安规网

 找回密码
 注册安规
安规论坛 | 仪器设备 | 求职招聘 | 国家标准 公告 | 教程 | 家电 | 灯具 | 环保 | ITAV 签到 充值 在线 打卡 设备 好友| 帖子| 空间| 日志| 相册
IP淋雨机 | 证书查询 | 规范下载 | 资质查询 招聘 | 考试 | 线缆 | 玩具 | 标准 | 综 合 红包 邮箱 打卡 工资 禁言 分享| 记录| 道具| 勋章| 任务
水平垂直燃烧机 | 针焰 | 灼热丝 | 漏电起痕
IP防水防尘设备|拉力机|恒温恒湿|标准试验指
灯头量规|插头量规|静风烤箱|电池设备|球压
万年历 | 距中秋节还有
自2007年5月10日,安规网已运行
IP淋雨设备| 恒温恒湿箱| 拉力机| 医疗检测设备沙特Saber 埃及COI 中东GCC|CoC直接发证机构水平垂直燃烧机|灼热丝|针焰试验机|漏电起痕试验机
灯头量规|试验指|插头插座量规|灯具检测设备耐划痕试验机|可程式恒温恒湿试验箱 | 耦合器设备广东安规-原厂生产-满足标准-审核无忧
查看: 715|回复: 0
打印 上一主题 下一主题

[综合话题] IEC61345

[复制链接]
跳转到指定楼层
楼主
发表于 2010-9-19 14:22 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
NORME( b7 t  g, w9 L. P3 E) ~
INTERNATIONALE
2 W+ t+ D5 ?5 H0 Z+ G4 LCEI
4 w* i9 p% V) uIEC( [- w- m: l  K+ W, N) g
INTERNATIONAL- C+ m7 g. d1 S& t4 u+ I) B( x
STANDARD
5 V" r* _9 ^! O) \# B61345
* n/ m  n1 D4 w; tPremière édition
3 R4 B: _8 N. S! {, y4 ]First edition
- G% D/ h7 N+ e& N1998-02, j. t4 K7 [4 y/ ~
Essai aux rayons ultraviolets
- ^) b$ n* y- C! |" }$ Gdes modules photovoltaïques (PV); @7 ^9 g3 J1 m0 V, r. w
UV test for photovoltaic (PV) modules
3 C1 }1 j+ W" I9 ONuméro de référence$ [) h8 ]8 Z! Y
Reference number
& J9 t) Y* ?: v1 @- X5 J6 x0 eCEI/IEC 61345:19989 X2 o) r6 L3 w, |; R% ~  d
Numéros des publications: U2 c3 `# s" n5 J2 T$ P
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI
& z$ U6 V6 n, S5 q! K6 _2 F  [" t3 Zsont numérotées à partir de 60000.0 M( S; P$ q2 \7 |$ D8 p" W
Publications consolidées
1 R- V4 l. o5 ELes versions consolidées de certaines publications de5 P) d% ]4 Q3 L& C3 E# M% c
la CEI incorporant les amendements sont disponibles." _; S/ P. g% k$ O3 Q; R) A; J
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
; F6 i$ N5 I, d* windiquent respectivement la publication de base, la8 E/ ?# c  Q9 Z- j2 J
publication de base incorporant l’amendement 1, et la; X3 Y& h- N  Z) I  I
publication de base incorporant les amendements 16 R, c! K; M- N, [& z
et 2.- M5 D1 Z/ l8 a  |- s
Validité de la présente publication8 J! A( t( r. E9 k( K/ ^9 ^! w
Le contenu technique des publications de la CEI est
/ D) _9 G5 s& q% lconstamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état5 N( J5 I* _# w9 X/ f# N$ C: T" t
actuel de la technique.
* Q6 G4 y- G0 M! o$ ZDes renseignements relatifs à la date de reconfirmation: R* t. S9 J, x$ Z$ |
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de
- Q& u9 I5 C8 @" D- _la CEI.( L: ^9 H) w! Z, ~  D/ b" r% T
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établissement2 u4 K9 }* \' V% U4 M
des éditions révisées et aux amendements
: s9 ?7 v  l( r+ h- {& opeuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la9 i& W5 A6 q' J, P+ C" A, M/ y
CEI et dans les documents ci-dessous:# t5 f- S) g+ f2 T3 n& f
· Bulletin de la CEI
; c6 ^. f0 P  s· Annuaire de la CEI: a$ O( f# d% j; a& z5 w/ W: Q
Accès en ligne*" x6 g& l0 @* a% Q
· Catalogue des publications de la CEI
* e0 b) }; B) @& S2 qPublié annuellement et mis à jour régulièrement
" }! c2 D  A6 \1 a(Accès en ligne)*
9 s& X  |* |/ h! h& VTerminologie, symboles graphiques4 x( h, L+ R, P- T
et littéraux
/ T  h( j$ k6 o% f3 c# sEn ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur! t. A4 f& T1 K& O! ~9 r( x
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electrotechnique$ Z7 ^1 B# [) R1 U: N
International (VEI).1 o/ d/ U( P- C# m2 \
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et
$ \1 h, k8 e- U  z4 a: Qles signes d'usage général approuvés par la CEI, le
, W$ L8 y2 [1 v5 Llecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
  ?6 U. ^) h2 P% [! B) ~  wutiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles. S2 o4 n' d7 k' Z. L! w+ e4 C
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et6 ]7 F& j% X! l# ]
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:
+ }$ X5 U9 d, H- u+ KSymboles graphiques pour schémas.
) s9 v, D& S( ^9 CPublications de la CEI établies par1 ]8 h& T$ I/ h/ H+ R7 w  t9 G% i
le même comité d'études. ^+ z7 C4 t& _9 U# J
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à
& c4 S, _0 z$ S$ [4 B9 m& m) |) M0 _4 Bla fin de cette publication, qui énumèrent les( j% \) L0 T4 t9 ^# j0 m1 U% G5 @
publications de la CEI préparées par le comité d'études2 j0 w3 M- Z) B! H7 h  T
qui a établi la présente publication." |  l) o: N- k- t  {
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.% J$ Z6 r  i( \5 h, m
Numbering* @) n% b  @6 Z& B/ m
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued, P/ q. \; m  X* n5 S
with a designation in the 60000 series.
- l: u. F" \: H* EConsolidated publications% e' V, g6 l* D
Consolidated versions of some IEC publications7 D7 m; `4 ]* _# D. f& w
including amendments are available. For example,7 D" h7 z3 B/ I) i- v- G* j# s& w0 g
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to) ?9 D$ o; J! _- w
the base publication, the base publication incorporating
; Y0 A" G# r2 R( \2 r  P: ?) vamendment 1 and the base publication incorporating, l; W. E  n7 H; F! z! U8 S1 W
amendments 1 and 2.
* p/ Q/ a1 Q# S5 BValidity of this publication
/ N; R8 X$ S# z5 n2 VThe technical content of IEC publications is kept under$ L& ?' X, x1 X3 P* i
constant review by the IEC, thus ensuring that the; P$ u1 r! |' m0 b2 R
content reflects current technology.6 V) s' n. |3 s8 ^+ P
Information relating to the date of the reconfirmation of
& h( b/ w% ?* }  K/ zthe publication is available in the IEC catalogue.
! }8 h& \, w8 u* S! q' @& x) WInformation on the revision work, the issue of revised
5 S# s) `& f* w) N; K6 geditions and amendments may be obtained from4 P0 ~0 {1 m; K4 P
IEC National Committees and from the following
# Y6 }  n) c9 Q% y. L3 N& DIEC sources:
# v9 F1 ?  A/ `· IEC Bulletin
$ r% |. f" q6 \% ^7 x· IEC Yearbook1 e% D3 F9 v$ w( F$ \
On-line access*8 i& f" d1 i! w) Q% E7 R
· Catalogue of IEC publications  p% N, I+ o2 A5 b4 p
Published yearly with regular updates" e$ P, _1 i+ d( C9 N
(On-line access)*
7 {) X2 q2 g4 ?) q2 mTerminology, graphical and letter5 P+ n& `8 Q- X5 e8 [% \% M8 V
symbols
/ z: P, V/ e/ ^3 X+ I! P  W. H1 j6 ^For general terminology, readers are referred to
. [2 {4 |6 h( |1 ~4 E1 @# b2 jIEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
* S4 }' Y% r( a" x5 t) m(IEV).
' Y9 S8 g$ u* a2 F8 A& P& Y, H8 |For graphical symbols, and letter symbols and signs" j! `3 ]# `1 E* D1 O/ M
approved by the IEC for general use, readers are! }8 L- ]- C/ c6 f6 a* {1 W# e
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
: j. _' h5 G6 b! U6 I- [# w! Xbe used in electrical technology, IEC 60417: Graphical6 W8 {0 ^/ Q: t, G* ~
symbols for use on equipment. Index, survey and* t) y, k, s+ {3 u
compilation of the single sheets and IEC 60617:. {! W! c8 T+ V+ D+ x
Graphical symbols for diagrams.* X5 }# f7 H4 }; w  O" c
IEC publications prepared by the same+ U4 A& ^" N% X
technical committee
+ N( I, G5 P2 U/ E" iThe attention of readers is drawn to the end pages of% \5 Y& F5 Z2 V5 [) q
this publication which list the IEC publications issued& B! v& P5 N, V, v
by the technical committee which has prepared the: v. U& T. d. J; Y# F6 k
present publication.
0 b) U4 R: i. l" i( s* See web site address on title page.% o( Z+ y, t1 q
NORME
5 u# Z% r8 ?* MINTERNATIONALE
  L( k, \, `2 U# E7 OCEI9 j  J5 g: [) ?
