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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
5 a( W& \7 j6 _7 [! Q              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)1 b! a- D" x  Z7 K! F
4 ~4 n' i5 S. s: S
$ a; r! ?5 N& k8 p/ {$ c! s' t
$ u1 t- A* P" F
18.1 Dielectric voltage-withstand
3 H1 m1 p! q, J& p! f: x18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.. N; E- n, J* y- L$ L) O6 }
18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied9 |$ ]# _, l6 K! \/ t4 D
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during4 P9 [- W" N" r9 a5 t. n
relamping.2 B. b7 q7 \* T% K( R2 }
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
4 `+ ^! }% x5 k3 [' uthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
. R$ }4 o' h8 c8 A4 v! a1.414 times the AC potential denoted above.
5 A  h7 R/ }; M' N18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required! ~  F# h% F- X% {+ g7 W! j
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the
3 g9 I% F+ t! u/ R$ mON position.0 ?, ]0 ^4 B+ O( n' p7 v# `
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or7 t# o( D0 M* E. G' f. f* r5 D
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
, e8 k( n; w% h/ S; a18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
! p4 \! _7 ?- `  q* L$ @be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be* l5 x+ R1 H3 T3 H9 R4 X% d
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
2 V0 y$ D' M7 F$ dretaining the representative dielectric stress on the circuit.
" J4 y- @1 `% W, k/ u, e
! B. S9 _! V3 `5 [1 V7 h7 z  D
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
  ~  u/ q* c/ a" o) O& }$ [2 T不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

7 E% {7 |2 F3 F( Y) M5 I哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
) g  B0 [0 Z. {4 Y注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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