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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :# E  x" W# c( N% P
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :" u8 l9 \+ Q8 D
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
0 ~) \( n/ ?! }4 S" q的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :# v" M9 Y  d9 w& P  ?$ d  }, b! d$ `
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
* I' o; Q3 l: R8 U1 L  Q/ D的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

- \9 D0 D* l1 x4 O) I9 i你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)& ?! u3 U+ R" Q5 I: Q# _
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
4 r& G- g& b. B/ i9 _  e8 \6 e0 t- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,( P& b- f1 F3 Y# R* ^
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.$ ^, s' ?' M+ i& }" _4 H
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
$ I! @$ ~/ X* G' h/ g) \9 u......- L( s! X0 u5 g' W9 B, y! P
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
8 c1 V8 J, a# u4 ]) Z这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.( m% i& R- D  Q1 z; N
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
$ S6 d7 G6 n; K" N! u  G9 C  _0 `- A: F4 d) [7 f2 m" c; V& `
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
6 |2 u4 R: z1 O
% E) G/ d8 P0 W9 ~+ I9 S0 Y( o6 D% P! c$ h; x0 V
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
9 x+ g) q, ~% h/ r  A! o1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值" y  E* \1 C! p6 B% q: z4 E8 Y
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,) x* X- e  ~: o' Y0 u& r1 m
.......

3 M: n- R; q8 n( w: }0 @9 a请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
- H! n- T2 A4 T1 m# z6 b; n3 e' w而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。9 w% _# u  p9 a( C1 P- H7 C

' C( p. R' o3 ]( Z; x: t- V1 f总电阻为原电阻的0.8倍。& ~1 v% M& K6 p/ Y- T3 H

2 n* H6 b# |6 P( M耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
. P6 g# u" y+ f( t. E
1 K0 Q8 X! L8 Y/ X& |; \另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
* l& D0 x( i" l/ |请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
9 G+ Y9 s( D- W4 |) K. U两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。9 @8 B# W/ W* r. y" N
  谢谢!
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