IEC+ w: X6 l7 j9 _
INTERNATIONAL+ E5 e$ L& X( ?- f9 }
STANDARD
' K: ?1 V; A  |. V/ p613458 y" Q6 t  F3 I* O1 s3 s' w
Première édition
9 I8 C" s) ]% C# Z& S8 Y2 O  iFirst edition
9 v$ L  W% ?$ o6 X0 l" P$ r# p) R1998-026 H/ [& O1 C+ W" i
Essai aux rayons ultraviolets
% k# \, b& [6 u; G3 rdes modules photovoltaïques (PV)8 N6 ]5 a( R" w/ p4 k4 _) t5 q8 b
UV test for photovoltaic (PV) modules; _; J3 q* L0 k0 c1 J
Commission Electrotechnique Internationale: R0 Y7 m% q5 |" E
International Electrotechnical Commission( _' w9 ~' i. _1 u# g
Pour prix, voir catalogue en vigueur
- Z" t$ v( T$ O' C+ C- hFor price, see current catalogue
7 x) D5 O1 W2 @4 N  J/ x2 RÓ IEC 1998 Droits de reproduction réservés ¾ Copyright - all rights reserved
1 A- r& D" D' s9 kAucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni* G' r7 Z4 t. p. c; N! T
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun( I& J( R! ~$ B& q  T4 V
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
/ E% b) m' _' Z7 get les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
( u- y0 a' x* _No part of this publication may be reproduced or utilized in! P# h- N) u' e" a2 I
any form or by any means, electronic or mechanical,
; C- ^2 b! y8 K4 a+ N% u# iincluding photocopying and microfilm, without permission in% E2 o1 V0 l# J7 j9 z) f
writing from the publisher.$ I1 q9 v1 ]9 m9 I2 A; C* ?7 T) E
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland7 m" _! a+ r, y; F# z
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
  U! \9 t" j6 {: p# LCODE PRIX. u2 c4 q( D4 t! W
PRICE CODE F
9 B$ X! [! \# z6 I9 v– 2 – 61345 © CEI:1998
- U" S' _; W: L  {2 Z/ ~COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATONALE
+ m; [8 s1 H3 x: _" ^___________
  J3 v1 U8 |1 W" ^ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
( V& f% ^$ E& C7 IPHOTOVOLTAÏQUES (PV)% s# C7 H1 ]2 o# ?( z* P$ J
AVANT-PROPOS9 y* o$ m9 j5 `! H+ }5 c& W2 h. n
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée- X, z( F1 D1 R* u& i" }
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
0 p& I! p) U6 r# P& Q- c9 }' ^favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de$ e2 j6 y- ]3 d5 V& p4 V( p/ S5 N
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.  Y- |' b! E. v1 h6 n3 y( ], V
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
- Y4 s- O7 _/ H4 }: {, A  Y; [$ Jsujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
( ^- {  K* e% q" n8 n. ~8 Aliaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation$ b) @2 N* s; ~) Q
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
, D/ n# }+ ]9 L2 N2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
) u  F2 u- x2 l! rdu possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
8 k4 e- w! q5 N6 b' ^! v& o) T% K& w" ?9 G2 Fsont représentés dans chaque comité d’études.
# V* X& h% ]7 Y% E. m5 O0 d3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés* A; p6 f5 D6 ^2 }; V
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.% V0 ?$ c& [4 \5 i
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de# s* b: k, Z2 U
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes2 o$ `6 M+ f% h4 a1 P- X' K# X- l% E
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
3 U5 C" P8 b" ?/ `. _1 Z0 Rcorrespondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
; G& x+ Z" i% ?( T$ M5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité- k8 y. I6 z& X# r$ E! U8 a9 _
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.& h' H. a  N! [, ?- P' }+ _
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire* @3 {; f" q/ P* ~
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
7 S4 e5 r! U% Y5 rresponsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.: ?$ O2 c9 g3 h* i5 R, v; h
La Norme internationale CEI 61345 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI: Systèmes* E2 f* u$ T$ j1 E. p  l8 |
de conversion photovoltaïque de l'énergie solaire.+ {6 n1 L1 h9 ]/ |3 i
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:0 p9 X2 _$ ]4 `2 S
FDIS Rapport de vote
7 n" m8 R' ]& P4 h/ T82/187/FDIS 82/194/RVD( K: w; Y) U4 u9 D* G) h4 u. A
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant8 n- n7 O/ ]0 ~+ b
abouti à l’approbation de cette norme.
5 `5 W. W2 K, t) Z3 D3 O* u' u  UL’annexe A est donnée uniquement à titre d’information.' s. O5 g- g. M8 V: U; K4 B( o1 d
61345 © IEC:1998 – 3 –
6 _/ l' l7 f6 G! }7 e2 @$ qINTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION0 O/ n! E. o2 T! |" @8 \4 H
___________
, l: G6 a+ ]/ a7 ^: _* W2 Z) MUV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES( K5 \5 |9 B& o2 F+ L+ m! c
FOREWORD
2 \' w, I" c/ X2 _% g% @1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
7 V, @7 U& z$ T, ~% y7 {' l/ u5 Wall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote  t' }+ A" y, A' n" ?
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To' i8 x% E4 L$ C0 z, X
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is- U( `6 U# ~4 ~0 G5 ~- H( W
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may4 P1 ]1 A- {' K% N
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising9 o" H. x3 p. X) N: J
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization4 F" F6 i0 j. j8 G7 a
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
8 v( }3 r, G; E, O; W% r5 xorganizations.5 b  E0 t0 ^  k4 ]8 _' d2 U* p
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
6 e4 g% G' _7 s8 R3 ointernational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation  j4 r, i8 S7 b
from all interested National Committees.
0 L  `' e. m; A$ O3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form0 F2 ?( |! S! I2 [+ E% C
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
8 a8 Z7 x8 \: o3 t" d7 C4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International/ M' ^; a4 L( A" g6 y
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
! M% t% G: ~4 j' x& v& @divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
2 t5 R6 C! I7 e  R, m$ u# }9 U# ?indicated in the latter.  w4 o1 M3 v: r- J+ ?- }/ \7 _
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any$ ^$ f4 T! P+ G' S
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
# N: @- n# g' S' ?2 t6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject$ M8 W. J% N" H6 d& p) E. W
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
& P/ ?: p3 l, S7 J, g/ tInternational Standard IEC 61345 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar1 \% }# V. l  _' k
photovoltaic energy systems.! H5 w4 C2 K* b$ W- j
The text of this standard is based on the following documents:3 `8 z. m% p9 O/ U
FDIS Report on voting, D+ K% S: m2 U, E3 v, [
82/187/FDIS 82/194/RVD
# B" h' q  v1 m( _. ~+ v. oFull information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
9 f9 V- Z  H( l( o9 n7 O' q1 O& o' Ovoting indicated in the above table.; b# c& b- x- y. U
Annex A is given for information only.
0 y- D/ y3 E9 R) n" N$ s– 4 – 61345 © CEI:1998. E6 K' o5 U( g/ m' X" U% f& M
ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
: X8 a$ j1 Q) Z0 C6 M6 }PHOTOVOLTAÏQUES (PV)# ~' l2 v/ L9 \/ W+ z) K4 l
1 Domaine d'application et objet
' `3 e. }. e& Q: E7 uLa présente Norme internationale définit un essai qui détermine la résistance du module à  [3 z9 M) Q) m
l'exposition aux rayonnements ultraviolets (UV). Cet essai est utile pour évaluer la résistance  T/ A% I9 O' ~* s
aux rayonnements UV des matériaux tels que les polymères et les revêtements de protection.
) F* w. S( E% @7 g! R. W5 T0 _Le présent essai a pour but de déterminer l'aptitude du module à supporter l'exposition aux
; Y& u/ J" _* N& g/ urayonnements ultraviolets (UV) de 280 nm à 400 nm. Avant de mener cet essai, il convient que! I/ Z: ~% a- [( H1 I( L$ Q
l'exposition prolongée au rayonnement lumineux, ou autre préconditionnement, soit effectuée" r8 `8 C3 a1 h& S  m$ G. z
selon la CEI 61215 ou la CEI 61646., E' h! k' s5 ?
2 Références normatives
8 `- q' [1 `; c! p4 q5 Q" M( oLes documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence) |4 B* v6 ]/ N/ u0 x: @
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au- X; V! v' F/ l, x
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif. ?# d2 V6 ]- e& ]5 T: m! w& Q  n
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme- X: D: L, a# E5 B! }7 U2 ]7 S# E* m
internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes0 z- S- s: r. Y/ @# }2 e3 n$ A
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le7 {+ J& U0 A0 U7 g- n
registre des Normes internationales en vigueur.
