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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :; x) ]" u+ F) f
我认为标准在这点上是严谨的。
0 @6 D7 y3 e9 z8 `$ Y一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。
3 ?( d/ h" g" r6 }1 E# i二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。7 b4 `6 T( X' F+ B
三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。( L4 L6 v, t, n; q( |& Q+ w3 S
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
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0 N% W5 S: K( _" d3 r第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? - f/ K( S2 J9 ]; C; ?
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?) V+ M3 |" S2 E* s5 {/ S
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比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
( Y% u: ]' _" {这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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