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NORME3 D+ K2 t9 b/ k p" r/ S
INTERNATIONALE
5 b8 u3 g! }/ K5 Y! k7 f; ACEI$ E& Q/ t6 w, v) Z4 ^( W2 U
IEC
. U' Y* U6 n; @( A% O' Q8 o4 ~INTERNATIONAL
: y. \/ ~' o1 h) n4 tSTANDARD4 C2 |. A+ s' c
61345$ S5 h, a1 C1 d6 o2 ~
Première édition
" [) T) K% [3 S" S: B/ MFirst edition
) D7 n- G" g2 E" e9 u7 g: t* C1998-02
; P1 a8 W+ a1 J& ^Essai aux rayons ultraviolets
, r' C% W9 S4 O# W! ]des modules photovoltaïques (PV)' ^9 a7 Z4 P( e! |! o: O) q
UV test for photovoltaic (PV) modules4 o7 V8 _" ]8 r% m
Numéro de référence" B; w( W2 x( e+ S! f* K }7 \
Reference number6 @$ w' g- E0 e8 d- q' K
CEI/IEC 61345:1998
! L) f; [3 E% P- A4 f$ ^: dNuméros des publications
# \; L0 ^: Z' ]2 R, yDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI+ G. v4 j& g5 u
sont numérotées à partir de 60000.
7 I8 c @$ A( R( ?! b! H: V5 QPublications consolidées( f/ D# F% z k, O
Les versions consolidées de certaines publications de$ T# b3 ^% z% k2 Z& N. v
la CEI incorporant les amendements sont disponibles.' `9 [7 t- l1 A% W
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
+ E) O5 W4 {% S r4 p4 I$ Vindiquent respectivement la publication de base, la
8 N+ G' _; s o. g( v& t+ G, opublication de base incorporant l’amendement 1, et la" x h, Q# v, I
publication de base incorporant les amendements 1
5 }& L8 v" x5 ~et 2.
3 a# j8 z% i( d$ XValidité de la présente publication
5 T. V1 H, \4 @* Q7 } u7 y' bLe contenu technique des publications de la CEI est; d0 W) ~9 T, {5 @1 f. |
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état% d. s$ V8 F: U5 l5 @& h
actuel de la technique.1 E# q; l7 ?8 D8 w
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation' _5 b8 ?9 t W' d9 q q
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de
7 d9 z Q8 W8 [6 {) f, t' \4 kla CEI.
, D$ \- i0 {/ K" Q7 B. ILes renseignements relatifs à ces révisions, à l'établissement
5 e: K+ V. |' ^# V n! rdes éditions révisées et aux amendements
8 E8 w- i$ e0 z+ p9 kpeuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la
1 }. U% T1 I ACEI et dans les documents ci-dessous:
. l3 D) A6 ^" f# ^· Bulletin de la CEI3 L+ K" C$ E' W2 Q; u/ C) |
· Annuaire de la CEI! n6 y; O+ \. F" X
Accès en ligne*$ l1 _& D1 P3 i, O
· Catalogue des publications de la CEI
1 [: c; i6 B8 H& }* ^Publié annuellement et mis à jour régulièrement
/ A/ _* d: a, l' h! q2 y) j(Accès en ligne)*2 q4 k3 | [' X
Terminologie, symboles graphiques* h- B, ^9 j( d& c
et littéraux
0 c4 P8 A6 {+ j1 u' }) dEn ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur
2 |, ^. W' p1 I! Lse reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electrotechnique; F$ l T( d0 v5 o
International (VEI).2 }% t. v( N+ m4 l6 B- a, l4 Q! \' }
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et8 |9 g3 {- Y+ i* U* k* T. y- W. |
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le
, L N9 `. s$ O1 y9 glecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à' V' S6 Y8 Q/ [% S: w$ r
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles8 `2 ^8 m% R6 K$ t3 u' {
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et% n' s, ?4 H) g; ]
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:8 t7 r6 U' w( b- I9 E
Symboles graphiques pour schémas.
3 Q, ^* J7 |+ S6 O' XPublications de la CEI établies par. m' y: H# @3 G2 v( \. Z3 f
le même comité d'études
. z! a6 h+ d4 _7 ]7 e8 V( A6 l ~& ^, EL'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à( c2 \' O1 E; F L& u% [0 d
la fin de cette publication, qui énumèrent les" y7 M0 r2 d4 o. f0 s
publications de la CEI préparées par le comité d'études
; g4 x: w* ~3 O, n5 ^3 y! oqui a établi la présente publication.
5 ~- y, B( A* s5 F8 M: ?9 I* Voir adresse «site web» sur la page de titre.0 K' g6 ~" V" c% k) J _
Numbering
g4 g) v. d0 \ l9 s, hAs from 1 January 1997 all IEC publications are issued$ a$ o# t( M, f% [ N
with a designation in the 60000 series.0 x$ h+ q, S+ F2 B1 R% l: y$ g
Consolidated publications
G' _3 B' H n' S# F$ \" EConsolidated versions of some IEC publications8 S+ @3 R, O. a. p
including amendments are available. For example,# i6 k, Z" K7 N, L1 }3 k: l! ~' _
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to3 I @5 |; a, r
the base publication, the base publication incorporating
7 _( X* F6 L! E$ T- A n6 Iamendment 1 and the base publication incorporating; x0 H* `$ i3 c0 i
amendments 1 and 2.
! f" S$ P9 v) ^9 D* T5 Q. CValidity of this publication
$ G- o+ U5 b2 n8 o3 qThe technical content of IEC publications is kept under
! v' ^3 R0 V9 D( q/ |6 H6 Econstant review by the IEC, thus ensuring that the
( l" z: S7 c" X( }8 ~4 b$ Icontent reflects current technology.
5 J! s& L) o6 {( [" S: }Information relating to the date of the reconfirmation of
' g/ V6 A0 i9 e- K+ athe publication is available in the IEC catalogue.
, l9 y0 Q, f) v9 sInformation on the revision work, the issue of revised* |% J. ?% R; S+ o" G5 f; x
editions and amendments may be obtained from
! X6 g! ~. E2 d: K1 ?IEC National Committees and from the following
# L9 J( c$ f9 `IEC sources:
( v2 u! }! C1 x· IEC Bulletin4 H+ M5 W2 h2 v
· IEC Yearbook
6 e! d: u8 ?3 `! P/ B, w9 d* V& v2 pOn-line access*7 Q8 O# m3 p. ~6 Q( N9 o
· Catalogue of IEC publications
+ ]3 b, }: y0 C$ s4 ^! P0 ^' MPublished yearly with regular updates
- y) N' e' q& a- @4 t1 y' T: o(On-line access)*
# Q2 R' J1 P# _9 a7 v- XTerminology, graphical and letter
4 e4 L. `' N* ssymbols+ J2 F) [9 c, B
For general terminology, readers are referred to
& L/ S7 S( i, T4 eIEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
1 O" {! s8 }, \4 z `) U(IEV).
: B: X& R; u% C( qFor graphical symbols, and letter symbols and signs
: m' H% K# }0 e& E. N* bapproved by the IEC for general use, readers are+ V$ c# j" ~+ |3 h
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to. Q+ [3 u9 ?+ K! E
be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical( H. q- e4 v# R3 W% j
symbols for use on equipment. Index, survey and
! P6 K* R/ B, c, J9 acompilation of the single sheets and IEC 60617:
; R9 F* b+ {/ c) c. TGraphical symbols for diagrams.
$ I' {% s+ N# P0 h8 u/ \/ qIEC publications prepared by the same
) {& |' R8 c" ]technical committee& ^3 s+ B0 D6 I% s
The attention of readers is drawn to the end pages of
2 b8 m% i K8 b! Y. W9 y1 L4 lthis publication which list the IEC publications issued
4 X2 T3 t; e4 I. V0 n% oby the technical committee which has prepared the
u6 T7 b4 U1 hpresent publication.