) c) I5 I8 f8 K1 C5 U7 J# H) }CEI 60904-1:1987, Dispositifs photovoltaïques – Première partie: Mesure des caractéristiques& W; K0 Q  \( m' k1 ^) ~5 b
courant-tension des dispositifs photovoltaïques
4 ]: z' L4 e& p8 BCEI 60904-3:1989, Dispositifs photovoltaïques – Troisième partie: Principes de mesure
$ ^, D0 F/ m, I# }7 x8 wdes dispositifs solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de3 R' M* i( |' g5 y+ F  z
l'éclairement spectral de référence) U3 O) p/ J( y; l- d  c% V0 U' y
CEI 61215:1993, Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin pour application terrestre –
' R4 J8 s( m9 O* q( y2 h  ?Qualification de la conception et homologation7 t8 u, X7 @( f# I
CEI 61646:1996, Modules photovoltaïques (PV) en couches minces pour application terrestre –
* g3 q2 I3 E0 ~. LQualification de la conception et homologation de type: F# E+ h+ `. a8 J
3 Mesures initiales
; K5 v% ^+ i1 W7 b# nLes mesures initiales suivantes doivent être effectuées:
2 y5 |" p9 @5 }0 I7 U– examen visuel suivant la CEI 61215 ou CEI 61646;
4 y. s0 w$ Y6 R7 v– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;6 t! C1 ]* {7 J% i
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou CEI 61646.6 F2 h5 e; P( P+ L1 ^$ |
61345 © IEC:1998 – 5 –$ ]6 ]& r% j( ~/ K" u+ X
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES9 W7 `" r+ t, _+ T
1 Scope and object, k$ O# h. y+ N! Q4 D
This International Standard defines a test which determines the resistance of the module when
2 N6 a. H8 Y& W, w! a& Uexposed to ultra-violet (UV) radiation. This test is useful for evaluating the UV resistance of) _6 r. Y$ a( o6 D1 Y" _
materials such as polymers and protective coatings.$ ?. a5 Q: _9 @# }
The object of this test is to determine the ability of the module to withstand exposure to ultraviolet( p3 ]' Y/ {7 U- H  k* \1 v/ l
(UV) radiation from 280 nm to 400 nm. Before conducting this test, light soaking or other1 g2 g% I- X$ _. S7 F6 k4 _
pre-conditioning should be performed in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.5 d5 u8 J- f7 j' ^! \" g* ^
2 Normative references% _$ K: P  J2 s% d& B
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
5 v6 V% F2 r) U( n7 z5 @constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions
1 J: M. f# {7 V4 k5 g# I$ n2 P0 {indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to2 B# X5 N1 W& ~- q3 t% g6 W
agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility0 |* ~+ b& l5 L* H
of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of
- y4 [% e/ f# W5 _& jIEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.& h6 u% Z; _. I' _5 K# n1 q
IEC 60904-1:1987, Photovoltaic devices – Part 1: Measurements of photovoltaic currentvoltage  b* z8 y2 R' U" l8 {
characteristics3 s5 H* @0 x3 A0 \$ F' n( @* b
IEC 60904-3:1989, Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial, x+ d  j7 A0 j5 P' U4 U3 o* G
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
7 O  o/ ]; M4 E$ Y1 IIEC 61215:1993, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification
. |1 {* ~/ n. u+ eand type approval
5 E3 F) |( s9 `$ JIEC 61646:1996, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type
7 X" ]( b. C$ o' Z$ B/ h* j5 tapproval( l  Y' U: Z6 m& K* ]
3 Initial measurements
, T; {" f/ c* }) IThe following initial measurements shall be carried out:6 Y9 x4 B* U: p/ k
– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;5 h4 c- ]" D6 @7 x8 e
– I-V characteristics at standard test conditions (STC) in accordance with IEC 60904-1;
( ?0 _6 l8 N! z3 Z/ u4 E, D+ W– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.& D9 p2 t0 k4 y4 V
– 6 – 61345 © CEI:1998
* h6 ?3 k/ Y) u% f* K9 `  j- L, f4 Equipement
0 Z( u2 @5 l* e& r8 p2 NL’équipement comprend les éléments mentionnés ci-dessous.9 Y5 o. j" O6 V4 A* e/ M1 T
a) Une étuve d'essai ou une autre forme d'installation régulée en température avec une* f0 _6 |: J. H% C
fenêtre ou des installations pour source de rayonnement lumineux UV et le ou les modules
; w) T: ~! f; Z' T# ?6 M) `en essai. L'étuve doit être capable de maintenir la température du ou des modules à 60 °C5 H* Q/ v' [4 ?+ V9 f( K
± 5 °C et en chaleur sèche.
: l, ^  m+ }' y! k5 F# ~b) Une source de rayonnement lumineux UV capable de produire des rayonnements UV avec
4 F' _9 m' t. w8 bune uniformité d'éclairement de ±15 % au-dessus du plan d'essai du ou des modules et7 U0 ]1 }3 X1 O  ~
capable de fournir l'éclairement total nécessaire dans les différentes régions spectrales0 @; m1 u, m" |; {4 L1 U
intéressantes comme défini au point c) de l'article 5. Le rapport d'essai final doit indiquer! d. \" w8 @9 d% x$ h& K; a" \
quelle source de rayonnement lumineux UV est utilisée.
4 ~' }! T9 C/ {* N0 wc) Des moyens pour mesurer et enregistrer la température du ou des modules avec une3 g/ x) Q3 O! |( a( I
précision de ±2 °C. Les capteurs thermiques doivent être fixés sur la face avant ou arrière
3 z( I% F- l6 [$ e9 E) ^+ jdu module et proches de son milieu. Si plusieurs modules sont en essai simultanément, le
5 r: t0 Y* K' }8 w2 xcontrôle de la température d'un échantillon représentatif sera suffisant.4 U; G7 }1 x, L
d) Un radiomètre étalonné capable de mesurer l'éclairement du rayonnement lumineux UV
  w- A5 z9 K& pproduit par une source de rayonnement lumineux UV au plan d'essai du ou des modules.- q1 m! ^  p" d* h* H& X7 v
Voir l'annexe A pour les sources de rayonnement lumineux UV suggérées.4 k- p9 p/ [0 S6 [
5 Méthode, u5 L- [, f  }6 w# @
L’essai doit être réalisé selon la procédure décrite ci-dessous.: }; j! r) N1 A2 F- i2 v5 ~/ ?: `4 i
a) En utilisant un radiomètre étalonné, mesurer l'éclairement au plan d'essai proposé du) e9 z0 Z2 S4 S7 w
module et s'assurer qu'aux longueurs d'onde entre 280 nm et 400 nm, l'éclairement8 o) z0 j. J- Z& E' e
spectral d'essai ne dépasse jamais cinq fois l'éclairement de référence correspondant,1 ]. t& ?9 n5 z5 [, v
spécifié par la distribution de l'éclairement solaire normalisée de AM 1,5 donnée au  `( H4 n7 B9 h" @4 M
tableau 1 de la CEI 60904-3, qu'il n'y a pas d'éclairement appréciable aux longueurs d'onde% B9 C! I& s0 Y/ d/ y3 U
au-dessous de 280 nm et qu'il y a une uniformité de ±15 % au-dessus du plan d'essai.
; }3 H. ^( A4 ^b) Installer le module dans le plan d'essai à l'endroit choisi dans a) avec le côté avant  z: r4 S" y) Q: E8 [
perpendiculaire au faisceau d'éclairement UV.
* e& ~4 x# U" [: k& h  Zc) Tout en maintenant la température du module dans les limites de la gamme prescrite,4 w, V" ]$ {5 C6 q6 i
soumettre le ou les modules à un minimum d'éclairement de
/ T* l0 o0 W9 Z( R" I4 E; r– 7,5 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et 320 nm et
  S( r0 k, ]! _# N6 p& z" i) B– 15 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 320 nm et 400 nm.
0 Z" z2 h- M& P1 p9 X7 R. U& Ld) Réorienter le module de telle façon que le côté arrière soit perpendiculaire au faisceau. @; I( {! u; u4 m8 b
d'éclairement UV.
/ l+ K4 J1 ]: K2 \8 Qe) Répéter l'étape c) pour 10 % du temps aux mêmes niveaux d'exposition énergétique que
9 f) q$ F( E. T3 g6 Bceux effectués sur le côté avant.& n  p+ _. Q8 i- ?& Z. J1 w% U& i
6 Mesures finales
7 K/ Y$ }+ `6 i$ S& Z. H4 U3 m  [* ~Répéter les essais suivants:: @0 g8 _! q. J) B/ V
– examen visuel suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646;
' b4 \1 k$ {" e7 a/ p– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;. j1 Y- @; x( @2 c8 L9 I
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646.
8 z) d* q2 V/ G" I8 @1 Z- g61345 © IEC:1998 – 7 –1 v2 _6 w4 {, P! O
4 Apparatus4 @, {" g, ~- U2 K
The apparatus consists of the items listed below.
7 \2 M7 ]' C  v2 J2 b9 R) fa) A temperature controlled test chamber or other arrangement with a window or fixtures for a
- S+ s, f% i' U; k$ J) XUV light source and the module(s) under test. The chamber shall be capable of maintaining
( {' i! @% o9 |9 D! Ethe module temperature at 60 °C ± 5 °C and a dry condition., L5 D$ S& Y1 S5 ^4 h
b) A UV light source capable of producing UV radiation with an irradiance uniformity of ±15 %9 t% o2 w) t- v; T+ F4 ?
over the test plane of the module(s) and capable of providing the necessary total irradiance
- @- i, }$ M: D" D6 Rin the different spectral regions of interest as defined in clause 5 c). The final test report
3 K% k5 @; A2 t$ w) Pshall indicate which UV light source is used.
$ f. z) Z+ Y; g4 I+ Ec) Means for measuring and recording the temperature of the module(s) to an accuracy of
# z! e1 X: ]# p  C±2 °C. The temperature sensors shall be attached to the front or back surface of the
& A8 `) s  `, ~" ?module near the middle. If more than one module is tested simultaneously, it will suffice to
0 i' s' c  O( h7 jmonitor the temperature of one representative sample.% ?4 t6 A9 ?& ~: W& A9 H  h: g2 I
d) A calibrated radiometer capable of measuring the irradiance of the UV light produced by the3 x( O9 M8 L8 n$ T6 ~3 b
UV light source at the test plane of the module(s).+ O8 k' D0 a- y4 J6 F
See annex A for suggested UV light sources.' j" b' C7 d1 g" V& J
5 Procedure. u+ \+ C& C+ ]6 t3 d" p* F  S
The test shall be carried out according to the procedure outlined below.
