测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘

woody05 · 发表于 2011-5-5 16:45

cl 8.1.1和cl. 8.2是否有点矛盾，
cl.8.1.1说测试手指不能碰到live part，
cl.8.2 说测试手指和live part 要满足加强或双重绝缘

cl. 8.1.1的要求更松点，有cl. 8.2在，那么还有什么意义？

极品老工 · 发表于 2011-5-5 17:48

关键是判定开孔是I类孔还是II类结构孔。I类孔指的是碰触到基本绝缘时，试验指的指身是可靠地与接地金属接触，不接触就成II类孔，若碰触到基本绝缘，那就是不合格。

学学安规 · 发表于 2011-5-5 18:13

我觉得没有矛盾呀
8.1.1 针对性的是所有类型的器具
8.2 针对性的是二类器具和二类结构，因为二类器具或者二类结构没有接地，故而要求更高

woody05 · 发表于 2011-5-6 16:19

好，就假定是I类开孔，测试手指的指身与接地金属可靠连接，
测试手指碰不到live part，但是与live part的 Cr. 或 Cl.又不满足B.I.的要求，
这种结构可以接受吗，如果不可接受，是不是就是cl.8.1.1的不严谨？

极品老工 · 发表于 2011-5-6 16:41

确是不够严谨。

lpx0218 · 发表于 2011-5-6 16:47

是的

安规007 · 发表于 2011-5-6 16:49

60950里面也有类似的问题，很纠结。

herryhui · 发表于 2011-5-6 18:09

测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘

-----8.1上讲测试手指不能触到live part，这里无距离要求

－８．２讲的是ＩＩ类器具或ＩＩ结构要求，测试手指不能碰到基本绝缘。

xuexizhong · 发表于 2011-5-7 21:39

我认为标准在这点上是严谨的。
一：8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力，考核开口外壳的强度。
二：Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
三：Cl和Cr考核时是外壳施加力（30N），而不是在作用在手指上。
四：依据IEC 60664（家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定）, 测量Cl和Cr时，假设绝缘表面覆盖金属薄（锡箔纸）。
而不是把测试手指伸到开孔内再测量测试手指与带电体的Cl和Cr，这种方法是不对的吧。应该测量锡箔纸与带电体的Cl和Cr。
五：标准5.3要求测试安章节顺序进行。

leahwan · 发表于 2011-5-7 22:23

从多方面来考虑活动部件

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