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BS上的PTI和CTI:
0 c- T# C0 n+ P( T对比电弧径迹指数值(CTI)和耐漏电起痕指纹值(PTI)的测定
) u% m% z" t6 G g" o8 b3 Q' O依据BS 5901测定CTI和PTI。. V2 o! G" |8 _6 ?0 M% a) } p
为达到此标准的目的,以下适用:2 D/ ^7 `8 E2 h7 e+ J, D4 Y5 Z. Z
a)BS 5901的条款3,测试件:
: o l' _( _, j5 J/ \ —第一段的最后一句不适用;
2 a+ N" V( e1 h, _3 s+ ^, R, K —注2和注3同样适用于PTI;
, p; ]7 f/ X' k3 N6 e —如果由于PT系统的尺寸过小而不包括表面15mm×15mm,则应使用同样的制造程序制作测试件。
8 W3 W* N. e% ~" Tb)可使用BS5091中分条款5.4描叙的测试方法“A”;4 [( S; C( T5 h- t! o
c)在条款6中,测定CTI或PTI的方法:5 H1 C% K$ d n5 u
—依据BS 5901的分条款6.2测定CTI;; c1 V( l+ z( P9 e4 H' W3 q' i0 y
—BS 5901中分条款6.3的耐漏电起痕试验在5个样品上进行。其电压基于相应的爬电距离、材料级别、污染等级和生产商声明的额定电压。 |
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