3 i- E5 g* L3 T% w. S8 ua) Use the calibrated radiometer to measure the irradiance at the proposed module test plane
8 N0 x  b  C4 T' C4 Land ensure that, at wavelengths between 280 nm and 400 nm, the test spectral irradiance
3 A3 P( t" Q' z$ {9 {is never more than 5 times the corresponding standard spectral irradiance specified in the: u/ ^) o7 z. F5 R0 t
standard AM 1,5 solar irradiance distribution given by table 1 of IEC 60904-3, that there is
( b0 R7 e1 j2 A& ]! ano appreciable irradiance at wavelengths below 280 nm and that it has a uniformity of
7 M/ N3 w* Y3 ~/ f5 N4 A±15 % over the test plane.. t6 [# }( q7 s0 c4 ~
b) Mount the module in the test plane at the location selected in a) with the front side normal8 V: O0 B9 B/ t7 C* t( [9 Q3 @
to the UV irradiance beam.8 m( N4 J# M; C# v3 A9 d
c) While maintaining the module temperature within the prescribed range, subject the& ]3 n5 P! O1 b  |1 w
module(s) to a minimum irradiance of+ I; C- q( q4 O2 [5 v+ }5 t8 M: b
– 7,5 kWh×m–2 in the wavelength range between 280 nm and 320 nm, and
& {0 O) S) n+ ]; Z– 15 kWh×m–2 in the wavelength range between 320 nm and 400 nm.# j  D" ^/ F8 [( `2 k0 G( q
d) Reorient the module so that the back side is normal to the UV irradiance beam.& `; o8 Z9 `6 c" R* O3 \* E; R8 j
e) Repeat step c) for 10 % of the time at the irradiation levels that were performed on the front
! u& u. n2 Z# c, {+ Q: [. a4 c+ g0 lside.( i" ]: D/ T5 p+ u
6 Final measurements
: ^) c; B7 u4 B/ vRepeat the following tests:
, A( l& l. u; q, L– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;
8 w3 V: x7 [' z% S, m, D– I-V characteristics at STC in accordance with IEC 60904-1;2 N# P) E  e, x& w% S
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.# [2 [# l; e* _& H+ N: ?
– 8 – 61345 © CEI:1998* U! m3 `& S6 k# V. d
7 Exigences
6 w: |4 K2 h( _- ]: O' ZLes modules photovoltaïques testés doivent satisfaire aux exigences indiquées ci-dessous.
1 m" ~; Y& l: G: ^  b8 \4 T– Pas de défauts visuels majeurs, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.
) m" f/ I( N$ A/ r+ A% p' B( y– La dégradation de la puissance maximale de sortie dans les conditions normales d'essai* y/ a! a! x4 V8 l# d: Q
(STC) ne doit pas dépasser 5 % de la valeur mesurée avant l'essai. Pour les modules à7 N9 ^! b% G, Q9 @5 g1 r
couches minces, la puissance de sortie maximale dans les conditions normales d'essai doit- }6 @# j8 B8 ]/ V% {% t
dépasser la puissance assignée minimale spécifiée par le fabricant pour ce type de
, Q' a" X# {: U+ r9 dmodule.
" u4 H* L8 B7 B1 q) s– La résistance d'isolement doit satisfaire aux mêmes exigences que celles des mesures( [/ Y1 n( g  T5 |
initiales, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.8 s: m) |/ u# z( h3 g2 J: T# P7 W
61345 © IEC:1998 – 9 –
" O. Z  S9 C6 I% N( p7 Requirements
7 E" f3 a$ _) U2 r1 S5 h. ZThe photovoltaic modules tested shall fulfill the requirements stated below.
2 k4 m1 a( T4 _– No evidence of major visual defects, as defined in IEC 61215 or IEC 61646.
  L: H+ Q3 l9 ]– The degradation of maximum power output at STC shall not exceed 5 % of the value+ {5 b7 H: [5 w- B/ D
measured before the test. For thin-film modules, the maximum output power at STC shall# ]$ l) d8 J( D
exceed the manufacturer’s minimum power rating for this module type.+ H; R% X1 @2 M% n5 U$ C( t5 m3 {
– Insulation resistance shall meet the same requirements as for the initial measurements, as" w' }3 [6 j. T' d1 K
defined in IEC 61215 or IEC 61646.
' [) g- K6 k/ Y+ c% ^9 y  z– 10 – 61345 © CEI:1998
: Q$ w0 T6 M/ a- o3 O. P/ ~, _Annexe A4 g; |- n2 Q) l8 D7 V4 x
(informative)% U% C/ u/ D9 h9 a1 R6 ^, P7 f
Sources de rayonnement lumineux UV suggérées, t3 @4 ]3 D/ S0 k! d$ J5 M/ \
Le choix d'une source de rayonnement lumineux UV est basé sur son aptitude à satisfaire les
6 \. h& N7 Z) ~/ |exigences spectrales de la présente norme. Les sources de rayonnement lumineux UV
0 |  [8 L+ U. h( Gsuivantes peuvent être capables de satisfaire ces exigences, lorsqu'elles sont correctement5 E% Q/ e& z& A; {$ }
installées et/ou posées.
0 @( v+ U# i' z3 w( r: }/ FA.1 Lampes fluorescentes UV QUV-A et QUV-B ou similaires( M0 [$ g. I4 E4 U
Les lampes QUV-B ont une gamme spectrale de 280 nm à 315 nm. Le seul inconvénient de8 i8 F4 s5 W. |9 [1 }0 V0 g" Y
cette source lumineuse réside dans le fait que presque tout l'éclairement sera à la limite haute
9 Q8 l+ i% s1 eénergie de la gamme d'éclairement spécifiée. Une combinaison des lampes fluorescentes
0 W) c5 z( d0 U+ f2 L3 wQUV-B et QUV-A peut être utilisée pour fournir l'exposition énergétique requise dans les
2 k! z- D8 l1 ?9 t/ ugammes spécifiées.0 I# |* p2 c3 d, K$ [1 A
A.2 Xénon filtré2 [# |9 J: ~5 G. i- p5 j) x
L'éclairement spectral d'une lampe au xénon filtré dans la gamme UV visible ressemble# S8 u9 D' j' `& u+ ]" v, R- W
beaucoup au spectre de l'éclairage solaire naturel, en particulier dans les longueurs d'onde de5 @! G) F2 ~4 h
280 nm à 320 nm. Etant donné que le xénon reproduit tout le spectre solaire, il a plus d'énergie
2 _) h; V9 N2 B: y2 R, {1 Z; @8 X/ U* ]dans la gamme de longueurs d'onde de 320 nm à 400 nm que l'essai ne le spécifie. Pour, L( W5 D1 |  E5 v  W
atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et 320 nm avec une
( Q7 y; z2 r2 m; h* k7 qsource au xénon, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2& s5 F/ N  T0 ^4 [* i8 \; L' }" ~) \
d'exposition énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et
1 L6 p: |2 |3 D400 nm.
0 q4 C4 f* N  T7 X; K& LA.3 Lampe UV aux halogénures métalliques à haute pression3 k- C: N! V1 g4 i8 E3 g; y* f
Ce sont des lampes à décharge au mercure à haute pression avec des additifs aux" i" N- o& O! u$ n' z  O: k( U
halogénures métalliques qui rayonnent principalement en UVA et UVB. Le verre de silice
+ T, b; [8 d* N8 i( ~. Yspécial doit être utilisé pour absorber le rayonnement UVC. Cela est aussi important pour0 m& h" Q+ O6 \7 @( c% z
éviter la production d'ozone.
& Y5 D1 J, @. X7 ]# g5 \! r: BA.4 Eclairage solaire naturel3 M7 @! M% ~" O2 T$ R
L'éclairage solaire naturel peut être utilisé avec concentration. Comme avec la source au
& K+ H# J2 Z" c' u- C! Sxénon, pour atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et8 L( z: N8 ]! D/ k/ u) p
320 nm, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2 d'exposition5 k$ d( R: T' Q
énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde de 280 nm à 400 nm.5 l# [+ b6 k2 w2 y1 |. c
___________
- L  Z( Y1 S3 n. _' L1 N61345 © IEC:1998 – 11 –; E& X) h8 Z2 \. A& n% @, X
Annex A0 ?; _3 N9 S! C, t! L+ |7 @: f4 D( o
(informative), C# m- t/ T; n+ T
Suggested UV light sources
7 g9 c! f4 F, T/ ySelection of a UV light source is based on its ability to meet the spectral requirements of this$ N0 G) o0 C! o& o! U: h
standard. The following UV light sources can be able to meet these requirements when) c: P6 B& a3 c" s8 t3 G
properly mounted and/or filtered.
/ v1 s' x# B- c* xA.1 QUV-A and QUV-B fluorescent UV lamps, or similar8 ^  I" E: @. t9 M7 Y+ L
QUV-B lamps have a spectral range from 280 nm to 315 nm. The only drawback with this light
, k4 S% a  [7 m9 B( tsource is the fact that almost all of the irradiance will be at the high energy end of the specified
  p+ E3 g$ E  E3 G: mirradiance range. A combination of QUV-B and QUV-A fluorescent lamps may be used to
: `3 }0 m" w& a5 B+ B/ Dprovide the required irradiation in the specified ranges.5 @6 l% e' `/ h
A.2 Filtered xenon, [  R$ w5 S# n: d: L1 _  J. i
The spectral irradiance of a filtered xenon lamp in the UV-visible range most closely resembles$ _7 w8 L, y  @2 ]( V. f3 a5 G
the spectrum of natural sunlight, especially in the wavelengths from 280 nm to 320 nm.
