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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :. ~. o" |, g7 I5 {1 U! g* F& B
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :7 {# ?8 u# v+ M5 F
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
) m. \# B6 M' l' h的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
+ B# f( d! q; K$ S一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
# R# d7 Q4 i4 ^: t, [的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
1 z% u: I9 ?: m8 N* x* n3 Z6 q
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)6 g1 r: q9 z# j9 V" f2 Q
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值: Q, [* c1 F* x" n2 d- m& C
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,$ n6 r. K" ^# l. }# O
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
, z6 _, @% s* h) i( M- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.& n) B9 d/ h( f/ u" c
......# B8 I3 `6 i  C) T
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。) u6 R2 d0 R' N* p2 S
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
8 I( V- [& I1 D; w+ L非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.8 @5 D5 a3 x0 x4 }0 s! M

2 k, F% c& g  O3 A  E9 \1 H2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
5 M; M0 R4 d: Z  ?8 X. h  @/ f5 A" `3 B1 k! d) h
4 X3 r4 q' ]8 S$ n/ ?
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)$ @% Y' G  y9 J$ a+ m& w+ G  d- M
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
" s7 j% I: Q6 x# H5 Z9 z- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
$ M5 l  D: Z& p% Z$ L.......

- G- c* d6 y+ J请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。0 |  E( [. P7 h! K: Z' V
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
' x) T: K: K9 `" R6 k9 s8 d$ m* _+ n" b5 Z& Q  w! F
总电阻为原电阻的0.8倍。
& a3 Y$ i& V& o- d( r# ~
+ H' w' E3 f% G& \7 @耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
* a5 }/ t4 T5 r. T2 J$ Q8 e2 i( K# h6 o+ \) l; m. x6 U( W
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
% _' X+ a0 P8 f* x, T! m请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
& B3 E+ T5 \6 s( |9 ?3 K8 y两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。$ C* x; U( h$ c' A7 |+ t% G1 s
  谢谢!
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