" L2 L% H
c)在条款6中,测定CTI或PTI的方法:
2 J8 |, x# i5 K3 @4 E" v4 @ —依据BS 5901的分条款6.2测定CTI;5 t1 e* g9 M$ i( a5 @" `
—BS 5901中分条款6.3的耐漏电起痕试验在5个样品上进行。其电压基于相应的爬电距离、材料级别、污染等级和生产商声明的额定电压。 |
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