# \) x5 T. I1 q6 e4 R* See web site address on title page.# a ~. q: R- D! m& A) m
NORME% i8 R- v& M) s2 _. i/ ?6 _( N* L
INTERNATIONALE
0 E- m, R# k4 jCEI
/ ?# X8 `6 O: u/ o6 [9 b& M/ [IEC1 }0 V* w9 t* n9 }8 A% `8 O
INTERNATIONAL# _: {9 X V. Z) ^/ e
STANDARD
" c+ Q9 M& S" {' }' X. z. }61345
1 K( R/ { F6 O' l" GPremière édition ^7 b {- S- b/ W4 B! h# A9 b
First edition
4 | A! j, c4 w7 ~" u9 c1998-02& u# f2 W' s# N( G( B2 p
Essai aux rayons ultraviolets
5 }2 ?) `% {0 R1 D! ~des modules photovoltaïques (PV)% n b$ }2 L) y0 l/ ~; v+ c' }1 o1 T2 H
UV test for photovoltaic (PV) modules
! L. Q8 x5 i, C8 y/ i/ C1 B( eCommission Electrotechnique Internationale, a. {: m. M: r; M1 C; t9 I
International Electrotechnical Commission
n4 H$ E D- }9 I: M; CPour prix, voir catalogue en vigueur
. C8 Q" l& ?( |0 n- d# k0 EFor price, see current catalogue5 d" J* S% h( |5 j4 g3 }9 W
Ó IEC 1998 Droits de reproduction réservés ¾ Copyright - all rights reserved
? F8 k, W# N, ^Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni
7 h6 a: K( `9 @6 y/ D3 Autilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun' u; s+ ~& v% G0 G* [- Q
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
& _+ }0 t# |6 P- Eet les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
! ~' @$ \3 c3 \) NNo part of this publication may be reproduced or utilized in( j% l3 e2 O2 {0 S4 [' S4 ?
any form or by any means, electronic or mechanical,
. b- X% D5 M$ R+ e0 gincluding photocopying and microfilm, without permission in& y' j1 d6 _3 c6 Q9 H
writing from the publisher.
3 x& R/ I, t2 ?4 q+ pInternational Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
9 F/ D& J$ z3 r9 z4 U" Q: xTelefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch+ j' _( U# |7 q7 t. q
CODE PRIX1 L/ m* g4 V5 G0 J
PRICE CODE F
) L# t7 v" ]! W% U– 2 – 61345 © CEI:1998
" b3 g2 F) Z* Y1 ^COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATONALE
' Z2 w: `* p7 `' ?___________
?% f1 b; ?% H( cESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES; v% H- C8 s- P1 G( A# C6 E
PHOTOVOLTAÏQUES (PV)
! g9 U J8 g1 q' O, x2 EAVANT-PROPOS
# \$ \0 ~( o6 v1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
. R2 }0 p" O: ]8 wde l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de6 o( a2 m# n% R$ D7 F8 f) K/ C
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de) a! L* N1 r' U0 s' C
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
( m6 C6 M; W% u8 @( d4 ?Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
8 Q( B+ @& \% I4 _! e$ csujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en; ~& |3 j3 i- k8 m% U4 N
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation) J2 Z* E7 u) y% C2 ^1 |% q
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
3 y# w; f: i4 L6 N! l+ l( k8 r2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
( P$ x3 o, I5 F2 S3 Zdu possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
3 C6 |% W; K/ j- I) G+ wsont représentés dans chaque comité d’études.
* C$ |% V/ I: W3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés2 t8 j0 P, F! @" @# |( h, z
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
. D* z+ w3 z" D" M: }4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
# F- R% O: C4 r* w) X7 vfaçon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
C }3 i6 h8 Z1 znationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale/ m) l; t6 K5 X5 O
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
}6 _3 ^* `# p0 s N5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité7 F9 T+ i" Y& D' y/ E5 i( i
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
# }& r, \& ~8 ?0 W8 G, o6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire7 S* p* Q% {6 X5 |0 y r+ w7 k
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour$ y2 Q, X9 m. q% j
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.* v) Z, @# O+ a4 u6 Y# c
La Norme internationale CEI 61345 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI: Systèmes1 H& X+ W+ |: w/ B
de conversion photovoltaïque de l'énergie solaire., I# i/ ~- a- e4 d- l
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:! `+ H! u% P8 K
FDIS Rapport de vote
+ o/ \6 U. E# z0 w; j( }3 ]82/187/FDIS 82/194/RVD. R/ y, T/ h2 V) j/ `/ U( O
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant" H9 h4 Z, K4 s$ C8 m" {: j
abouti à l’approbation de cette norme.
2 M: Z( K' O/ m! Q$ r! lL’annexe A est donnée uniquement à titre d’information.
5 O7 V; p9 [: A61345 © IEC:1998 – 3 –' P! K4 E; R+ I+ K
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION" d5 b, N7 z% v) F* I/ y" I7 _
___________% J, S4 L% a2 ?" A. A1 x
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES
) Y8 s6 {( H3 d* GFOREWORD4 W; N5 |& |' \2 N
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising3 L) h: d0 e1 w+ p6 d
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote9 U3 x9 P, S& H* O" q7 E: D1 u
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To. y. Y" ?5 N% q$ k
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
z& h: w9 v: I2 uentrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
5 r' K! U# i M2 N, ?, X& Bparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
' u# y+ d/ s \ Wwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
' x3 S# b. l b( P* dfor Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
) O' z9 K5 Z+ o9 } b0 }2 korganizations.) b% n* k+ y/ Z7 d
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an' K+ W2 q/ B! n$ I3 V, l! p: P
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
1 k$ _) \, u, n$ zfrom all interested National Committees.
' c r* i8 M$ [) g) B E+ K3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form+ y* i6 u7 Q* @2 G# n
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.0 o4 w% H! Y& P% x- O, y
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International+ o) [- b) _& S' h+ q4 u- q
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any, ]8 q6 R. I# M9 V/ [* \0 {- b3 M
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly% l* y* f& I; x9 ?' S
indicated in the latter.
( W" ]5 r4 p% c$ a5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any6 @! m% T( c! j. n C$ Q+ M" C7 W
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
% [9 C ^8 w9 W( V! j" D6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
+ L8 g' [' S% N1 N+ l Qof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.; k4 f* E' U6 ^& E
International Standard IEC 61345 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar1 n) |" a$ S/ ^$ u5 G& h0 N
photovoltaic energy systems.0 ]% v! s7 T; W* w. v; b
The text of this standard is based on the following documents:
8 q) c- w& \$ _1 C; j$ i9 bFDIS Report on voting
6 ]) M$ ]( J1 y1 C% J/ Z7 W82/187/FDIS 82/194/RVD
& G; g b; W* IFull information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
) z: B! }7 r) i" A) F/ Ovoting indicated in the above table.
8 z4 z& X- j) }' T- VAnnex A is given for information only.
% H/ ~/ F" U( g- B' E– 4 – 61345 © CEI:1998
% Z% `; U/ i, S0 f( ]ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
3 R: n, g+ L2 hPHOTOVOLTAÏQUES (PV)' z8 J, G, h( H1 E
1 Domaine d'application et objet M- ~" I, U& u9 Q& E
La présente Norme internationale définit un essai qui détermine la résistance du module à
. B9 K: w3 u7 R2 B) d* d% p, X/ m& R- bl'exposition aux rayonnements ultraviolets (UV). Cet essai est utile pour évaluer la résistance" n' W5 L! E# \
aux rayonnements UV des matériaux tels que les polymères et les revêtements de protection.
9 O5 W5 I; ~! K0 HLe présent essai a pour but de déterminer l'aptitude du module à supporter l'exposition aux) Y# U7 i( X1 Q8 F$ D% k
rayonnements ultraviolets (UV) de 280 nm à 400 nm. Avant de mener cet essai, il convient que! i6 m; @9 g2 `2 v0 R
l'exposition prolongée au rayonnement lumineux, ou autre préconditionnement, soit effectuée
! r. m3 Z+ K/ G$ s. s8 pselon la CEI 61215 ou la CEI 61646.* V" T* y5 Z4 u
2 Références normatives9 `9 q( F5 j0 ]8 h$ G- b3 G8 D
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
5 R; ` J$ U, [: I- Aqui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au4 Z- y8 ~$ A- Y
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif% P/ i+ |% ^2 S) O( i4 B
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme
; m9 u! S- R& z+ }# N5 x) s, ]internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes& X" o* g2 T* ?
