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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :; p) v$ O+ R+ D) l, V1 _& h
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :! q) P$ g' m/ q4 ~4 ~/ G
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
/ q6 b1 k% i! b) X+ u的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
$ \# M# e2 |8 l9 |: c一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
/ L" j: k  T/ X* Y& s8 |; X& Y的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

; w- f0 j& \  V% d3 c2 d0 P你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
$ M/ v5 {+ l8 y! D! x6 E1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
5 y  t* W9 d/ e) K. q# I- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,# s. _7 j$ I7 E( P) Y* t  V: S
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
& B" f" r0 u) w7 Y7 G3 t- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.* x- B6 Y  z# W: A# E6 y
......2 d; k# P/ t9 ?' U
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。3 ~: c% @- l* Q2 a, p9 m" b3 f# X5 i  B
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
$ ~- m+ R* m5 o7 [! g$ Z3 ^非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.& ^2 }  Z3 W& C8 Y
* J- d9 T0 v) a6 s$ t7 x
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :% h2 n( h2 Q* r  Z

% o+ I5 ?) M* s  G9 ]3 ?9 a& `. Y
! `" ^6 E1 G& Q' `3 u3 ^你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
' E1 F2 @! ~3 P/ S, v9 K1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值6 }3 a0 ~! j. J  X% q
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
, n3 E/ e. p& U% K. D/ {.......

) Y# e0 N9 [, o) N, w2 k请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
' y. J9 L! F1 M4 A/ e1 V而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
: D( a( ~2 g9 H1 A  {3 o; u+ \
3 _3 `9 ~4 F1 R/ X/ [总电阻为原电阻的0.8倍。8 N0 v7 F( a6 t/ A% |; U9 H3 A
, n& j9 V. l1 z: `+ g& `  n3 y  E
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。4 o% x. E7 ~' o1 t$ Y' O# ^
. b  Y* [8 _7 K- D7 v
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
' `, @) J; N; [( L" W请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :" \9 ?  W( ^; j; x7 \5 J( n
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。' X3 r9 V& D, e% I2 o0 g- [) g" z
  谢谢!
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