; W5 {$ ]" a" \/ ?3 r% wBecause xenon reproduces all of the solar spectrum, it has more energy in the wavelength" U- S7 M: X  }- @
bracket ranging from 320 nm to 400 nm than the test specifies. To achieve a total irradiation of
7 U! A0 c. y3 f& _. e7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm with a xenon source, the sample may be exposed to
" }0 U, ^2 ?& T% Mconsiderably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the wavelength range
6 I0 {: K& c& ^" o3 u) Ebetween 280 nm and 400 nm.. u' k# G0 o8 a- w
A.3 UV-high pressure metal halide lamp
- J( s2 }7 |4 k4 K6 @/ g) IThese are high pressure mercury discharge lamps with metal halide additives which radiate
0 v7 L3 [, H' o# l% Wmainly UVA and UVB. Special quartz glass shall be used to absorb the UVC radiation. This is
+ I: Y4 t2 Y/ J9 C: |+ \also important in order to avoid the production of ozone.; t- N) O& J# D$ G& h
A.4 Natural sunlight/ `4 `  F/ }9 c, q% w! p( o
Natural sunlight can be utilized with concentration. As with the xenon source, in order to( s* R# ~& V7 T0 w' a. n; @2 Z
achieve a total irradiation of 7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm, the sample may be8 b; M5 J4 ^# R$ ]9 W5 r: h
exposed to considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the" E- v' K" V/ `0 X, A# o9 e
wavelength range between 280 nm and 400 nm.
/ b' x/ v  t) J9 g___________! f0 |, F) d. ?' }" J
Standards Survey
6 @! j, c0 p$ aWe at the IEC want to know how our standards are used once they are published." U) l$ {8 ~8 j) J
The answers to this survey will help us to improve IEC standards and standard related& L0 x7 p5 I4 U5 n9 |
information to meet your future needs
( H# f2 g! \5 b% l( E' y; O+ NWould you please take a minute to answer the survey on the other side and mail or fax to:5 _$ U( c/ z3 d3 {/ n9 C& w+ j
Customer Service Centre (CSC)
8 c$ I& w* {  R8 o5 N$ {) lInternational Electrotechnical Commission7 i0 D3 A: E& ~1 z; M3 @4 j( [
3, rue de Varembé2 Q) \: R9 K& B4 `% {2 `1 @
Case postale 131
+ ~' j, J; l4 g; i2 g) k7 \1211 Geneva 20
! R- A' M3 |/ V" v% l) xSwitzerland1 t  b2 Y& \- R9 V8 `
or. B0 Y6 C* b: N' q' z6 u
Fax to: CSC at +41 22 919 03 00( G+ o. v% o+ r8 Y+ l
Thank you for your contribution to the standards making process.& c7 T* d0 m* [/ w
Non affrancare; {' C; L1 B! D& b, @. ?
No stamp required
  S4 r4 K, }/ d% C8 ?) dNicht frankieren# z/ B9 e+ \7 c; ?: ?
Ne pas affranchir+ p9 t2 A( ?  `& x# z
A Prioritaire* K1 L$ m$ d9 d0 y) D: M6 y8 `- J
R&EacuteONSE PAYÉE  ~' @) p9 c, a
SUISSE
. U9 U. [6 d- ~# ZCustomer Service Centre (CSC)
$ ^7 C: X7 Z0 D$ T, b7 }# jInternational Electrotechnical Commission
6 d( \% Y" O7 l3, rue de Varembé
( @  Z' K7 g: v! rCase postale 1317 y! i" m# z0 x( C
1211 GENEVA 20
" f1 K" g. t( S. aSwitzerland, G; D  n/ J% k
1.
! I" }8 T7 d+ ~6 qNo. of IEC standard:; t# G: D+ P. n/ x
.......................................................
1 \. e  _$ o( D2.  d( Z* e4 f0 X, |; k: H* _
Tell us why you have the standard.$ X) g. S  e  _, t4 q* S
(check as many as apply). I am:7 A# [3 q5 D0 ~. U/ E8 y
the buyer3 @. n( w% o# L1 x+ v+ x
the user
7 M% @6 W8 t3 ?9 v8 k! G. A% W9 ta librarian; J7 ]; F1 x+ r+ A8 A& m. J- T
a researcher
& V) y- {3 {2 E, S7 kan engineer
5 X; a' b  M$ G1 d: F  A' ^  ?a safety expert
1 Y. s/ x! y# |2 |$ o2 \- k, V1 binvolved in testing
+ n+ L0 w$ B) B; o" Cwith a government agency
) Z( i1 a  w) j! p" Ein industry
5 j3 U$ g2 D' H" o& u- z5 _/ Qother........................................
% M' O% _: x# I7 X( W: r3 ^; x3./ s( N6 v6 |# s& ]' G
This standard was purchased from?
- y! l& X; t6 F: v: ~.......................................................) K/ n* c- l: V/ J2 m  l7 z
4., ^- M+ Q: V( e$ n, B
This standard will be used' A4 m( S, i: ?( `5 R! r
(check as many as apply):1 g& P: h+ ?5 w# `
for reference  ?2 E' K8 q: m  i# s: x6 L" g
in a standards library5 H1 c/ w: s9 w# T9 ~) B# m
to develop a new product, O- Q& h* E( }0 K$ w8 @9 T. u6 N
to write specifications* O3 I' k2 t$ T# H5 P0 \, k
to use in a tender
# S% }8 Z; C4 M- e; ]/ g4 Kfor educational purposes7 L( g, b: t% H( [
for a lawsuit# b' W9 S" u* E8 C5 d" Q+ V- i
for quality assessment
* l: T6 y" \- W7 |( z6 @7 y' Gfor certification' f. h" q) b4 H3 J" `
for general information
, e4 \7 }( A6 u7 j; F7 P- }for design purposes8 D# M* V) W, B  V
for testing5 H! z+ R. n; k& c0 V
other........................................& ?- S" ]) k) ]% o) Q4 \8 k$ Q
5.
8 u- E5 a9 c" xThis standard will be used in conjunction; O' S9 T5 x/ D- ~: p& l5 V0 Z
with (check as many as apply):1 C$ D1 O8 G- T, ]/ u2 l
IEC) t8 _; b" b' V, l
ISO
! e3 A* _; ~# W/ q8 F! mcorporate
7 d9 W! ?6 y$ W$ o! T! Yother (published by................... )8 t0 [8 \, Z. k
other (published by................... )
1 t- T$ l/ t6 lother (published by................... )
4 [- X" q# [9 y8 O" @' p# o  g! L6.
, i: o! u  _6 NThis standard meets my needs
* E, x' r6 h& p+ o7 @+ ~9 h0 x) p(check one)
2 y, f0 q# v2 ^3 {1 w9 c* Anot at all! N$ |5 \  C8 ^: H5 F  W
almost6 i- D- ~  B# u" z) L
fairly well5 `' D6 G) Q: e' Y% m2 J' M
exactly4 J& R5 X! u6 ~8 L, Q! q
7.$ l1 F0 |' u; b1 N* E, a
Please rate the standard in the following5 F$ B2 l' \* O4 e
areas as (1) bad, (2) below average,( z5 c/ D; `9 Q4 [! b
(3) average, (4) above average,
3 g3 @% v# n2 u. p* {& I(5) exceptional, (0) not applicable:' E; p% n  N* q. q8 o
clearly written
, b& U4 r+ N7 j* elogically arranged
' q. K, L# j  B5 Einformation given by tables
- ?# }& S' A$ g- zillustrations; g& R1 {+ ?2 h( C
technical information
0 p5 j. Z# w( u& y8.
! H3 f, o* S, H9 o, cI would like to know how I can legally
$ N9 d. G$ S6 @% s' treproduce this standard for:
" r  ]/ I6 V; ~: ?internal use
! @' P" }7 Z/ I' |4 z  G$ gsales information
4 P$ N% u/ D# p# ~) t% qproduct demonstration: l: S: q. e8 T# `$ Q
other ................................- Q  O; r8 j' `
9.% u5 S$ U2 k$ q; l% Z$ J' P! `1 W
In what medium of standard does your4 b* y* w/ E# M& g" k/ J+ D6 R
organization maintain most of its! h0 d! F7 C7 s$ Q# d
standards (check one):' R6 h) Y$ V6 e
paper$ g( I% C& h: O/ E9 G: Z! Y
microfilm/microfiche
# |7 b* N6 O) U6 Pmag tapes
1 A3 {' ~3 P3 w7 D) t* UCD-ROM! {( X' X6 x# Y1 N
floppy disk
! ?/ o. p) h2 o, b7 N# _' t* don line
/ J& [/ |) l- A$ Z0 r) e( d) r. o9A.: _; o# X1 V" ^& C: I0 v
If your organization currently maintains1 x( N: v( ]$ Z- u4 b
part or all of its standards collection in. h4 w) z! }7 W- E& P; y
electronic media, please indicate the0 q) [6 o; B' Z5 P" z
format(s):
$ n. |) k3 j1 n% D( F- r* _) araster image; Y- d5 Y+ R- G
full text
( X$ U! h% k: A  O) G2 l10.
