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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :/ e# ?9 t* J! o1 ?& B- e: A6 r
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
, c9 K5 L& t3 r9 b1 ^一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障8 P7 r1 l8 B+ ]+ ]9 n$ g
的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
2 K# k$ t7 `) j一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障$ {6 v3 L: K1 |$ L# e" F
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

- O( y+ k* a8 N* X你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)6 b! s2 f! C& V2 x& Z9 w3 ^
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值- a8 e+ m7 n9 l! O1 e9 I
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
8 B% o5 h" ~; T1 @# T% i- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
3 z  K& W+ C! i; d# ?- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
% p% }. e1 @( Q1 T, |......% v. Z! b0 K, q' S! B" n! T8 A" V$ T
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。% e2 B4 E5 h& e0 J) C5 T
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.+ b/ B$ U0 D' a8 q3 h  d
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.( J+ a9 S8 Z/ z$ v1 p9 F3 \$ G

) D! O+ e. X* q, h! g! i' h4 {2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :0 }8 ]. j5 s! A

; `" @7 E" v1 M9 U9 `, L% l( w9 W, B. y# n& \$ _/ u1 T$ X
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
% l  j# E; X5 D5 q. k1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值2 x. i7 M; R$ e3 b7 V: |5 m
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
3 R3 J4 m) t" k6 \1 X( n1 p.......

' V6 _- Y3 c! A/ j请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。2 E3 |) B$ i: v( _" P
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。' P* i6 x/ q" J- T* h3 Q$ g6 B& v

9 \9 P+ J1 C1 G. L& s! e" j总电阻为原电阻的0.8倍。) @* ]) C9 m9 u7 m' Y& V

' L( S, H* o! v  y' h耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
; [, I) T& n3 ?2 S6 s; J$ z1 I7 x7 L- H( `
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??' H/ ^; y$ q* H: u9 v5 T9 Z/ F
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
6 B0 H& _$ ^) l& G1 i& ~- z6 L两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。& q1 h" {( N/ i: s/ C2 S
  谢谢!
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