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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :
0 U9 s# g7 K. V! s8 D! [9 D我认为标准在这点上是严谨的。
" B" c. D5 d6 j; _& R4 o7 a一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
5 _9 t3 p$ j9 b% B, k: j' _二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。& C/ V8 z% W1 _! C0 f1 \
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。' W$ g S& c N3 O! Z6 w: b
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。/ t I8 U; M- M3 a
....... : [5 I6 ^! @, L4 y9 n3 g
$ N# L( f" `. [# h4 o9 A第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? 6 d8 o D" U" S
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?
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1 }% o, h: K! ^& _. ~* g v9 s比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
8 p% T0 C2 C8 g' G4 v3 L; M这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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