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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
9 x' `& M7 J6 i# T+ q) ?. d没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
- m  a: ~1 P0 c0 m2 d8 }' E一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障1 ~* P3 n" g. a4 K2 Z, v, R9 D
的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
$ w) t, r+ @* a2 a  j一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
1 W3 ]4 e9 D# d* |8 a8 g5 n的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
+ p% N; q3 {0 I6 v" P7 M! `
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
1 P1 {: R# T+ d5 U& n+ ^1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值/ _) l" @! ]+ C5 T
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
1 D3 Q  q3 U3 `% S- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
; [# A$ M5 q5 N  p- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.) T' I% k! U+ j6 T
......
6 c$ Y6 a) N- e5 M! M* O- H后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
  [+ M/ y$ X4 h$ F9 S5 @这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.6 Y0 ]' A" {6 f* d  [/ F" Y
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.$ P6 C8 B9 \" v6 D; a5 B' H- d

& }# _0 d6 T5 }$ H2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :  B2 X" f9 q4 R8 s/ E8 O% n% a! z
' w# o: g0 I4 d# q6 P( i5 |
8 {4 f. p1 T+ P! p
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)  l% a" F3 |7 @3 C$ |9 p7 Z% G
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
7 v) `$ f, N% u( ~3 r( i1 \% ?- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
# @; Z; N2 C9 R1 ^/ q.......

& t2 ]9 b9 _: d) b请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。; t6 D6 q6 u7 J% E* B6 m7 W3 r
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
2 Y7 B* C5 k0 {; r
( J# e) i0 ^1 T$ C* k+ Y) w4 D8 p) H总电阻为原电阻的0.8倍。$ A# f7 x. |: ^6 h
8 H" V' x) p/ m8 L" \, n
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。* z3 l) i% H; [" R9 e& m
1 K; I9 @* ?) q8 v* ?
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??  O% g& K  `5 q
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
7 K$ {& J7 T+ L$ S  k, T两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。% b1 X% B0 e" K; c; E1 _
  谢谢!
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