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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
% v# W$ ~- a1 C  _3 m没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :3 W  c: F6 B. k
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
7 c5 V* b5 m, G& V, i& W$ W的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
0 H8 Q4 |% A( d& k一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障! H: k& v$ p# n: [. r( ]" W
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

( }. v6 v  e7 J  c7 S# e1 h1 {你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)- S* N( n! W8 G1 t# o% L9 U, s3 E" B
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值! b4 }( l6 o* D% r
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,5 v$ ?5 b8 n, l, h% G4 f$ ]
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.2 a1 q1 X/ s8 Z! \
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.% ~' [. o& W* ]2 T. `3 H
......
, i4 v9 i7 {  m" E后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
  ]: e  P4 `* i3 ]) \0 F- P这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
8 ?, |2 f9 F' q' Z1 o非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.5 D* k5 U8 B2 `

# {# r+ E7 ~9 ~% `8 b5 n3 O2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
0 j+ v0 R0 p  V  ~* j8 Q3 @  Q3 m$ ^
7 G; ]7 V; r8 H/ f* v5 g
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了). B1 v" d1 g9 H" z3 @
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值' f; m+ s/ N. o7 X. v; o$ D
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
3 b8 ?+ }# x3 t' E+ p, g.......

8 A: w* ^6 o, A  H# W$ y" W请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。& p) p9 ?' v, H) l1 e
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。. [: ?0 |) T9 O

! t* |1 `2 t2 L) g3 O& \总电阻为原电阻的0.8倍。/ Y# l& X- T. H) R) U6 \# E
3 [9 `4 e2 o  A, y4 B7 R
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。& G9 r* r; J0 b# Y! T
* d, `( O% ~- |* c/ P
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
& s' c/ g0 ^3 g7 X; o+ V请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :3 x' A5 `3 Q& F
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。8 Y2 G# n5 c, y3 _1 Q$ Q
  谢谢!
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