电气强度测试时要不要考核闪络？

yearl · 发表于 2014-9-17 08:06

可乐娃娃发表于 2014-9-16 19:02
% f- [( X3 y8 L. J {6 E8 F请问什么是闪络现象，实际测试中？

个人的通俗理解：击穿是永久的不可恢复的，而闪络是短时的可恢复的。

yxd2008 · 发表于 2014-9-17 09:15

yearl 发表于 2014-9-17 08:06 1 ^! g; Y% D0 v* S
个人的通俗理解：击穿是永久的不可恢复的，而闪络是短时的可恢复的。

这里不应该使用恢复一词。个人认为：击穿是永久性的不可逆现象，而闪络是处于临界性质的可变逆现象。
要考虑闪络现象，这也是测试过程中的一种现象。

可乐娃娃 · 发表于 2014-9-17 10:19

yxd2008 发表于 2014-9-17 09:15
- R9 o: d, I0 N: p这里不应该使用恢复一词。个人认为：击穿是永久性的不可逆现象，而闪络是处于临界性质的可变逆现象。9 a8 T6 s# ~% a7 W4 A$ B
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意思是说闪络是时有时无的，击穿事固定存在，必定会出现的现象吗？

yearl · 发表于 2014-9-17 11:21

可乐娃娃发表于 2014-9-17 10:19 - W2 o: _5 Y. _0 ]3 ?
意思是说闪络是时有时无的，击穿事固定存在，必定会出现的现象吗？

击穿是永久性的不可逆现象(不说不可恢复的了。谢谢yxd2008的纠正)。试验后绝缘层失去绝缘作用（碳化？），撤去施加的电压后，碳化层还能变回原来的绝缘层吗？此时绝缘层可能已经变成导体了。不能再重复进行耐压试验了。
闪络，撤去施加的电压后，闪络消失，再次施加电压，闪络又出现。可重复出现。（也并不总是这样了，有时尖端放电闪络将尖端烧蚀掉，再试验时可能就不再出现闪络了）。

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