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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
3 s; v: Y$ R2 r" m没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
; O! G6 S1 N( m% n7 t! P6 D一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
, V2 q# E" D) E/ K的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
! ?- T! v8 Y$ n* p1 Q: L$ k一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障( S# i  e! k, k
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
# r  Z6 r. a# Z$ D. O: x0 V4 {$ \, u' g: S
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了); H! Z" |% X7 A# y
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
2 e! L+ A. m. \, m- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
8 [7 ~( H" b1 V$ j, I2 z- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.8 m0 |, X( Z4 K; h5 D- T9 @
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
, X7 H1 G# J) ?0 o......# `& ?4 y+ N5 `# q9 G. O
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。% N4 D$ L; W8 S. o1 I0 h" s
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
* v/ T" O4 j4 R非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
! I' H, ~; A* m7 k0 z1 \5 T
# W. e- ~0 _6 z2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
$ t9 o0 l8 c$ x2 o- e
4 Q+ s: c  k+ Z3 R2 z1 Q% i4 y, T. _# }, N, T8 t! x
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
6 h, w/ b5 R0 K# b1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值7 V  {7 L7 `" c# [
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,+ w5 k) g' L" a
.......
, h3 P+ d5 _# p2 i7 L) a9 g  Y
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
4 x" W: a6 J/ E9 K而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。$ N& r$ [" J9 @/ h2 y

% b, n6 f" M# I) v% ^' ]总电阻为原电阻的0.8倍。' f( ^$ F) }, `: {* I) ^

' S; U* k$ r' T: v* T( Y* R$ C耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
2 Z+ u3 [1 J3 K5 ~# ]- M' }8 ~, b3 `: @
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??: t$ X, `) F: V# E8 w; q$ \
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :/ \9 s; E. b/ Y1 _/ l
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。: f+ M8 V" h0 A0 |! u5 j2 m- K1 D5 \$ i
  谢谢!
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