3 f$ n* b$ _  @, ?: xIn what medium does your organization+ `* U! i2 s6 o8 E+ M
intend to maintain its standards collection9 ~- F. P! \/ v
in the future (check all that apply):
2 S! G0 i; j$ i( N! A9 vpaper% h. Q8 i) ^# c- C, X
microfilm/microfiche
/ a8 ]3 X+ ~, Q* c. e/ q3 amag tape
0 X) ~/ Z7 ?) dCD-ROM
: b* [( m& E) ]* p5 J% B& zfloppy disk8 l. w1 J2 O/ X5 ]( I6 t
on line
: p- U2 D# j: N10A.
' H8 c6 R$ V8 l2 [0 i% S" b* |' kFor electronic media which format will be
3 {: ?5 x6 W4 ~chosen (check one)
  j& \! k; t. ~# ]raster image
; i6 X8 H9 P; \8 {. W' h: L! ufull text
5 S4 d  ~- s5 |8 W$ I% h5 o11.' I/ ^+ o( ~2 D( P1 z! |
My organization is in the following sector8 R4 B& F, ]/ b8 z
(e.g. engineering, manufacturing)
0 n& a+ X4 U9 O' o...............................................2 ^! n8 R0 ]6 z2 k, Y) G
12.
/ C8 q+ H7 D1 H- I4 d4 }: i4 ODoes your organization have a standards. n$ z' [/ ?8 z$ V
library:3 ?4 z7 T9 l0 x" t, n% w3 }; q! P
yes# N0 ?: a- [# m; j6 d1 F7 q$ Y
no# p8 G! Y, h8 R7 H6 d
13.6 }$ O* `$ Y  O4 r2 s
If you said yes to 12 then how many1 ?" j% X/ S' H+ w* ]8 I
volumes:
' v$ x* i. s" l, \* n5 u................................................2 p, Z0 o3 ^# c
14.
+ y6 I. Y+ e7 n, o# @Which standards organizations/ H, q6 Z" m- Z! M
published the standards in your- L) |  ?7 O  H( f& _
library (e.g. ISO, DIN, ANSI, BSI,1 a0 s5 L$ ]2 d
etc.):
. O' {' B4 o% B  v% R# ~................................................
4 \; w" X) X1 W15.2 r; L. w: q% q7 |
My organization supports the1 c% n& [# Z! u- D% {4 G
standards-making process (check as+ @6 ?9 ^6 Z- j' ?6 s" q1 R. w! V
many as apply):
8 i$ T" G! H8 [+ M( |9 P( lbuying standards
& y- s9 ?2 B+ Q4 P4 B1 W" _- cusing standards4 G2 M; w2 V- S) W# ]
membership in standards
) t1 Q8 v3 R- Q2 {8 morganization
8 p" m" X) N& [) F3 c; ~serving on standards
) Y; r) {. B' K/ i4 F6 idevelopment committee' E& R% v9 }% ~* |- F/ i8 u
other ................................, E& V" B- Q% l& k" @) {" x5 V. B
16.
  _+ I7 }3 i" _( XMy organization uses (check one)
& e8 U# O. Z: CFrench text only
. y" ?* L* k  V/ MEnglish text only
- K! M! z* F$ `$ CBoth English/French text6 l* J/ t2 l# ~$ C7 H
17.! m4 K" X- Z/ }
Other comments:
- Z1 T% A* i3 p* t3 n6 t( H........................................................% g9 S2 V5 \5 D( q9 x
........................................................1 j$ q# z- e( [! y
........................................................
7 k" @0 E/ ^% c; Y+ B........................................................
; R" i: K$ Y9 @( U& C. S# [........................................................- D7 U* X0 e9 q, ]* ^
........................................................# K' L# Y: }4 T# [/ G7 b( l0 ~0 M
18.
$ b% G3 m$ ?3 PPlease give us information about you8 _) j5 S% L/ a* N6 i: u# @2 w/ c
and your company
% t: I4 A2 ]9 ]' r$ x3 Iname: ..............................................
) p' P7 j6 n  C' Q9 wjob title:............................................
! E8 e5 R2 R$ V( Y. |company: .........................................6 r( r. ?/ ?7 r" e" s
address: ...........................................3 p& I* e* E+ Z, u
........................................................
7 j7 n. \. I, L7 n8 s5 J* W; g$ ~........................................................
6 l  o: e4 E& q( n........................................................
" @& O9 E! M, m$ g/ E6 Y2 m/ ~No. employees at your location:.........  V+ J& J+ |1 Q0 A
turnover/sales:..................................1 x5 Q7 k5 b" L6 Y; p8 F
Enquête sur les normes! M; x! p0 `6 X5 ^
La CEI se préoccupe de savoir comment ses normes sont accueillies et utilisées.
2 Q8 C) P% F4 s$ t1 V/ J- PLes réponses que nous procurera cette enquête nous aideront tout à la fois à améliorer nos/ Y. J9 M+ i7 e
normes et les informations qui les concernent afin de toujours mieux répondre à votre attente.
: Q5 G, {, ]- F" nNous aimerions que vous nous consacriez une petite minute pour remplir le questionnaire
- |0 D& _) Q6 s* M6 S. {joint que nous vous invitons à retourner au:
$ @( F& g" h. G+ N/ l% W7 _Centre du Service Clientèle (CSC)
( B9 x4 |5 p& b' KCommission Electrotechnique Internationale8 I& C! L5 g' W$ m! S8 K
3, rue de Varembé$ r* W  ]0 a2 @: m
Case postale 131* i+ L, s" p( J7 G: f* z" e5 P
1211 Genève 20. S( h$ U4 [# |$ ]- j6 [
Suisse  L& I' c( N5 w
Télécopie: IEC/CSC +41 22 919 03 00, [4 }$ ?4 H% f0 c& p! g( K
Nous vous remercions de la contribution que vous voudrez bien apporter ainsi3 }2 m' D& I4 J! F4 I7 C5 [: M
à la Normalisation Internationale$ _: Q9 l; H0 S" `- m
Non affrancare
# |8 _+ h6 Y( s% r/ VNo stamp required
4 i3 f: D0 N3 c! I! m; m) {, |Nicht frankieren
" v5 J" T* {/ R! m( o# QNe pas affranchir
2 v% T- ?! d7 J' h0 [* a' w1 HA Prioritaire8 E. P# N3 T  T! A; K! \/ Q
RÉPONSE PAYÉE
/ t1 M/ M( b4 T, s7 LSUISSE0 t7 S! S6 a# q4 M. s' K+ N8 R
Centre du Service Clientèle (CSC), e& L" U% p4 n* o8 t8 A& F( W
Commission Electrotechnique Internationale6 j9 J- S/ ], j- N/ \! [
3, rue de Varembé$ y& }: b( l$ G( K
Case postale 1310 Z1 O& i- a, E; N5 F
1211 GENÈVE 20
' K9 v" I% W: y6 QSuisse
# T2 @- u# d2 i) ?! a) j6 S1.
% }( n2 v8 |+ K9 `9 eNuméro de la Norme CEI:
0 A9 M% K% E% t. F. A6 z* _% _3 w.......................................................
0 {! F4 s; t3 b1 }2 y. k8 ^2.; y& {" g+ @7 @- M( o* Y* o! b' w5 J
Pourquoi possédez-vous cette norme?
* f. e8 K/ \) B, ~! n(plusieurs réponses possibles). Je suis:
  ]4 D$ F# |. l0 ]) `l’acheteur5 A+ e( n! s5 N9 R) b) _- P6 P
l’utilisateur; f1 j' ^4 h5 m4 `, H9 U
bibliothécaire
: Y) f2 f1 u7 a' O# f( gchercheur8 j3 s! G1 {6 S/ D: `# H9 p& ]
ingénieur
" r! J# ]9 p+ N4 ]/ Zexpert en sécurité5 E. Y7 g0 G! H" }! D
chargé d’effectuer des essais# Y. T7 ]7 g1 S/ ~
fonctionnaire d’Etat9 K2 ^& |4 o, V: Q( _' d
dans l’industrie& I, h6 t- h9 N  b3 I2 ~
autres ......................................8 w0 H& p& q- y5 l1 d3 [
3.0 L8 P' E1 l3 b3 H, j
Où avez-vous acheté cette norme?- k% f( l7 C, v7 I
.......................................................5 t- g2 ~3 |; R& h. y, C9 @$ J
4.
5 W3 |: i) V9 ^! u& FComment cette norme sera-t-elle utilisée?) F" h0 c8 v& o+ v' @
(plusieurs réponses possibles)8 i$ F$ o  v; c$ ?$ f& N4 ?
comme reférence% b" k. c8 m% p, O
dans une bibliothèque de normes! x7 i- W2 e  H3 H6 @" M9 u9 c
pour développer un produit nouveau
' p7 K* ^& u$ U% {pour rédiger des spécifications' _0 w, O- A/ U2 }
pour utilisation dans une soumission
9 [# s# |1 ?9 w4 i% S) Wà des fins éducatives
1 Y( s  X% u: Ypour un procès
1 F1 E) o4 {* ]) m1 lpour une évaluation de la qualité
# H. C& Z7 [7 G% b% Fpour la certification
$ X; }5 L( w0 ]à titre d’information générale
4 }: D5 s" `0 @$ x- P# Y& s; ^( lpour une étude de conception
9 O. P/ N/ D5 ^! v6 X1 C. Npour effectuer des essais- ]& g3 v8 F5 f! x& Z
autres ......................................
1 g8 E: u; X# X$ n' S' x7 D5.