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
- B% I' |- a* q) oregistre des Normes internationales en vigueur." C3 U$ z+ W1 s' A; v
CEI 60904-1:1987, Dispositifs photovoltaïques – Première partie: Mesure des caractéristiques7 U; ]3 U' g. u6 e
courant-tension des dispositifs photovoltaïques
8 F% K+ E! O" Y3 ZCEI 60904-3:1989, Dispositifs photovoltaïques – Troisième partie: Principes de mesure0 ]7 ^) r' \, A+ ]! L l
des dispositifs solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de
4 L& h1 e$ H' U0 F2 ^0 R) Jl'éclairement spectral de référence2 W2 A: T- B1 f5 [, \, y
CEI 61215:1993, Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin pour application terrestre –
; k( z- v! F1 @6 W2 E5 HQualification de la conception et homologation1 w& {- v E! G" a! _
CEI 61646:1996, Modules photovoltaïques (PV) en couches minces pour application terrestre –6 h+ `6 S( e% o/ \
Qualification de la conception et homologation de type
& t+ P+ e. ~( I) i5 r2 }3 Mesures initiales
: B! M5 v8 j; i) v( Z- {* E- ?4 jLes mesures initiales suivantes doivent être effectuées:6 J$ p; h5 I" F; l
– examen visuel suivant la CEI 61215 ou CEI 61646;6 v7 x, z1 W* A
– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;
) O& o; {6 b' S2 _– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou CEI 61646.4 _" I" b- ] O5 B
61345 © IEC:1998 – 5 –, @; I/ A2 [- O9 b
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES$ J) a* H% e: }
1 Scope and object) ` s6 J' |) }( R
This International Standard defines a test which determines the resistance of the module when$ S5 C. t) T7 c7 z1 O% h D) d7 F
exposed to ultra-violet (UV) radiation. This test is useful for evaluating the UV resistance of
3 r6 t* u9 E: H L5 Omaterials such as polymers and protective coatings.
& }9 v( V: @; A! ?2 ~The object of this test is to determine the ability of the module to withstand exposure to ultraviolet
% b) H: ]6 H$ P4 l* c( }) Q(UV) radiation from 280 nm to 400 nm. Before conducting this test, light soaking or other
2 u$ Z" G& z$ L0 w- ]1 l) hpre-conditioning should be performed in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
, M; n5 w4 t8 ^8 j2 I2 Normative references' j" @0 `3 @! K
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,8 }$ w7 u0 l) ?0 i+ S
constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions0 w; c$ ` I# E% d h
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
5 M4 J, t: h; S2 M1 S7 n- i! i# ]agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility
8 ]' h6 C* _8 r. f1 e1 Eof applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of
- o* {& O/ w8 V" vIEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.: m( u- N! g% `% ~
IEC 60904-1:1987, Photovoltaic devices – Part 1: Measurements of photovoltaic currentvoltage
; f0 [! U9 W2 T6 j. B' Wcharacteristics \, u0 s' Q5 G. c D
IEC 60904-3:1989, Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial1 K$ y# ?2 x. I$ U. U: f4 G+ {
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
+ s5 q* n5 _+ W" tIEC 61215:1993, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification
# P7 ]' u, h2 [* W/ N& l; ]1 Fand type approval A) t! q, }9 [6 h. v
IEC 61646:1996, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type
9 K, ]: Z# Q4 _* n9 t6 U, x( k/ Mapproval
" ] ?& S3 G+ I( F$ T, }3 Initial measurements( j1 O6 s$ [ d0 ~3 f5 {' Q( p
The following initial measurements shall be carried out:
7 I3 h4 `; v e; w) _– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;4 I" v7 u, \; j6 v1 N9 O
– I-V characteristics at standard test conditions (STC) in accordance with IEC 60904-1;
3 U2 v& Q- j& U8 H- w- D– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.& T5 Y! z1 m. y) L; d9 ~5 F
– 6 – 61345 © CEI:19983 J5 g! h: j; C+ M+ D% m! i, t
4 Equipement
" I2 \& U' V8 S8 [: O) U7 ZL’équipement comprend les éléments mentionnés ci-dessous.( R' }& E2 I0 a: h: X: V
a) Une étuve d'essai ou une autre forme d'installation régulée en température avec une" ^7 |) A9 I7 H; z8 U
fenêtre ou des installations pour source de rayonnement lumineux UV et le ou les modules& ]9 k& v- F0 }" l) x( B
en essai. L'étuve doit être capable de maintenir la température du ou des modules à 60 °C
: u7 m" ?5 ?3 U8 J$ _& E, J± 5 °C et en chaleur sèche.
& Y3 W/ ?( [' T+ rb) Une source de rayonnement lumineux UV capable de produire des rayonnements UV avec7 L" j" L) V7 k3 a) ?+ e& |
une uniformité d'éclairement de ±15 % au-dessus du plan d'essai du ou des modules et7 ?: X3 P# Z% v( o; I# @ Z. X9 q( a
capable de fournir l'éclairement total nécessaire dans les différentes régions spectrales _6 T8 x3 N% i9 A( {2 K' P
intéressantes comme défini au point c) de l'article 5. Le rapport d'essai final doit indiquer
, M6 d9 {9 n1 v7 _8 bquelle source de rayonnement lumineux UV est utilisée.
L, F' |3 l# Y: {1 s# nc) Des moyens pour mesurer et enregistrer la température du ou des modules avec une
0 b0 L$ A6 ?. u% @9 Z( Mprécision de ±2 °C. Les capteurs thermiques doivent être fixés sur la face avant ou arrière) @0 z* P, j. I$ @! b- t$ P
du module et proches de son milieu. Si plusieurs modules sont en essai simultanément, le6 M" X; P2 R& d" \! L4 ^' t# w7 L* W
contrôle de la température d'un échantillon représentatif sera suffisant.
9 P6 d. `& i5 i- H, k+ jd) Un radiomètre étalonné capable de mesurer l'éclairement du rayonnement lumineux UV
7 ^5 a- Z2 b, B, L$ I# mproduit par une source de rayonnement lumineux UV au plan d'essai du ou des modules.! M; S8 ^ n4 i" |( }' \7 a4 m" e
Voir l'annexe A pour les sources de rayonnement lumineux UV suggérées.
1 O# \$ j( P d; ?: U# e' \2 S5 W5 Méthode
% p+ w( M6 R3 ?6 i! }+ e8 CL’essai doit être réalisé selon la procédure décrite ci-dessous.7 Q- |+ G" v% B5 N% I7 `
a) En utilisant un radiomètre étalonné, mesurer l'éclairement au plan d'essai proposé du
6 k! i/ k3 y% y; B. wmodule et s'assurer qu'aux longueurs d'onde entre 280 nm et 400 nm, l'éclairement
- u u5 a) q& T* fspectral d'essai ne dépasse jamais cinq fois l'éclairement de référence correspondant,
& h! u# y) ?; i. m4 }; hspécifié par la distribution de l'éclairement solaire normalisée de AM 1,5 donnée au
% N( C+ U" O$ |: S2 a7 Y2 N8 ~tableau 1 de la CEI 60904-3, qu'il n'y a pas d'éclairement appréciable aux longueurs d'onde4 t# a( d1 n3 K' _, M% n: Z
au-dessous de 280 nm et qu'il y a une uniformité de ±15 % au-dessus du plan d'essai.
% m$ x# m& Q* C: nb) Installer le module dans le plan d'essai à l'endroit choisi dans a) avec le côté avant* ?2 e8 O: q' }( g7 @8 g4 N
perpendiculaire au faisceau d'éclairement UV.
4 t. } t* I Q+ d) m& Ec) Tout en maintenant la température du module dans les limites de la gamme prescrite,# `5 a0 G' o4 y1 v
soumettre le ou les modules à un minimum d'éclairement de
" A5 w4 G0 Q! @$ j; d$ u k– 7,5 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et 320 nm et
* V% s& D @1 U9 Y$ r– 15 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 320 nm et 400 nm.) M2 {/ k8 c& y$ o' C9 a5 V
d) Réorienter le module de telle façon que le côté arrière soit perpendiculaire au faisceau
/ g7 ]- t( j0 U5 K- ~2 M" s5 Ld'éclairement UV.$ h" J6 z k2 N
e) Répéter l'étape c) pour 10 % du temps aux mêmes niveaux d'exposition énergétique que* ~1 p5 ]6 R" @6 a! F" w9 @5 i
ceux effectués sur le côté avant.% ~3 t" H" G+ n( ?3 u
6 Mesures finales
7 E$ W& M) L0 D8 M. GRépéter les essais suivants:5 i) {2 w+ z$ k" S0 X" T6 a
– examen visuel suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646;
8 [$ h9 ]$ _" l& q% o! L5 U7 R– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;- A* @2 J5 R9 o. a
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646.
