关于电介质强度是否合格的依据

wzq_0329 · 发表于 2011-11-29 17:11

GB9706.1中关于电介质强度的判断依据描述为：“试验时不应发生闪络或击穿。如发生轻微的电晕放电，但当试验电压暂时降到必须高于基准电压(U)的较低值时，放电现象停止，且这种放电现象不会引起试验电压的下降，则这种电晕放电可不考虑。”

应该怎样理解？何为闪络或击穿？何为轻微的电晕放电？试验电压“暂时”降到...中，为何是“暂时”？“高于基准电压的较低值”中，“较低值”是多少？

我公司的产品是24V直流马达，客户的设备是医疗床（配套X光使用）。客户使用500V电压一端接马达供电绕组，另一端接马达外壳，当电流大于5mA时就判定我们的马达不合格。这样判断正确吗？如不正确应如何判断？

本人是新手，希望大家多多指点，谢谢！

安老盖 · 发表于 2011-11-29 17:25

击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

jsspace · 发表于 2011-11-29 17:28

引用第1楼安老盖于2011-11-29 17:25发表的 :
6 s$ S% _- [7 }1 [击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

"击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值" 这句话不太同意。
很多测试，比如说3000V击穿了，但是调节到2000V还是可以pass的。

jsspace · 发表于 2011-11-29 17:31

电晕放电 (corona discharge)气体介质在不均匀电场中的局部自持放电。最常见的一种气体放电形式。在曲率半径很小的尖端电极附近，由于局部电场强度超过气体的电离场强，使气体发生电离和激励，因而出现电晕放电引。发生电晕时在电极周围可以看到光亮，并伴有咝咝声。电晕放电可以是相对稳定的放电形式，也可以是不均匀电场间隙击穿过程中的早期发展阶段。

我一般理解成打火，处于微导通状态

往事如烟 · 发表于 2011-11-29 20:08

引用第1楼安老盖于2011-11-29 17:25发表的 :* k, X' |1 K# s, C2 f
击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

这么解释无误。

wzq_0329 · 发表于 2011-11-29 22:03

引用第4楼往事如烟于2011-11-29 20:08发表的 :
; O6 O% F. }* P; M5 D
% C9 Z- ~) Y/ Q- N( t2 I4 l这么解释无误。

所谓“伤害”，是因加电压引起的吗？
会不会有时产品本身是好的，多次测试后导致击穿呢？

远致静宁 · 发表于 2011-11-30 17:02

引用第0楼wzq_0329于2011-11-29 17:11发表的关于电介质强度是否合格的依据 :
3 C% l; j+ ^0 w: }5 t6 z8 U9 B- ]! }6 d; [9 G) ]8 z( b
GB9706.1中关于电介质强度的判断依据描述为：“试验时不应发生闪络或击穿。如发生轻微的电晕放电，但当试验电压暂时降到必须高于基准电压(U)的较低值时，放电现象停止，且这种放电现象不会引起试验电压的下降，则这种电晕放电可不考虑。”
6 D; T# a4 z/ c/ t' k( j! \/ n. W# c9 Y# Y4 D
应该怎样理解？何为闪络或击穿？何为轻微的电晕放电？试验电压“暂时”降到...中，为何是“暂时”？“高于基准电压的较低值”中，“较低值”是多少？
* |) d; c X G, P* F6 o# D N& e% ~ M( L2 I! M' G
.......

闪络：在高电压作用下，气体或液体介质沿绝缘表面发生的破坏性放电。其放电时的电压称为闪络电压。发生闪络后，电极间的电压迅速下降到零或接近于零。闪络通道中的火花或电弧使绝缘表面局部过热造成炭化，损坏表面绝缘.

从你的描述看，电机外壳应该是保护接地的，那么测试的应该是基本绝缘，但是漏电流要求为5mA不太理解，耐压测试对漏电流的限值要求一直很模糊，估计这是检测机构的经验值。

蓝白－白蓝 · 发表于 2011-11-30 21:41

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蓝白－白蓝 · 发表于 2011-11-30 21:46

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cgsh882 · 发表于 2011-12-2 11:47

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