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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :: y& R' n4 V) b* ~, _( H+ Z& Z6 I
我认为标准在这点上是严谨的。1 c: M$ O: u, f* p7 w3 H9 ~
一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
& X% \* ^7 B0 ? m. o二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
/ }- N! z* q! @1 H9 T/ L三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。2 r. u8 q/ p& U& C* ^: M% B
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
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第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? 5 T. ?# F: U4 B, @7 A) j- |
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?! p7 m% I6 T- V4 U$ C+ I8 u' X# q9 l
' `( Z: d+ U) r, m9 r6 i/ F比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了. 6 O5 T+ Q8 B, \0 f+ @$ k7 A! l% c$ m0 g
这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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