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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :4 Y, e/ S+ j4 ]# m4 O6 J
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :# z9 R: X! i+ c
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障. V* h4 M& c" K( U! x2 L( m
的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :6 N8 N$ q: x' [- m6 e- X' r+ P
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
8 m8 l3 h  g3 Y* K9 ]# b8 M  i" Z的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

1 t4 G- v. H* |( z你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)1 f6 I  Q% s6 q9 U$ B0 K+ b
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值- p6 y7 _1 U& _, q0 O, f" |% w
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
$ y$ V9 O7 r- c( S' C5 K. U- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.9 ~) n" x, T5 V: k3 B0 Z( h! {
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
$ G/ j- q6 v/ o. D$ |- B: v......
* B2 n9 S$ J* m# t1 q) p后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。4 ?3 Z: P, N$ v! v
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.! L7 ~7 u; x9 d4 Y5 s' W& M
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.8 y7 ]/ S" V. D+ Z

, J$ H& p+ a$ \' u" u2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :" T: [* {' C. C9 y
, F1 e- T# n6 I- C7 l

! j& H: F( z. j; J% j你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)* N! U7 p! @5 X& [: b  }; H9 u
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
, M6 R" S0 X" j4 J! I- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,# N% F4 m2 s; o$ S8 @' L
.......

: c3 |0 Y, Y8 G! L请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。5 ~3 m( h9 i7 v, {! g
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
$ I) ]$ r" k6 E4 |- b! C2 \( d2 y; L( B0 P
总电阻为原电阻的0.8倍。8 e; M1 M7 G* J5 [' ^$ r9 l3 ]$ t
: p/ M( d% v5 N8 ~# g! i2 ?! o
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
8 E7 F$ V2 ?" {$ M+ P9 ]8 C& w
0 _( A4 s8 I+ V+ ^! E另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
  \# C: @* t+ x9 n1 ?请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
. Y% M* K; R5 M2 A( h- W/ H( x两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。5 m0 A9 G2 o0 a: k0 y5 f) l7 O
  谢谢!
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