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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :2 [) U% q: R0 N' ?9 A& n
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :' d/ j) U* M; k! W7 J- v
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
+ [+ u; A/ o( T的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :4 x  w: x, r! ~# Y- c" \
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
( |7 L* Z- o1 O" o的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

! j7 F* u' D: `9 N- A你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
" k( B! L) ?" S! D5 Y; e( T  i1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值3 t; X$ B$ W) \+ w  n
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,8 A0 w) V9 z! a$ W
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.$ b  A$ H8 l) a0 N8 ~1 ]* S
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.( M; `1 c+ D* }! Z1 p) v: O
....... e0 G! O9 ?# E
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
4 X- l) \* p. F" |' O5 W9 w这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
2 B, g1 {( J: J6 X" T非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
% w0 Y9 Y  x. U8 K6 B% C. N5 x% r3 K8 P$ G* [- f2 E
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
) R% v  }% W- v: ?+ c" n" @
, g0 Z0 q+ T# y$ y7 C* }# \
1 _3 z( o& M# G0 v0 W/ @你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
# b: D7 ~4 n) ?5 A* x1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值) r. y! |( }, Y/ l" g: I) h
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
) _* w( R4 R+ x  M, ~, }.......
6 T- K+ L* n+ z, t
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
/ ]6 J& `+ y' m, H/ k2 M" @而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。6 C* U, Z. c* d

" @2 i) a. G0 }! n' `# u总电阻为原电阻的0.8倍。
! M+ Z3 v& w; d) }; p' H( l3 R. v3 @  z6 |  U) |
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。  F) W" y& s8 j' p! m8 o# X
+ R. Y* u* K7 Z% h
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
$ O) ^! }+ ]* p  t* W9 Y0 \+ K请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :- v( T& ^0 {0 g5 |; v+ |9 g
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。
; N- y2 p, b8 F% d( @  r  R( h  谢谢!
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