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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :% v% W) V: n) ]4 X  i  D
没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
1 R2 A) e. I. D$ B" I7 ~5 l& N一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
8 m* D6 [. ?  W; {1 B0 v的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
8 J' ?7 p: g6 J, q3 h% L* {一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障  F8 F: ~# j: i5 j9 T
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

- N( t- v+ N2 w, H9 e! n你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
6 N9 S6 C/ a, d9 A2 s" J* U0 _1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值3 J) `" D* d, S* S7 c' x! ?! |+ ^
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,9 T7 I% T& i! \5 j1 L
- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.( O, [) ?2 F6 M7 v" w" d6 s% X
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
9 f/ G: V9 v# B' p; f  D' l......) }! Z$ L" Q" w: E( O) l; C7 d
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。
5 d5 ]; @0 ~" Z, R这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c., C0 n+ F* C+ |2 N  b% }
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.+ g( W" d/ \! [# K9 U: k

5 ?' v2 B0 i4 K: c2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
  W6 L  U& |0 ^  N4 t7 A. @; p( q, F  x
! z1 R+ l! m% m1 A2 g2 I) u5 o' L- ?+ H7 m0 u6 y
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
% \$ D, H* p/ J3 ]1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
  Y& ?2 ?" R- M/ {- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
4 h! \) V2 A: `1 S/ E0 G8 C.......
) V8 j2 d% b6 M; x1 p1 L0 f% v
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
5 q; b2 s( ~/ n8 f! F3 m- F而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。- F1 D( h& `* F: I+ |+ Q

/ S1 g% H: k# f# r/ }总电阻为原电阻的0.8倍。- B+ B1 M- x# {4 y2 y# X9 e! r
+ I, Q4 K0 I$ |0 O0 k( I! u
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。; ^# F$ a) b8 k# p) X6 J* E4 ?- b

& x$ r6 Z9 n7 B1 z. j另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??8 o' A8 f) f9 b0 g1 y
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :
- a8 b$ u2 j! o3 T5 n" ?8 A两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。
/ g5 G2 b2 u6 G9 h7 P  谢谢!
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