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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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发表于 2021-11-29 15:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
5 K) {/ j; I% x9 A! R$ J) C              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)' w( R4 q" b/ ^8 A# H( a' V

& D/ w# L$ |' Y/ v" h7 F& ~4 a9 o
" g) R( i8 B! \2 s" W4 w' K9 F1 [, f0 r5 |+ H% Q
18.1 Dielectric voltage-withstand
: g) C- r9 J" t18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
$ o5 m) i5 `# P, ]5 b18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied
" [. l; M2 t" [9 ]between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
- C$ \& e' a, \& [relamping.6 {- Y- C8 l$ W- v* y$ n
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice& T/ K* ~7 K7 G) f" t% J# K5 Z
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
6 n" m6 B2 @; u" d: V! I  j! J1.414 times the AC potential denoted above." S. X! A+ l, }5 F* _& v
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
- M+ V& c7 |8 J7 @  j4 dtest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the5 X( {$ C9 G; T, d4 H& O& Z
ON position.7 S0 ^# C, M, P7 @/ R
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or( `' Y2 k5 U9 k; \. i
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
, B- R/ P; {$ i3 \, m( @  A  [( U18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can* U. W- Q+ p) i; g$ p; v5 ^" l$ b
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
! a' s, q! ]8 I, c4 m2 x; lrearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while; ]) R+ E7 |6 Y) U; L
retaining the representative dielectric stress on the circuit.
& s6 }  a: G" ^2 C. p( j- E2 m- W8 g
/ S, w5 Y, J- x; H1 Q
发表于 2021-12-3 16:20 | 显示全部楼层
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 显示全部楼层
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20) W, F; x1 o; f# p/ F& Z2 {' W
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
3 H. u6 w1 Q" V+ {" o& ~8 @
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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发表于 2021-12-29 08:14 | 显示全部楼层
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
1 H9 {" i- t; x+ O# v3 W% e注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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发表于 2021-12-29 08:27 | 显示全部楼层
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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发表于 2022-1-4 13:24 | 显示全部楼层
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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发表于 2022-5-12 15:30 | 显示全部楼层
正好需要,学习了
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发表于 2024-10-23 10:16 | 显示全部楼层
学习了,学习了
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