|
|
议题1:耐压测试失败2 W7 [$ W* x& N+ v# Z( G, L
0 ?, Q% @ E B: k- g3 h* V6 X耐压测试失败最主要出现在跨接零部件如变压器、光耦、Y电容或是电阻的初次级电路之间,出现这种
X, X/ S$ p! a/ d# p5 d; ?情况下可以用排除法,如先把其它元器件断开,然后找出测试失败的元器件。有时候初次级跨接了Y电容
3 u: w3 c1 f) u, l' c用交流来打耐压可能不过,这时可以换直流(交流峰值)电压来考核。
1 ~1 R6 t$ X3 s" a% C
& R! S4 B Z- i3 ]5 U
3 L/ ]! U% [1 r: `议题2:漏电流测试失败) [ p d7 U5 h8 W+ k9 p1 m
6 m# A. u6 W; e
出现失败的最大可能是跨接的Y电容容值太大; 或是电阻值太小。
* \! v" A7 z5 _, C+ d, t$ }
/ |2 ~9 F' C( ]: n8 N
1 H, S2 q: Z7 H" }+ L' V. T/ C议题3:接地电阻测试失败3 W2 O% R/ e0 ?) J1 q- q3 E) u
有时候像是用作EMC的金属薄片的焊接线太细; 或是protection Bonding的连接出问题;0 {: v% s( W& ?4 n, S! v( l& E2 b, ~
或是金属外壳的漆在连接处没有刮干净。5 I; m% _$ W0 \1 M3 Z3 o* |
4 Q# h8 k2 P0 V& }, Q2 V/ o% P: V
7 C4 P3 @' {$ M8 `: o
议题4:绝缘电阻测试失败5 l g. d* R2 H* ^9 w5 ?7 L! N+ ^
很少碰到该测试不过的情况。8 S3 j2 T' L* ^( M5 D) S
* N" {# B- t' Z- P2 m& d8 w2 [
$ `" t; F' S! n& b [# j X |
|