- _7 z; O% T' _61345 © IEC:1998 – 7 –
0 Y: I% @( t+ L8 s H4 Apparatus
% _ k3 Y: Y" |& l) q k3 a; qThe apparatus consists of the items listed below.! j8 f5 k" {. \6 X$ M
a) A temperature controlled test chamber or other arrangement with a window or fixtures for a
4 Q7 D3 c. I: y& e* }# ^UV light source and the module(s) under test. The chamber shall be capable of maintaining( O8 X z* L+ p9 o. ^
the module temperature at 60 °C ± 5 °C and a dry condition.* \9 ^% T- p, @. @$ `- W4 w
b) A UV light source capable of producing UV radiation with an irradiance uniformity of ±15 %( Z5 D* a6 T$ d* t$ t
over the test plane of the module(s) and capable of providing the necessary total irradiance4 Z. W1 h3 B7 d F ~7 U
in the different spectral regions of interest as defined in clause 5 c). The final test report8 G7 v; D/ H4 l: L9 i8 S
shall indicate which UV light source is used.. |/ E G* P+ E
c) Means for measuring and recording the temperature of the module(s) to an accuracy of
+ }7 M9 T5 X3 q% r1 E- l±2 °C. The temperature sensors shall be attached to the front or back surface of the
. n2 q+ D; S) O8 umodule near the middle. If more than one module is tested simultaneously, it will suffice to
$ |2 o5 t) i4 N4 O+ K; x% Fmonitor the temperature of one representative sample.
: N9 o- I5 E6 D; ~0 m0 Od) A calibrated radiometer capable of measuring the irradiance of the UV light produced by the3 @. ~5 @5 s; B0 m# `
UV light source at the test plane of the module(s).
% x0 l) F' p% \$ DSee annex A for suggested UV light sources.
Y& q+ Y# e& Y" |! z5 Procedure* C; u9 Q5 N! z$ |0 Z
The test shall be carried out according to the procedure outlined below.
2 P! A# s3 D+ m/ C) y9 ha) Use the calibrated radiometer to measure the irradiance at the proposed module test plane
% f H- M$ i5 l1 u( Tand ensure that, at wavelengths between 280 nm and 400 nm, the test spectral irradiance
7 [- r% o( i; J# `4 }is never more than 5 times the corresponding standard spectral irradiance specified in the1 s3 w# u* J% [9 B
standard AM 1,5 solar irradiance distribution given by table 1 of IEC 60904-3, that there is
& t# j7 H+ z: U% a6 z& ]no appreciable irradiance at wavelengths below 280 nm and that it has a uniformity of
8 `4 i: H& r: ~) P±15 % over the test plane.1 r( O& E! D7 ~" J
b) Mount the module in the test plane at the location selected in a) with the front side normal8 l$ q6 V0 a- ?2 l; O1 O
to the UV irradiance beam.9 n# E$ e8 ?7 ], n- L
c) While maintaining the module temperature within the prescribed range, subject the
3 c' Y) [7 J( ?' \module(s) to a minimum irradiance of
: ?! V. E/ h. ~4 K$ V. d* @# G3 @– 7,5 kWh×m–2 in the wavelength range between 280 nm and 320 nm, and* U3 c6 e6 M; D" \* f4 h, o
– 15 kWh×m–2 in the wavelength range between 320 nm and 400 nm.
& @5 r- ]! G5 V% k, ld) Reorient the module so that the back side is normal to the UV irradiance beam.# L" |. Z/ T5 l2 F; e% I$ m
e) Repeat step c) for 10 % of the time at the irradiation levels that were performed on the front
- W: m- t' u2 a$ o' F/ c) Bside.) L# q, p$ u8 I( q# O% ~
6 Final measurements$ J8 g5 }; q2 d* G& N# K0 D- h1 y; Q
Repeat the following tests:
- u" x+ W/ ?% i. O4 g1 w( T– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;
3 A. w' y4 ` H1 i2 _4 i# p% \– I-V characteristics at STC in accordance with IEC 60904-1;# x" C8 k/ V2 l1 h7 m
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
1 z* m$ q& W" Q$ l* j4 I3 g- j }3 A– 8 – 61345 © CEI:1998& B. {. ^% b0 \3 d1 W8 i7 z
7 Exigences
3 [) s0 c1 D) `$ `- iLes modules photovoltaïques testés doivent satisfaire aux exigences indiquées ci-dessous.% |( r4 ^3 F6 \6 f+ u* b
– Pas de défauts visuels majeurs, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.9 S |: [) S4 t: G* \
– La dégradation de la puissance maximale de sortie dans les conditions normales d'essai
, U2 K$ }( d" d1 I/ M: @2 J8 k% _(STC) ne doit pas dépasser 5 % de la valeur mesurée avant l'essai. Pour les modules à7 X! H/ b, t1 J5 {' m) f
couches minces, la puissance de sortie maximale dans les conditions normales d'essai doit$ U W- @7 w0 ?5 Y! v
dépasser la puissance assignée minimale spécifiée par le fabricant pour ce type de" r) F. M t$ [1 j: h) G
module.
+ S0 V& h+ u" k, w8 f– La résistance d'isolement doit satisfaire aux mêmes exigences que celles des mesures
4 _% S3 U2 D% J0 y5 \( Y# U7 Ginitiales, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.
8 R: ^" m1 \2 H* I$ `5 K! o61345 © IEC:1998 – 9 –- R: ]6 N4 {' r, }
7 Requirements
: b2 k0 W$ O) w! L9 aThe photovoltaic modules tested shall fulfill the requirements stated below.; S7 ^6 [ ^2 t! a
– No evidence of major visual defects, as defined in IEC 61215 or IEC 61646.
! s* Z9 M: S' F. y0 |+ O– The degradation of maximum power output at STC shall not exceed 5 % of the value6 Y: v0 @) G' f6 u
measured before the test. For thin-film modules, the maximum output power at STC shall+ E; Y# Z% [, p: P
exceed the manufacturer’s minimum power rating for this module type.6 ~% ?- P) o' J) s1 L9 m
– Insulation resistance shall meet the same requirements as for the initial measurements, as
F4 b* f8 V* y; ^defined in IEC 61215 or IEC 61646.
