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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :& B( J4 c2 q$ R3 Q
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
/ h9 @5 B3 M* [  |0 J* P一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
5 e. o7 \- d; y0 y, R7 c的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :! J! F+ h" N0 t5 Z# n
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
4 i$ h7 |$ u& q. A0 J: E的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
; k' S% q) @3 t: G8 J
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
% o4 u& l+ E1 {) q2 d' t1 P1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值: \6 O) J0 k0 K: ?4 n0 T2 D
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,7 `9 Y& }* ?! G
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
$ m# x  X3 C9 R# O( U- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
: i: b* F. p) g/ L$ l$ W....... Y  f. e& ~4 ^8 \% Q
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。2 R# `! E6 k: W' E# N
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.) @+ h  i; [: j5 F, U; x
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
% M( V- `' Y  o* q
* g, [' Z& ~9 U( n1 i  N6 Q3 z2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
, o0 F# ?( A  |, b/ L& ~0 y
! r2 P) _3 c  f, y
. r% E* R- L# C) }8 Q* u% ^8 A1 o' p你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了), G5 R  \+ ~; r
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
: g% @8 Z: n1 d: }; q- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
, R1 ]  `' k0 B! T; o) c0 A' S2 G" U% v.......
& p! r6 }' t8 d, ~
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
8 l( O3 b$ l8 U% p. a+ P" O而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。' B$ ~7 Z) ^0 n: i) S4 L! _3 Z& B
9 ?6 Y2 I" v: t1 X
总电阻为原电阻的0.8倍。
5 z2 F! F+ l4 M, |5 y5 B
  q  c7 I/ ]0 I5 S$ n$ G# P7 T耐压上,串联并不能保证并联的耐压。/ H5 Q2 S# S: s& q
( p7 J& s6 [& R7 Z+ O( ]
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??7 H9 v% v# d  z
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :! I! o: j  n+ C4 C6 s- ?# o3 ^; t
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。! I; z, w) i. j, {3 H0 ?
  谢谢!
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