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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
, f( I) D& H8 }0 \2 e1 r" t7 c7 |没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :  G) `$ K2 F/ @; e8 O: Q
一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
$ S& `! Z+ i- Q2 Z: }- V" U的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
7 a5 a2 U1 r% U  t一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障3 N2 |- f" L9 U
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

. N  P6 J& |2 C. J你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了); b' D! L8 u) a2 g' F4 j
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值$ y3 `- O& ]" @* B$ J9 o
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
3 x9 ^0 ]- K3 F% k- t- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.
$ N. O% W+ X6 H" e- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
( [: L: d8 G' {& @......- N; E) u" J- v1 n7 D5 u! a
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。8 {; g9 Q2 t* f+ t! }  r5 P
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.( O0 D, A& b2 N& D# ?8 s% w
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.
4 Z8 l; [3 [% }7 o
2 X7 F0 p7 n+ K% R' n2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :% F9 h& k) H! w, d9 k( P' q
# I/ I9 }6 C" D# i9 z! P

" }$ @+ V! N# k. t& \2 H你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
5 e% s1 h( c" C4 W! c1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值, m' _) K& U: d' ?0 t& J2 n4 \2 d
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,( ^: e  a  D; T3 o8 W
.......
. `) w' A5 M! n8 {/ C
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。- K# _7 n# ^$ g! H1 s
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。: _# ?! _6 h7 j0 k6 e, D

! M" K# y' A2 V* `6 F. z* P5 S总电阻为原电阻的0.8倍。
" q& J- P- _$ K1 e
2 B, t2 @; Y% S' f) N耐压上,串联并不能保证并联的耐压。. L; d; e" e- \$ k( U- M
/ [3 j0 ^# l8 h6 V  Q; P& z. X; {
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
7 n* X8 H% N- X请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :1 @/ T+ m$ `. N4 H
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。
9 _+ i! Z$ z- M6 W  谢谢!
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