/ @3 H2 D; I! ]- }, k# r– 10 – 61345 © CEI:19985 s0 y q$ E# T8 D! X
Annexe A' w! B0 G1 D, ?/ g" f/ j8 D
(informative)
0 {) d- u6 O4 V" \3 [Sources de rayonnement lumineux UV suggérées/ d/ w4 M( d; f+ y& I- _( }
Le choix d'une source de rayonnement lumineux UV est basé sur son aptitude à satisfaire les
9 Y* ~/ H! V) d( y( q8 ~exigences spectrales de la présente norme. Les sources de rayonnement lumineux UV( ^1 F& W) B$ z5 Z+ Q( J
suivantes peuvent être capables de satisfaire ces exigences, lorsqu'elles sont correctement. c1 F; U0 Z: f6 h
installées et/ou posées.4 o3 j5 W& }! p4 ?) {% K6 s
A.1 Lampes fluorescentes UV QUV-A et QUV-B ou similaires
; @8 p+ }0 Q7 F* n2 v# W8 R" k* MLes lampes QUV-B ont une gamme spectrale de 280 nm à 315 nm. Le seul inconvénient de* ?7 i! Z6 o, w l
cette source lumineuse réside dans le fait que presque tout l'éclairement sera à la limite haute3 B9 v- R7 m9 k$ J. J3 o
énergie de la gamme d'éclairement spécifiée. Une combinaison des lampes fluorescentes
/ ^* O% e9 b0 mQUV-B et QUV-A peut être utilisée pour fournir l'exposition énergétique requise dans les
) r. c B4 Z. ? O% l; M! ngammes spécifiées.- R/ u, E2 o& L) t/ h7 {3 j
A.2 Xénon filtré
" K) P; B/ ^; J0 c/ LL'éclairement spectral d'une lampe au xénon filtré dans la gamme UV visible ressemble
7 R3 F6 U1 W# W9 V# b4 Obeaucoup au spectre de l'éclairage solaire naturel, en particulier dans les longueurs d'onde de5 j2 `- X K6 T) [3 B; P
280 nm à 320 nm. Etant donné que le xénon reproduit tout le spectre solaire, il a plus d'énergie. [$ h9 d7 _6 N2 s. Q8 l& ~- d0 J9 k
dans la gamme de longueurs d'onde de 320 nm à 400 nm que l'essai ne le spécifie. Pour
! i& x- t3 V: yatteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et 320 nm avec une1 a6 u0 h0 l% P; f$ }' Z9 @
source au xénon, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2
0 d! U6 K( U( y x; id'exposition énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et/ u# |3 x' G/ `# r1 F" c# ~+ Y
400 nm.: }' O) N& I8 H" W
A.3 Lampe UV aux halogénures métalliques à haute pression1 x8 [8 h2 M* R
Ce sont des lampes à décharge au mercure à haute pression avec des additifs aux" H4 | `% i4 M' s& y' S
halogénures métalliques qui rayonnent principalement en UVA et UVB. Le verre de silice: H0 X# l9 c6 N! u3 f
spécial doit être utilisé pour absorber le rayonnement UVC. Cela est aussi important pour
" `* w' U/ w5 H3 E$ G9 R- oéviter la production d'ozone.5 z. ?- ~: T, P: s
A.4 Eclairage solaire naturel
$ l' i6 p& A7 L' d$ X5 TL'éclairage solaire naturel peut être utilisé avec concentration. Comme avec la source au
$ Y6 K; T% t1 g6 ~7 x1 Mxénon, pour atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et
. N/ T/ z& i5 Q% Q. q1 C. s6 z320 nm, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2 d'exposition2 t3 ^. s0 Y: i; p, d+ k4 x
énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde de 280 nm à 400 nm.' Q: h9 ]) J) G) b3 o
___________* W1 L9 x; ^& ^5 W0 U0 A u
61345 © IEC:1998 – 11 –+ E; `$ e& T+ o- U) T
Annex A( j1 K: u2 L! O2 ?5 Y' z
(informative)
% D1 k2 Z4 V9 ?6 I: Z o) qSuggested UV light sources3 n( M4 c3 Z& o# x7 S
Selection of a UV light source is based on its ability to meet the spectral requirements of this2 E4 a2 y& H! k& ~# _0 {' I
standard. The following UV light sources can be able to meet these requirements when- S' P: B- y8 t% E6 C! y0 w
properly mounted and/or filtered.' c# S$ ?# i5 d4 V% o
A.1 QUV-A and QUV-B fluorescent UV lamps, or similar1 U9 e6 g. a2 r2 K
QUV-B lamps have a spectral range from 280 nm to 315 nm. The only drawback with this light4 U+ z% ~4 H7 o
source is the fact that almost all of the irradiance will be at the high energy end of the specified2 C1 r) u- X9 i1 Z
irradiance range. A combination of QUV-B and QUV-A fluorescent lamps may be used to; `. q* c( C5 N6 s- K% A" s2 s
provide the required irradiation in the specified ranges., [( X( F+ w2 `7 }; ^3 w, @2 @
A.2 Filtered xenon# [/ W' o; V# H9 @3 A' b
The spectral irradiance of a filtered xenon lamp in the UV-visible range most closely resembles
6 S% d U. Y. s, mthe spectrum of natural sunlight, especially in the wavelengths from 280 nm to 320 nm.
n, `8 t1 d# m3 R. ~0 `+ O2 SBecause xenon reproduces all of the solar spectrum, it has more energy in the wavelength
v5 y9 A, U6 K: G4 g- t( w( }bracket ranging from 320 nm to 400 nm than the test specifies. To achieve a total irradiation of3 P% w' @8 q/ c- e- D
7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm with a xenon source, the sample may be exposed to# Y I/ U5 `1 ?- e
considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the wavelength range# \* r, U7 U, e( B9 k3 w z2 a6 @
between 280 nm and 400 nm.5 E% o; G* e# E. O7 }
A.3 UV-high pressure metal halide lamp7 N* n1 t- k3 W4 k* d
These are high pressure mercury discharge lamps with metal halide additives which radiate
) q- l' ^3 `1 }2 d Y: ] b9 Bmainly UVA and UVB. Special quartz glass shall be used to absorb the UVC radiation. This is9 S* L# o0 F' p2 \- @ P C: ]4 V
also important in order to avoid the production of ozone.
$ I, A( `; X; d8 n" K) {A.4 Natural sunlight
K6 K7 v6 K' [9 Z4 [6 [0 S3 gNatural sunlight can be utilized with concentration. As with the xenon source, in order to
& A" w2 X# Q" H2 wachieve a total irradiation of 7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm, the sample may be
( Y& s& T: v# |$ uexposed to considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the9 D; d" E1 x1 m4 _, J! m
wavelength range between 280 nm and 400 nm.
3 j' [" F1 T y! X8 f" l___________
8 H9 d8 L! S7 [8 kStandards Survey6 q# f7 g+ A! d6 f! }$ B2 J$ t8 @
We at the IEC want to know how our standards are used once they are published. h! }4 E9 Q" L0 D V, r0 }; \6 Q
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) C4 ~& }1 h# w+ }+ p% L8 e Ufor a lawsuit
% r' s% ]/ i' T& Z5 _for quality assessment
: L/ C+ L8 k- n' nfor certification0 F$ {( n% R- P" H" n
for general information6 f! O! P$ |3 P& J$ I' e1 t
for design purposes- w, P: ]& k6 W
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other........................................
" O( L6 I! x" Z0 n" `1 a$ P. F5., V, @5 e6 c7 g! i' r" Y
This standard will be used in conjunction
# P7 n$ h6 I5 _* Rwith (check as many as apply):
# k0 r4 Q y2 M" [4 p( N' ]IEC
7 t' D( Y3 i9 {: X) _( S: n* C1 _ISO
" I* a# `; B+ d j6 Ycorporate0 o- V# H$ A9 i' o. J9 V0 M1 b
other (published by................... )
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6.
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+ o, ^/ P9 }' [0 ?not at all' j- u) l3 t1 i, V3 K
almost/ v' w, f6 _% ~. b3 A
fairly well
& Y6 q. J1 M: Z+ Rexactly
$ k4 F3 b$ p/ R1 P7.2 T0 i) t1 g6 c+ [
Please rate the standard in the following0 w* n( t$ y5 Y4 y
areas as (1) bad, (2) below average,
9 E, ~. I T( \ |, d6 x" w0 T(3) average, (4) above average,9 Q. J* b, Z$ |0 x) P# {2 Z. P
(5) exceptional, (0) not applicable:
$ l2 W4 D, x, k; i8 ` F6 x" sclearly written
( s9 ] [/ F$ K5 C& B7 @5 Wlogically arranged
! B+ {( a3 S. Vinformation given by tables
3 C9 o$ D: z4 |& Killustrations
# ]5 P1 |; d! D0 Dtechnical information
( H1 ~5 S' {! D6 [$ P% F* f8.
/ K1 z: N+ a4 b: cI would like to know how I can legally* j. J, R$ q9 z
reproduce this standard for:
& @; l. h5 W5 ^: ]5 Minternal use( O+ b4 F; X# A a' P* }+ ]
sales information3 b( ~3 B e( {) n% A9 R7 M8 ?
product demonstration! X) `9 J; r* O& b. X* K, W
other ................................
) N9 K6 L) D3 X. |- T9./ _% h/ }4 I$ k5 U' N
In what medium of standard does your- D; J9 R, M# v2 ]$ v/ p# o
organization maintain most of its
) q$ h! o0 L) o. Cstandards (check one):9 Z4 A2 Q4 H* U- b' u
paper
6 p4 a: Y( h4 j4 U0 hmicrofilm/microfiche
% m$ v, S' `- G# e+ T& B3 emag tapes% N+ K$ V7 a5 }7 P3 h
CD-ROM' r) f i& @! p7 m! L
floppy disk8 t* ~: c$ w. f
on line) k7 [# n4 F, ^5 m& R
9A.