+ E$ l7 m. d, h: LCette norme est-elle appelée à être utilisée
  b3 V% R1 }' T- n9 Yconjointement avec d’autres normes?* S1 a$ S3 A1 y/ ^3 J
Lesquelles? (plusieurs réponses possibles):
+ i+ [- N  `3 x) A/ ~6 z# p! QCEI+ _! l& _& y0 t5 Y5 g
ISO
! I  t$ o0 C8 zinternes à votre société
2 ]( [8 {5 G8 lautre (publiée par) .................... )
0 F' N- d2 W3 x; _& mautre (publiée par) .................... )
$ H& {6 l, h) X; z4 }* jautre (publiée par) .................... )
9 W5 s6 h0 U- p  r6.0 l+ F, S( N+ ^* @4 h
Cette norme répond-elle à vos besoins?+ N# Y. ^2 }* {* m
pas du tout
9 n9 b# a- D) Jà peu près
: [7 c1 o' M4 X- t2 |3 t8 eassez bien
( `; J/ s* N: v; z( \; n% Pparfaitement
9 B: }. @2 B/ F0 d* u0 ], a' T7.
+ E0 k* F8 M1 }9 T$ e6 Z6 XNous vous demandons maintenant de donner$ Q6 l$ Z% K% E
une note à chacun des critères ci-dessous
$ S5 L: ?# a" X. O' @( w! w% r6 C(1, mauvais; 2, en-dessous de la moyenne;" @! J. z/ }/ q! f& Y
3, moyen; 4, au-dessus de la moyenne;4 R1 Y$ ^  j, ~
5, exceptionnel; 0, sans objet)
- ]  D- V& \+ e( `8 ]0 Zclarté de la rédaction9 J/ E- ~9 ]0 \' c- X- x" \% R6 J/ K
logique de la disposition
7 I! a% f# I2 q! f: M, k: qtableaux informatifs! k( t4 g# {  i. o) o7 e* h
illustrations
6 x  v( c! ~6 p& ]informations techniques1 ~: _1 g; o1 T: m' B
8.
  @" L; k1 E, e. ?4 A+ ]1 ]0 NJ’aimerais savoir comment je peux
: P7 W" s3 b5 _- Nreproduire légalement cette norme pour:
4 a  H; K/ b+ B0 b2 W) Iusage interne
4 w) l( L" i. z- X, s. E% F/ `6 e7 ~4 Odes renseignements commerciaux
0 v% J; k" b. u' A7 q+ ldes démonstrations de produit
  A2 \: W7 i8 \( O9 N5 C, X2 |autres ..............................
5 P; X: B. w& M) t( K1 x9.
6 F8 @4 h% T1 J3 V3 TQuel support votre société utilise-t-elle
1 l  @, ^$ H8 h$ T* w. m, d2 Y3 Upour garder la plupart de ses normes?: l  X% }2 s* w, _# \! o
papier. |7 p, G. ?) D6 }$ J
microfilm/microfiche9 S/ g0 V' P/ w5 y8 C% o% {
bandes magnétiques. m/ x7 N$ J5 i! d
CD-ROM! o9 |; v9 N- J+ G: w
disquettes
* Y* H- m  N$ L2 I) |9 f3 V' rabonnement à un serveur électronique9 {; e& S5 {! \' ^6 N6 ]
9A.- H, j4 w" t3 t2 P5 H
Si votre société conserve en totalité ou en- n# W! }/ w5 y; @
partie sa collection de normes sous forme
& y  s+ b* A0 u3 j3 O  q0 h$ iélectronique, indiquer le ou les formats:
3 `. P+ [8 S8 j- yformat tramé (ou image balayée
& n# j, w. \% Tligne par ligne)
# K3 ?: F& \, S3 Ttexte intégral3 Y' ]& {) L" C) _8 v1 d
10.
: o2 F, d8 @* s2 t3 y# j$ x5 f0 oSur quels supports votre société prévoitelle6 s  V5 d2 _( ~+ |# i! k
de conserver sa collection de normes
5 N8 L* n/ n' v" B! z" kà l’avenir (plusieurs réponses possibles):
+ B) Y3 [# J7 x8 p& R9 Xpapier
3 o9 o7 ~2 K# t8 f* q' {microfilm/microfiche" {3 M- L; W) K0 o& N5 E. W
bandes magnétiques8 I/ n% n) n0 g$ W; K! V4 Q- @
CD-ROM7 @+ g7 Y# C; [% _
disquettes
4 f2 l& x# D+ h+ t, l* Z6 r! w# h# ^abonnement à un serveur électronique$ i# ?; B& |$ @0 n
10A.
* ^) Z% X" k& O  y6 y" IQuel format serait retenu pour un moyen  A: H* |# `* _6 x% ]
électronique? (une seule réponse)6 g! y8 l( u; {6 b
format tramé9 A3 p, a3 |3 K& l, L+ f7 x6 O
texte intégral/ q; r; h; |% S! [1 u& h6 H( p3 ^
11.3 j, ~  [( a) o2 e  T5 y
A quel secteur d’activité appartient votre société?3 \" }& i. ?: b  B
(par ex. ingénierie, fabrication)
+ ~! r) u* w: M" d8 L...............................................
" r3 [& _& J( v12.# a; j% |# M- F
Votre société possède-t-elle une! ]% G' `$ C7 L2 y5 Z
bibliothèque de normes?
9 x4 ~8 a% ^) }% M( q' m! XOui
" `# d  w1 w9 O) G# W8 }7 F) `Non
8 i/ S$ Y/ K# T6 N13.4 i$ G2 c* _( ]6 K# b
En combien de volumes dans le cas
! q- L' [+ M3 U- Z) p0 Naffirmatif?( Y2 g4 c  V% Z+ \* u3 G
................................................
+ R' j+ m/ I- A; j( |14./ x7 p  N2 }: X
Quelles organisations de normalisation- V4 ^' u! g- ~4 ^% U5 _" E
ont publié les normes de cette
0 S; ?: p# r3 v, l; h. r0 ~bibliothèque (ISO, DIN, ANSI, BSI, etc.):
3 m( a" X. V1 X) N1 H5 N................................................
7 f8 R( K2 K8 c2 W15.
. W5 C4 g  b; ?# UMa société apporte sa contribution à
2 A& c" A2 O# K. Hl’élaboration des normes par les4 B5 L5 n2 X: z1 G
moyens suivants
0 s8 m, y7 t1 A0 F(plusieurs réponses possibles):) S3 [5 l' ]4 A" V* {1 {0 ?
en achetant des normes
. H  \$ d: O! d0 w$ e+ Oen utilisant des normes& s- B/ R4 s* {  [
en qualité de membre d’organisations) N% d6 H. @& r* z/ x& a
de normalisation
5 i2 f8 e  W( P% R/ E0 g$ N5 ben qualité de membre de
$ i7 l6 e/ Y/ m2 A7 E' g- u1 \comités de normalisation% M+ W/ w3 W. u& W1 d- A
autres ..............................
; j% c% u$ {0 ~* ]16.
  c- u' g, X  q. L* rMa société utilise (une seule réponse)
7 C; T' F" H% k; u7 ^( W: Vdes normes en français seulement. W" E: M8 ^7 o
des normes en anglais seulement
" H1 P3 J" h. _/ K) L" Wdes normes bilingues anglais/8 n4 b5 X" M7 |3 A5 k
français
9 f* t) q1 Z7 }3 u+ p/ h2 G# r17.. N7 X! N" o: ]$ J( y
Autres observations
+ e" ^( y4 f) ~, S4 k# e; S........................................................* z1 M- u7 U1 Y  [& _- L1 E
........................................................
5 n( i' Q( L1 _* D........................................................
' g. J( Z8 S9 D, Z  k/ p6 U7 M........................................................0 w. ?$ h$ A  h- W, p2 g6 Q# i
........................................................
' d% e  z1 r/ I, n' ?& F- H18.( k. {& F, O1 ^
Pourriez-vous nous donner quelques
+ f+ o# ?% a3 o* |' R& _( Ginformations sur vous-mêmes et votre
' ]# `  Z5 ~; ]3 D( v5 B+ ~société?
6 t" g" [  ]; S7 F9 o- Y0 `nom .................................................0 R2 J9 X$ K: g6 n0 _# k
fonction............................................' u) W6 }1 B. K6 n
nom de la société .............................* N) c- S; G. U& Z# x$ k. @3 j
adresse............................................
8 r1 _7 `4 p2 Z........................................................2 N$ f; c/ O+ I' j  ]1 G
........................................................+ t) r% w/ J0 P8 \5 `* v
........................................................
0 v7 d3 t& i  m; X" \( {nombre d’employés...........................
8 w: N" p% q/ `1 \5 v, u8 vchiffre d’affaires:...............................
6 i! H! l* b5 W, i; FPublications de la CEI préparées IEC publications prepared  N( `  `( P9 t
par le Comité d’Etudes n° 82 by Technical Committee No. 82' d' c4 l8 L" _) T* ~
60891 (1987) Procédures pour les corrections en fonction de la
+ H, v+ o# a, s7 _' G- Ptempérature et de l'éclairement à appliquer aux1 d$ M8 I# w) |7 r7 y
caractéristiques I-V mesurées des dispositifs
7 x2 j6 h& {4 Z5 J# ]+ J+ ]photovoltaïques au silicium cristallin.# r& y1 ]8 C* n" \" d: T1 r
Amendement 1 (1992).' a0 g( ]7 ]$ n9 e' `
60891 (1987) Procedures for temperature and irradiance corrections$ i5 _3 l9 d, R/ ?7 B. ?  c, g
to measured I-V characteristics of crystalline silicon; @  m, t9 t3 D$ {9 v
photovoltaic devices.
