温度测试时是否一定要在光耦上布点？

junpi · 发表于 2009-2-15 01:18

光藕的温度在正常温度测试时是肯定要衡量的,因为起本身是个反馈元件,对电路起保护,如果问题过高会发生故障
至于异常情况,如果是做电源类(IEC60950)标准,则需要衡量其温度,如果是音视频类产品,则一般不需要衡量其异常情况温度,如果是家电类产品,异常情况也不需要考虑其温度

Alexsong · 发表于 2009-2-16 10:34

光藕是属于安规元件, 其在正常条件和故障条件下的温升值都需要判定, 有CTL决议可以证明. 你可以在IECEE网站上找到此决议文件"DSH_560(Temperature limits of optoelectronic divies used for sepatration)"

wwwabcd · 发表于 2009-2-18 14:20

一般来说，温度不高，参考而已

jimmy_liang · 发表于 2009-3-11 11:32

做Abnormal test 时，比如overload Opto-coupler open,,
也是用100度来卡吗》？？
请教高手，，，

bruce1982 · 发表于 2009-4-12 00:04

正常的时候一般限制为100或者110度，具体看VDE的证书，在异常的时候温度限制值按照异常的限制值来看，一般为150度或者125度，VDE证书里也会有的。

martin_chiu · 发表于 2009-4-14 13:00

光耦合在normal and abnormal 的情況下, 皆應考量溫升限制, 因此, 皆要量測,
限制值的方面, 若符合IEC 60747-5 認證, 限制值應為100度C

elvis0712 · 发表于 2009-4-15 17:29

引用第14楼bruce1982于2009-04-12 00:04发表的 :
5 A! H0 e) \, z) [4 V: V正常的时候一般限制为100或者110度，具体看VDE的证书，在异常的时候温度限制值按照异常的限制值来看，一般为150度或者125度，VDE证书里也会有的。

這個說法跟我目前做法是一樣的，我認同這個說法

baggioj · 发表于 2009-4-15 17:36

电源做的少，一般gs好像没写过，等下我发个光耦的原理图来，大家好好讨论下

lao_xia · 发表于 2009-4-15 17:51

引用第3楼demon_life于2009-02-13 12:50发表的 :
. I$ i+ g5 i2 p; e" y是电源产品。; R! {8 C/ B5 Z" o" _6 L! i

; s. K$ o. @, y/ E/ I+ |因为我的产品光耦温度比较高，如果测试，有可能会超出要求，所以想知道这个布点是不是在标准里面有一定的要求。

這是一定要做的，它是加強或雙重絕緣的元件！你的溫升不過就要想辦法改呀，即使你用錢去拿到CB但是去轉証就過不了啦！

lao_xia · 发表于 2009-4-15 17:56

引用第14楼bruce1982于2009-04-12 00:04发表的 :/ L& Z+ J. ~! g6 X4 o
正常的时候一般限制为100或者110度，具体看VDE的证书，在异常的时候温度限制值按照异常的限制值来看，一般为150度或者125度，VDE证书里也会有的。

對於UL他們只是認可無論在正常或故障條件下光耦的溫度不超過100度。

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