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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :
" A0 A8 P) j) _- c我认为标准在这点上是严谨的。: k; s4 e& I! c; X
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
" q! o/ L6 x4 I* C C0 A/ X二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。: E, b V3 z V. \5 o% E
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。+ ?7 _3 X- g3 E8 M ?- B
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
' B- l, t, w& A* T7 G....... & @, j. ^- i1 r1 S
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第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? # I0 X+ [; M W" J# M
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?
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* F1 g) A' l4 @- {. H9 T$ o! p比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
$ h: f- v, E* a; L8 U% I这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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