$ `  j  f) H  `, h& T! XAmendment 1 (1992)./ W3 g- Z; w& m+ @1 D
60904: — Dispositifs photovoltaïques. 60904: — Photovoltaic devices.' D6 E$ v) b9 |5 T! {$ a& o
60904-1 (1987) Première partie: Mesure de caractéristiques couranttension; ?+ N1 g% y9 I6 {! q& Q- n
des dispositifs photovoltaïques.
* p* I* A5 d' V8 s" F60904-1 (1987) Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage' f) ~! m' b+ U
characteristics.
9 D+ Q+ f1 G& C7 _* s5 G1 G6 ^6 |" V60904-2 (1989) Deuxième partie: Exigences relatives aux cellules* `2 T  t2 i6 v, U5 J' d
solaires de référence.
, s& h0 s: h; U$ yAmendement 1 (1998).4 b8 P7 _$ W" t1 q# z0 ]& M$ z
60904-2 (1989) Part 2: Requirements for reference solar cells.( l7 R0 V+ N; @
Amendment 1 (1998).
; s. ~/ H; h' W60904-3 (1989) Troisième partie: Principes de mesure des dispositifs+ t0 B0 |8 x, a+ u8 t
solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre( [5 E5 _! ?- j: k6 T, M  R, l+ Y
incluant les données de l'éclairement spectral de
9 o0 [9 k6 k2 U0 |référence., ?% {+ z( b# J5 Z  `
60904-3 (1989) Part 3: Measurement principles for terrestrial
; s4 {. _- [) `photovoltaic (PV) solar devices with reference
9 {+ @# u& T. N0 Q# m: U. R/ tspectral irradiance data.
& ~8 P* R2 R8 A$ b60904-5 (1993) Partie 5: Détermination de la température de cellule
: C# b0 I: {. A  f, O% D9 {équivalente (ECT) des dispositifs photovoltaïques
2 i/ M8 J% d1 W: f/ c(PV) par la méthode de la tension en circuit ouvert.
$ S% r  L6 Y* W! u60904-5 (1993) Part 5: Determination of the equivalent cell
$ @7 F- P, ?( R  Otemperature (ECT) of photovoltaic (PV) devices by$ g6 O; L/ @; Y
the open-circuit voltage method.
8 t1 C3 [/ ?9 i1 d% Y/ O% w60904-6 (1994) Partie 6: Exigences relatives aux modules solaires de: [, p6 S/ u; y3 h7 y
référence., m' x9 q# t# y& n/ d7 Y' I0 q
Amendement 1 (1998).  C+ b4 ]8 i% B6 }! u
60904-6 (1994) Part 6: Requirements for reference solar modules.7 E/ X6 |  O# ^; E! E* x* f
Amendment 1 (1998).
7 |: f; ~' F, O60904-7 (1995) Partie 7: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-7 (1995) Part 7: Computation of spectral mismatch error
# V  f* u6 ~$ |% B' Q# {; X9 ~introduced in the testing of a photovoltaic device.8 z/ v( ~# z- Q' |1 |
60904-8 (1998) Partie 8: Mesure de la réponse spectrale d'un
' m; W+ L5 g1 \" [) }3 m8 U# `$ e2 I' jdispositif photovoltaïque (PV).& P/ {) B$ F1 F9 Q; E. H9 ~
60904-8 (1998) Part 8: Measurement of spectral response of a2 a; }5 t5 p7 q: r; _2 @5 x+ c0 z
photovoltaic (PV) device.
1 j- n# i" X' T) L60904-9 (1995) Partie 9: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-9 (1995) Part 9: Solar simulator performance requirements., f  L: s# B9 g+ L
60904-10 (1998) Partie 10: Méthodes de mesure de la linéarité. 60904-10 (1998) Part 10: Methods of linearity measurement.2 M/ U, e! D8 Q6 V; d, }- L& ~
61173 (1992) Protection contre les surtensions des systèmes
0 q9 S  j$ u- F( `% F. N+ H0 {) mphotovoltaïques (PV) de production d'énergie –+ O& s6 S" H$ o/ S4 H
Guide.
0 c. L9 L8 P' K. k6 j. w61173 (1992) Overvoltage protection for photovoltaic (PV) power2 {( G3 \5 P- r/ j
generating systems – Guide.* y) M# U! T" Y
61194 (1992) Paramètres descriptifs des systèmes photovoltaïques2 N9 f0 `8 Z- g( L  W1 c9 }9 Z/ O
autonomes.4 V, ], E7 X/ O# ~
61194 (1992) Characteristic parameters of stand-alone photovoltaic' J% {* c( ^2 T
systems.
7 Y8 n% ~# \% H% t& q8 _$ [. |61215 (1993) Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin' V; Z1 J& Y4 E) f* F
pour application terrestre – Qualification de la
' q9 n- E; ~, x" z7 o4 Sconception et homologation.
( m3 o0 U2 a3 B61215 (1993) Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV)
. z1 x1 ^8 O/ [3 Z; J8 Tmodules – Design qualification and type approval.) j; F# w8 l5 K( k3 w& u6 M5 P
61277 (1995) Systèmes photovoltaïques (PV) terrestres – Généralités" w) w9 l1 v& h) }2 Z
et guide.
: s7 B7 h: h$ w! q. g$ E3 j2 O! G61277 (1995) Terrestrial photovoltaic (PV) power generating
- V. L( L0 g) t. w& \' A5 P; `systems – General and guide.) H$ o( g  L) c  @
61345 (1998) Essai aux rayons ultraviolets des modules
" N2 B  l# d* ?" d% _. }! W3 ^- m, Cphotovoltaïques (PV).
: S% ]! I" O+ c6 r5 f( k61345 (1998) UV test for photovoltaic (PV) modules., x$ h; J( }6 a9 ~
61646 (1996) Modules photovoltaïques (PV) en couches minces% R, k" t, D8 J* I' J
pour application terrestre – Qualification de la" f& E( T- Q  \' W; f2 ?
conception et homologation.1 h/ W9 F( @. y6 p" w
61646 (1996) Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules –+ a. D" g3 t# g" c" h% e0 Q" R
Design qualification and type approval.
" `, c: C; o6 V2 b- y% `8 a5 C1 p61701 (1995) Essai de corrosion au brouillard salin des modules
# C7 `/ a6 Q3 l2 D$ p9 ]photovoltaïques (PV).1 O0 L" S% j! C  F  m8 k
61701 (1995) Salt mist corrosion testing of photovoltaic (PV)
. g( \' x/ _% J1 a' x- }modules.
( E  \$ o1 H9 r  B% G61702 (1995) Evaluation des systèmes photovoltaïques de pompage
% u) j) ?: r9 }' n  ~  ]à couplage direct.
9 h9 N9 [. c9 ~+ p* V61702 (1995) Rating of direct coupled photovoltaic (PV) pumping
8 G. \2 h1 \3 U" W7 qsystems., K. {0 g. {6 |+ K
61721 (1995) Sensibilité d'un module photovoltaïque au dommage
# Q  @5 t# a6 {, ^5 k# Kpar impact accidentel (résistance à l'essai d'impact).
$ p2 f+ b. r* e! \( |/ P8 x6 }61721 (1995) Susceptibility of a photovoltaic (PV) module to2 J; @0 g* D+ x7 V- O3 l* m
accidental impact damage (resistance to impact test).. l) W2 k; E( m' H, n
61725 (1997) Expression analytique des profils solaires journaliers. 61725 (1997) Analytical expression for daily solar profiles.
/ B  c; I$ |1 t% _; Z( u61727 (1995) Systèmes photovoltaïques (PV) – Caractéristiques de5 Z6 q+ q& a) i. o
l'interface de raccordement au réseau.
/ l- |8 E' k) `! p61727 (1995) Photovoltaic (PV) systems – Characteristics of the
8 P3 O" Q, I# E8 C  y8 Z( Sutility interface.
9 B% n/ \- ?' ^( S8 |61829 (1995) Champ de modules photovoltaïques (PV) au silicium
( F. c# t  i; K" `; E# ]' qcristallin – Mesure sur site des caractéristiques I-V.5 ^, j; x  X* k2 v- |
61829 (1995) Crystalline silicon photovoltaic (PV) array – On-site
" G! G/ M+ F0 z$ Z  A2 Z4 K1 Emeasurement of I-V characteristics.
6 b' H- ~2 A; i9 m% A61836 (1997) Systèmes de conversion photovoltaïque de l'énergie7 V% u- M$ H$ C* E$ W, O
solaire – Termes et symboles.( D# P5 A  Y, q1 i# b( j$ l6 n
61836 (1997) Solar photovoltaic energy systems – Terms and$ ~0 a8 n. i1 H8 V
symbols.! X  N& A, c, B+ A; c
Publication 613459 U! \8 K  g6 f8 b9 \& K! K5 r
ISBN 2-8318-4250-67 @; ]  x4 g: ~
&1+', ;7583<3 k+ y/ C/ W; A& x: M  q) i0 ^
ICS 27.160
6 K3 n, T! }6 W! J- d( B5 dTypeset and printed by the IEC Central Office
) d5 k7 ^% h$ M% a( @GENEVA, SWITZERLAND

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册安规

x
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册安规

本版积分规则

关闭

安规网为您推荐上一条 /1 下一条

QQ|关于安规|小黑屋|安规QQ群|Archiver|手机版|安规网 ( 粤ICP13023453-10 )

GMT+8, 2024-6-26 11:57 , Processed in 0.174450 second(s), 22 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.|广东安规赞助

快速回复 返回顶部 返回列表