) U/ p9 v; t3 V3 k2 o0 _ h; A9 d wIf your organization currently maintains! x! _# h/ R4 W& H; d4 d
part or all of its standards collection in V+ h0 O1 f0 J; N- d: e- [
electronic media, please indicate the& I) B- }- L+ r, Y
format(s):. |8 H3 w/ x6 Q( p [
raster image
0 z# v2 x: B; u( Ifull text
1 S; z3 s# z, p10.7 ]6 ^/ u' m" F
In what medium does your organization
" v, Z8 I$ O+ a8 t) R% c( K* eintend to maintain its standards collection8 \4 @) v) y& Q) Y6 }# ~
in the future (check all that apply):
( L* H3 @9 g$ g3 m- t# W0 v# K: Ypaper
, f. t1 E% s& v/ [microfilm/microfiche! o" D7 F! y9 N1 A. e9 J \" k5 `9 h5 Z
mag tape
; s/ f8 O F1 q- j% { ?; eCD-ROM' B: {$ V9 R" E) h6 [
floppy disk& T) }/ J# h& v. _% W( H! D+ [
on line9 W0 o; j' A0 C9 i
10A.
) Y" z9 [- w' ]$ d [For electronic media which format will be
6 z: j: |0 d1 n7 fchosen (check one)4 t3 [' c4 A: b* _; |/ B( F
raster image- q- n/ @7 @# z3 F* B
full text
3 @% s9 c8 Z6 s, Y; {# V11.
2 B$ {% V4 |0 a X' o1 k4 [- zMy organization is in the following sector# n$ n' G) H9 U3 Q
(e.g. engineering, manufacturing)
$ h. M' z' r+ N% i...............................................9 ^0 c9 N; m4 z% x7 q+ q& f! E& }
12.
+ H9 @% E+ `) ]6 S( \; KDoes your organization have a standards- x4 Z& a# T* b# ?
library:
r0 v5 l# a0 G) Q& Gyes9 s% i' e" }1 o( A
no8 [8 m0 T5 }; ~8 j. U- @
13.
1 ^3 M+ f' d# H! d0 BIf you said yes to 12 then how many7 a- t8 J5 T/ [, {4 |/ I- n. r# B
volumes:+ Q1 R/ R, C" H" B
................................................! W. i- Z& T2 P0 R& c) I- o, w
14.
: N H W/ Z. q# zWhich standards organizations
3 g- ~2 b9 T3 s) K# }0 M; e8 L& {published the standards in your Y" h% q1 W7 ]5 S
library (e.g. ISO, DIN, ANSI, BSI,2 f& |' n2 Y" B
etc.):1 Y. V5 @. J# @1 k, Z- t+ @
................................................2 Y7 N V5 [9 _: U2 Z1 q# g
15.
7 b! W) T, Q- h2 z# a& |My organization supports the
. u5 z/ Q0 {# P U+ t2 gstandards-making process (check as
- t5 v& l9 P. l2 c* xmany as apply):, b! [% _, ]" n/ s2 I. p; m
buying standards; H* G+ @+ G9 n3 @5 l4 ?1 F
using standards0 p5 I& r% U/ @+ ~* h1 E
membership in standards) @: m8 o" l2 K
organization: Y! ~8 D( m7 r9 X3 U* v! f
serving on standards0 j- g( n! [5 D) {. [2 F. s& H2 P/ |
development committee
# V" h; g( k* H3 e3 @7 Sother ................................- ?( V" a) W8 ~8 C
16.* Z, J6 Q6 P9 I! r/ k
My organization uses (check one)
5 \, [" D2 m" s0 m" |2 I! IFrench text only
6 ~- U$ S2 T+ kEnglish text only
. a' B! B+ h6 r' q9 O9 ABoth English/French text
, k1 ^3 o" S- ^4 D17.
) Y0 W6 @9 ~! wOther comments:
8 C. c) n$ v6 {2 P........................................................
, J# W/ `$ d! G1 H1 f......................................................../ z( k" S9 D( N0 w* Q8 T/ ?
........................................................
0 d$ G+ |4 r6 s5 Z........................................................
# j6 w8 J; \3 @9 l........................................................ a' C9 W u. ~+ N% g( `7 J
........................................................: \0 s, @- E8 S- v1 O4 @+ T
18.$ R( O5 N8 V2 j: v' j0 R4 u; N
Please give us information about you
0 }4 i- \9 `' @7 }, ]4 t# t, Qand your company5 u; g; w7 M7 }5 S& q: i4 {
name: ..............................................7 L4 D; I+ X$ e, c1 O. ^& Y
job title:............................................/ ], i0 x6 m# v& B; f: q
company: .........................................
! k2 k! |9 K; V1 S5 f: Yaddress: ...........................................
. S V3 @3 U/ m8 m........................................................, S; y/ f% N; F4 c
........................................................: I6 z: r( G9 W5 w" Y) m
........................................................4 c4 e5 ~/ e6 ~2 v0 S/ v9 |3 Z
No. employees at your location:.........
/ I# J9 j& m6 ]7 w' b; nturnover/sales:..................................8 F& d6 g4 A2 @+ Q/ J2 i
Enquête sur les normes
' g$ T% p% m& w1 @9 MLa CEI se préoccupe de savoir comment ses normes sont accueillies et utilisées.
# d( C4 R D3 M/ s0 p. WLes réponses que nous procurera cette enquête nous aideront tout à la fois à améliorer nos
% N* c7 x( z# I& D0 dnormes et les informations qui les concernent afin de toujours mieux répondre à votre attente.% d* _) R+ L9 ?9 y( S
Nous aimerions que vous nous consacriez une petite minute pour remplir le questionnaire
8 T4 P4 z# ~8 X2 Mjoint que nous vous invitons à retourner au:; A* W/ z5 ?: d L; b
Centre du Service Clientèle (CSC)4 I" C. j/ I- W4 D& t# k' s
Commission Electrotechnique Internationale0 p( d. W6 B5 j( P' J; n% ^% t
3, rue de Varembé2 I8 m6 |/ T. \7 h8 b5 A6 S
Case postale 131
; ?! h" b- K2 B: n9 Q+ y1 ~/ L* h1211 Genève 204 E7 E" k8 B( I$ p* Z9 ]6 d: ^
Suisse( @9 f |6 Q3 I! O/ @' a4 m- _
Télécopie: IEC/CSC +41 22 919 03 00/ H3 J% Q/ Z- C D; \ l4 P4 _
Nous vous remercions de la contribution que vous voudrez bien apporter ainsi
9 |; S% b3 j! Rà la Normalisation Internationale
, q+ _/ Z/ S- jNon affrancare2 Q- O% \0 Y& m% K
No stamp required
# w# a) n3 _7 g6 K# O! sNicht frankieren
& T( r! Z5 j, L: V+ u0 dNe pas affranchir( v2 F e$ q: W# G3 {
A Prioritaire
7 l; I7 V; q( m; bRÉPONSE PAYÉE
, O/ m8 R- F" A$ T5 J5 FSUISSE6 O5 t5 b* @" n5 b* k3 H
Centre du Service Clientèle (CSC)
* V z$ u( D; N. z: H; bCommission Electrotechnique Internationale8 ?2 A$ L( P5 J- i, ]4 H
3, rue de Varembé$ ]' l; b) C+ f( L
Case postale 1319 w% q3 O- S8 e& ^0 |7 r8 n* x
1211 GENÈVE 20" L) l% q- M3 \" b7 {
Suisse
8 }, i) C4 U# C3 E4 Y0 X1.3 L- x8 z+ q" z: Q, g) @
Numéro de la Norme CEI:
/ b' {! t- b$ T/ L.......................................................
) ]4 k4 Z* }5 q; _! q7 P: _2.
: i: [/ Y8 n m" d- gPourquoi possédez-vous cette norme?
, Y; g, N8 F) Z7 S5 O(plusieurs réponses possibles). Je suis:
% ?- s$ Q. f6 z Ll’acheteur
& l8 _8 x5 f& c% g+ Zl’utilisateur6 U# ]0 |+ T% {
bibliothécaire
+ t& I4 Y# t+ h' o4 X8 g2 S$ W% A achercheur) t, T& x+ i- B$ u4 @3 g: \
ingénieur
8 y9 B S3 h' Z- Q7 x+ t4 j; N" yexpert en sécurité' m. f2 ?: r: h6 U: j8 E Z
chargé d’effectuer des essais
) G$ l6 \6 y3 A( C lfonctionnaire d’Etat
7 Y* s7 v3 g3 U% o9 |8 g4 [" U* hdans l’industrie6 `: z% ^% k% j7 y, E
autres ......................................
m2 t4 l( ?! G. n/ ]* C d0 c3.6 l% {8 N s! n" f: W; d$ }! ]- [1 C
Où avez-vous acheté cette norme?
