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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :" E9 R/ f$ ?: z; e
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :( z$ s3 [3 ?% G4 p" c
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障8 ~8 Q  k5 s! [+ K; u- s
的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
1 U  O; A; [3 l! [一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
/ u9 n) y1 l/ W; q的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

6 Q1 B) @# r0 \, I, _你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
; R4 I/ T5 S1 B4 Q1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值% w; U0 T; ?) s, E% U& Q2 x
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
/ |! w( |3 V( K7 r9 k- e3 g- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.+ [! n8 P) f, {) ]( _. \
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
& t' G; `+ _$ K* \3 D$ g......
$ Y; a' C0 g$ y. Q2 c后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
  h* p5 W9 d: s% ]. l8 M7 G' r& u这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.$ E/ D7 G+ A& _5 |3 u
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
( C' Y5 v8 d9 _' b& ^" I2 K7 ?( r1 K! N9 V) ^7 Y
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
% q) s' @( Y" b& a# H$ y5 J  Q/ J7 H" {  h) P$ d/ O! o

) c% e. n& h/ o) E你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
; S+ s4 P: G! b" Y4 |) p/ J% X1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
' ]) m3 a. q$ Q+ u4 e5 u- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
2 x2 e7 b+ j6 X5 V  U.......

3 X: a( h# f( k8 X请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
& b+ Y2 h; D1 k( U而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
/ n/ X1 y8 b8 P6 e2 F4 Q" b3 k# R
' A) }4 `" @# B) N! F6 K总电阻为原电阻的0.8倍。
5 W8 r1 E1 X, O$ m+ E8 ^2 Y% {# u1 F! P7 n3 n/ h3 R; v
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
: g) a( M) A4 S* A% Y. N; F$ {7 I3 t
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??3 V$ j; [4 s& y5 j. H; \& ~7 E  F2 l
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
* t4 o: H  _$ `; Z6 k: Z+ x5 M两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。( [: e4 e3 m% }
  谢谢!
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