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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,$ S9 q( v- f- [4 n, c
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
, |. k$ i7 j7 B8 i8 a
5 m# Y# @+ a7 }5 f2 e
! L0 g  K2 U0 X, e( m2 v$ X- Y/ d& ?! d, w. j- @
18.1 Dielectric voltage-withstand
) j7 \: d& P  O/ Y+ r" E, M18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
0 x! b6 B) p$ |- e( q18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied
" R  T+ s' [6 a# }0 H9 h3 n7 xbetween live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during, N. c% R7 }8 m8 [. V3 s  z
relamping.# b9 h4 `2 y0 ]3 |0 a$ E
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
) {6 f0 ^9 T% |+ G4 Qthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at) W$ X0 g+ Z( i7 {: Z4 i
1.414 times the AC potential denoted above.
1 ~. c/ i2 f+ P% P4 S5 j% }18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
0 b: z6 \+ k% R2 n) ztest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the% G2 t/ w4 T5 u2 [& B
ON position.5 c9 ?4 D- {1 Q0 e( w9 u: d$ s
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or+ o2 s' p; n! p9 I1 G. s# D
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
7 y1 w' `) u: Y( _18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
1 ^& s% e# a* q6 n6 y# Wbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
  b: i& E# Z' ^; t6 R4 `0 Qrearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
( P# K7 M" N* K5 h: O  n: Pretaining the representative dielectric stress on the circuit.
) ~% X( E7 i! l) y" I: Q' H2 R: \% S" O% {- s) {" z) j* K0 v- ~) W1 T
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
8 N! X+ W) a% o不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

, I, G+ o  n9 T& ?7 _+ N哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。3 F3 k" L, R4 {
注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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