8 s! E6 ]& V9 I4 H.......................................................
; n# x2 A6 w3 F0 s: G4.
5 C9 N+ ]) ?0 v+ {' GComment cette norme sera-t-elle utilisée?, g g4 [1 E7 v, t/ I- g
(plusieurs réponses possibles)
- i& `8 m4 Y: [comme reférence+ N$ W" Q9 t0 V/ W0 C" A
dans une bibliothèque de normes
/ @1 G# c* ]3 fpour développer un produit nouveau
7 ]0 s& z2 i. |pour rédiger des spécifications0 H/ E ~! t4 J$ L0 U4 ?
pour utilisation dans une soumission
' G' A, Q7 @& f7 là des fins éducatives
. S1 a. {7 a5 k$ X7 [0 G7 z0 mpour un procès2 K, { `! x) O" y
pour une évaluation de la qualité5 f" y0 S* s$ m
pour la certification
" D8 S, B4 G. _ ], I9 Q% X8 yà titre d’information générale% p7 Y3 I9 p1 [# a2 X
pour une étude de conception
( ]0 B3 f) g# Ypour effectuer des essais, o' m. C. B5 ^) o- G7 a2 l
autres ......................................
( h3 n! Y; o; c9 V5.
5 `4 H; y! J* Q: @Cette norme est-elle appelée à être utilisée0 |! q- [' J) c! v e
conjointement avec d’autres normes?$ x: T1 B: z! T. [9 T5 @
Lesquelles? (plusieurs réponses possibles):
% l* `) D* Z$ H A& R yCEI: D" ~+ C5 D: F
ISO2 M: o7 m" V8 h* x9 G* w: T4 F
internes à votre société# j4 y9 W6 o/ {, Q. o* v, |; u
autre (publiée par) .................... )
$ _; b5 f! E9 k, p# K1 wautre (publiée par) .................... )
( g& Y7 N, I) g& q+ i2 Oautre (publiée par) .................... )
" V6 f+ S4 a8 `* H F" @+ I6., L8 b0 r' S* I" @' y a
Cette norme répond-elle à vos besoins?( r5 w! h+ l3 i: l! ~' N
pas du tout
# ` G$ ^( V! `( o X* B$ w+ Nà peu près
$ C" j" x5 `0 X, Z( i* l% ^assez bien9 t) {+ w7 w, ?
parfaitement. R# D8 V/ X7 _; @4 Y% Z. v7 n
7.- }# x+ R: R: b/ |
Nous vous demandons maintenant de donner6 q8 D0 B8 c! e' e3 N! }
une note à chacun des critères ci-dessous( U5 R; o5 \' S8 t4 y9 O) n/ R0 B
(1, mauvais; 2, en-dessous de la moyenne;
: n" h7 S7 {2 K# [( h: S3, moyen; 4, au-dessus de la moyenne;
+ l/ H+ Q( o) y! `5, exceptionnel; 0, sans objet)
( `! M* Y4 W* H/ t+ j! Eclarté de la rédaction" ?% f" A( o% Y
logique de la disposition8 q$ b" r0 `+ _& y
tableaux informatifs3 u% T; C) q! K" ?, D8 n
illustrations" [( x0 k- L2 X
informations techniques
# v1 ^. ^$ d8 H$ f1 [, S8.
J/ \+ y1 }8 {; j( VJ’aimerais savoir comment je peux# T( Y3 K* M' [( Q% W5 u: ^& v
reproduire légalement cette norme pour:& I1 J- n3 M: ?
usage interne3 ~; P1 }" k9 ~# I
des renseignements commerciaux! Z) n( N& m) m1 B9 F3 g7 R
des démonstrations de produit
" h0 b0 u! e. ?8 h5 Zautres ..............................
3 w/ g8 j# N3 o1 C4 V. u4 J$ x9.
! Q: D- s2 O( X" }Quel support votre société utilise-t-elle
+ T1 Q8 J, ~4 @* q$ x7 Spour garder la plupart de ses normes?6 b" Y! B) G4 O1 q2 a
papier* S: ^+ n* T; j% j, U
microfilm/microfiche
3 G7 `9 i* c( {# B6 Xbandes magnétiques
) J" R' ]# H9 V: |6 mCD-ROM- B7 @) o! P- y! I
disquettes, E: l! @8 J) G' M
abonnement à un serveur électronique1 T2 y# v+ f) S) N @3 q2 _) k. x
9A.+ d2 ?9 j' V" m j6 b
Si votre société conserve en totalité ou en K3 w M3 V6 {% A: c
partie sa collection de normes sous forme
0 w) H p9 x7 \8 T9 t0 K+ q4 sélectronique, indiquer le ou les formats:
% v2 f1 O0 d- V& |4 V( [format tramé (ou image balayée7 J: y, N1 O' \0 E
ligne par ligne)8 I+ ?$ _8 ~) S9 u. H4 n
texte intégral
3 O3 B+ N& J/ Y* z, K* [10.
: o3 F) y/ H# B( {1 O. X8 pSur quels supports votre société prévoitelle+ A8 \4 b: ]! J! N; z2 m
de conserver sa collection de normes
% O0 L0 {9 v: K) ]$ fà l’avenir (plusieurs réponses possibles):
) e# B e6 g$ @2 h& Q! Y9 F- rpapier R5 T" G3 J8 H: e. m) H; n
microfilm/microfiche
: N' f0 a; s5 r$ B8 u) bbandes magnétiques& F$ C9 X2 P: K- n- l
CD-ROM
/ q- Z) g; ]0 n: Q3 Z7 mdisquettes% F5 _- @" l# s# b% P" _
abonnement à un serveur électronique+ u6 e5 x' a6 T. C
10A.2 U) D" C- W# {; j! L4 d, R
Quel format serait retenu pour un moyen N+ ], Q6 \! x: a
électronique? (une seule réponse)
) q% s7 C3 V& O3 oformat tramé7 V* {- K6 ~' D9 B1 V
texte intégral l& c$ t' ?2 o4 z" J" Q
11." f d \% N% b& X1 K7 p* f, C
A quel secteur d’activité appartient votre société?5 \2 L7 d8 ^" B- g K9 J/ s
(par ex. ingénierie, fabrication) B. j+ h* {# a( R( N4 P+ N* A
...............................................
# q- ?# D. r6 M6 W1 W5 f* C5 F12.
" z! D) Z, ^3 I0 S3 M1 h. XVotre société possède-t-elle une2 n4 P! @2 e# [4 o( g
bibliothèque de normes?% p: F! g& E! U/ ^; l
Oui
/ N- u$ }1 g% i* VNon( h: X; N. L4 Q* }# [) h' ?6 `
13.
4 E& ~( ~+ \! W# l/ |6 [; MEn combien de volumes dans le cas
1 S$ E% G4 L. ^& k4 Taffirmatif?7 u5 ^. {& n/ p1 l% s
................................................6 b0 G, `' ?. k% M
14.
# f" w6 |( z: y0 e4 sQuelles organisations de normalisation. g5 p$ a4 P6 q& f3 R8 L6 ~
ont publié les normes de cette
P5 a6 D8 k8 vbibliothèque (ISO, DIN, ANSI, BSI, etc.):
9 U; }0 h! I- _% j$ U* f& [................................................
8 `8 a% Y% W& s. O15.
' E: `$ D% T; r7 H' D$ CMa société apporte sa contribution à
! U Y5 c. K' n" o' Q1 ?8 h+ a5 V* ll’élaboration des normes par les
4 [, s0 L- T, X7 u: Y. H/ a3 {moyens suivants: q B2 t% {, R
(plusieurs réponses possibles):
6 Q, b( D& z4 v# Xen achetant des normes8 J. D4 ?1 `; F( H
en utilisant des normes& ^1 u# b. d* @* S/ |% X
en qualité de membre d’organisations4 Z$ y- h3 @# ^, r: i: p- o) G
de normalisation1 A1 [7 {0 n6 D) z, i7 N1 J
en qualité de membre de
% ^) Z! B7 s' u8 O' Fcomités de normalisation3 w, [- o; q) s/ Z
autres ..............................
