|
|
污染等级:
& |# z& U9 F: @4 U* y& I7 n/ Y3 J微环境决定了对绝缘的污染影响。当考虑大环境时,要考虑微环境。% N5 N: E6 ~2 F' g3 L
应在考虑充分使用罩壳、封装或密封胶的情况下,减小污染对绝缘的影响。当考虑PT-系统或在正常使用中产生的污染的情况下,这些措施可能不是很有效。
z x0 |# @+ Z. d$ P7 X7 c小空气间隙可通过固体颗粒、灰尘和水来充分跨过,因此在微环境下可能出现污染的位置要规定最小空气间隙。1 g% ^3 ^- [4 a2 @; |
注:污染在潮湿的情况下可能导电。污染由污水、烟、金属或可导电的碳灰造成。
. P* z% q+ s1 |* l. y$ ?& }0 k微环境下的污染等级
$ [! s/ o" t- _2 J- j6 b( B$ W) w为了评估爬电距离和空气间隙的目的,确定以下三个污染等级:( E2 G( n# r# {. N5 t) m
—污染等级1
* |1 t, I, |4 R- J0 u6 V无污染或仅存在干燥、不导电的污染。此类污染不产生影响。
" D4 X L6 \, X" t# R1 J—污染等级2/ K, r, Q& b' p$ }( u
除了偶尔产生预期的临时导电外,仅发生不导电的污染。9 v: X2 w4 l8 P/ q8 i* u
—污染等级3
4 k8 k2 u, L' p5 c! f( Z" e5 }发生导电污染或预期中干燥的、不导电污染变成导电性的污染。 |
|