. l$ b* [+ F, ]3 C# m16.# ^2 V& w; \0 K$ Z
Ma société utilise (une seule réponse)3 g/ h& y. u" ^0 X& K
des normes en français seulement: i$ c$ M8 G: X% y, D9 _- A( p" M
des normes en anglais seulement
; h& N |' y7 G' V J' v6 ~, Qdes normes bilingues anglais/
- ?/ ]2 x0 V; k& ]5 a! E+ [français, q. X( p& M+ e7 b8 b
17.4 f4 x& ~4 z2 {
Autres observations
. m2 v+ o$ a) w' A F- i6 q........................................................
0 p1 s5 ]( }+ J+ A" S........................................................
7 g! T! {( s7 l5 [4 I; v: Q........................................................! r* c0 L1 K( E# L
........................................................
" S/ v, A& E" d........................................................8 O# E' F7 o& `! B
18.
# H6 t% n7 J: V$ D. f0 rPourriez-vous nous donner quelques1 ?. Q- F% ?3 ?
informations sur vous-mêmes et votre( t+ l. d) N, M3 I2 X0 [
société?
1 S8 Y2 N7 D, ?+ \/ d8 hnom .................................................
% c8 H, u4 _$ n% z, M8 d. Z# I* \fonction............................................' W' @9 o: V x; P1 n( `
nom de la société .............................9 h" v/ n+ A$ j" I. K, w! C
adresse............................................
$ v+ e8 ]0 |" Z4 l7 } f........................................................
# q# v$ i- H6 J$ m; B........................................................
+ z8 Z, @) U$ l' b ^- C" z........................................................8 @ E- U5 I6 X
nombre d’employés...........................2 \9 P5 |2 i# N" q, q( r
chiffre d’affaires:...............................3 N0 x1 x9 Q, k
Publications de la CEI préparées IEC publications prepared6 E' w4 s& p! t2 h" P
par le Comité d’Etudes n° 82 by Technical Committee No. 82% j+ l% _9 o# K6 G# |
60891 (1987) Procédures pour les corrections en fonction de la
5 y* q" K- m+ g; Otempérature et de l'éclairement à appliquer aux
& F9 g% D' e) c3 p$ v/ g2 ^caractéristiques I-V mesurées des dispositifs
H0 q6 ~7 S' {! e* \photovoltaïques au silicium cristallin.# M; C4 H+ C$ Q+ s% K( [; q
Amendement 1 (1992).
( `$ Q4 U2 J! T60891 (1987) Procedures for temperature and irradiance corrections
. [0 ?: o' a3 I% X4 {8 z/ @; Ato measured I-V characteristics of crystalline silicon
- \. j0 ]0 P5 o: H. o! L' Yphotovoltaic devices.
! X/ \6 j6 Z- w. QAmendment 1 (1992).
5 J" d1 z+ w# ]60904: — Dispositifs photovoltaïques. 60904: — Photovoltaic devices.
. o" V }1 q& ?2 \60904-1 (1987) Première partie: Mesure de caractéristiques couranttension( b: r& P/ A" ~+ |; { Y
des dispositifs photovoltaïques.
: y: F; _: V4 ]5 t+ j60904-1 (1987) Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage
, W; B2 n3 ?3 s$ \characteristics.
% z) e9 |8 G# q60904-2 (1989) Deuxième partie: Exigences relatives aux cellules0 V. ]# a, j. L# a
solaires de référence.7 b' z$ ]# E- u, h" s% l
Amendement 1 (1998).
0 Y: d* j4 Z7 x2 j# {60904-2 (1989) Part 2: Requirements for reference solar cells./ J: r T; Q+ O y# C& D3 g5 B
Amendment 1 (1998).
* z5 y' l/ V% M4 B9 s9 \60904-3 (1989) Troisième partie: Principes de mesure des dispositifs
4 v* O$ {( k: q3 y; msolaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre$ o! r$ ]. v3 g, o
incluant les données de l'éclairement spectral de7 N1 R7 q8 \4 X: U9 b
référence.5 B4 R$ T7 q- [, M- ~+ k
60904-3 (1989) Part 3: Measurement principles for terrestrial4 F# z& I k- I, A
photovoltaic (PV) solar devices with reference
' Y& B& x: ~1 Uspectral irradiance data.& R4 z1 e- }2 w) t' F
60904-5 (1993) Partie 5: Détermination de la température de cellule
8 D- ]/ Q4 `2 k; `) M$ n8 \équivalente (ECT) des dispositifs photovoltaïques; m5 b9 [4 D- X& Q. z! d1 E) h
(PV) par la méthode de la tension en circuit ouvert.) C& b/ ^2 B# ]' H) e& s
60904-5 (1993) Part 5: Determination of the equivalent cell
1 c3 P. ?7 Y" K# F8 g# Etemperature (ECT) of photovoltaic (PV) devices by
: _% i) y/ }% S/ u* F6 l) a9 [the open-circuit voltage method.
6 l. d3 v# i& d/ {+ z60904-6 (1994) Partie 6: Exigences relatives aux modules solaires de
& {8 K+ N6 g. i+ W6 I2 qréférence.2 f1 f8 D5 v: ^2 f
Amendement 1 (1998).+ v, {4 N2 W2 s
60904-6 (1994) Part 6: Requirements for reference solar modules.
* y# T3 }2 c4 G7 E: vAmendment 1 (1998).( t% c! i" `' F8 | _' r
60904-7 (1995) Partie 7: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-7 (1995) Part 7: Computation of spectral mismatch error
( R" t* U" f, n J3 Q4 g4 J) Wintroduced in the testing of a photovoltaic device.# Z. @% L9 A8 L& n4 p
60904-8 (1998) Partie 8: Mesure de la réponse spectrale d'un% v3 G" M$ i9 a# t% T1 W( B
dispositif photovoltaïque (PV).
; k P/ K$ L/ I( |! O! v60904-8 (1998) Part 8: Measurement of spectral response of a
) d9 h, J8 t5 ^photovoltaic (PV) device.
3 m& b! v7 l( X; X60904-9 (1995) Partie 9: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-9 (1995) Part 9: Solar simulator performance requirements.4 u; A, { k; W" C2 q3 d1 \- t' J
60904-10 (1998) Partie 10: Méthodes de mesure de la linéarité. 60904-10 (1998) Part 10: Methods of linearity measurement.8 `5 N) j5 }$ A+ b( y
61173 (1992) Protection contre les surtensions des systèmes
% w9 x# j: S* G5 C: c5 bphotovoltaïques (PV) de production d'énergie –3 {6 t. g: f/ C. G. I5 [; Q: D6 G
Guide.% G/ Y% O$ I. O: w5 c7 f( [/ o
61173 (1992) Overvoltage protection for photovoltaic (PV) power
* t3 E* J! B" t5 cgenerating systems – Guide.- D/ r. g. r9 w7 Y+ G
61194 (1992) Paramètres descriptifs des systèmes photovoltaïques! K* ~+ ]5 v: [; J
autonomes.
% S2 X1 E4 s1 D" J& a61194 (1992) Characteristic parameters of stand-alone photovoltaic
7 s3 W# f8 @& D) Q: Qsystems.# Y% z& x/ w4 D i) |+ i' k
61215 (1993) Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin
! _$ F- ?8 y; Hpour application terrestre – Qualification de la% l: m8 H; }5 R U* P5 u R6 a& ~
conception et homologation.
* T9 `9 f( x0 J( \7 l% g61215 (1993) Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV)
* y- z: A; L% r. R/ lmodules – Design qualification and type approval.
" K4 q" c; c( {% |+ W61277 (1995) Systèmes photovoltaïques (PV) terrestres – Généralités3 y9 T! l7 N/ O' Q8 G( G
et guide.
$ Y P1 Z/ v+ a! L( Q+ n61277 (1995) Terrestrial photovoltaic (PV) power generating
+ X; @4 ~. i" C2 k/ O2 L6 ~systems – General and guide.
7 ?9 D. r. v9 v) Q/ S) [7 Z$ b61345 (1998) Essai aux rayons ultraviolets des modules
$ _: e/ r# i# I6 Y8 B* s& Q6 d( `. `photovoltaïques (PV).
& G/ `, y3 F2 t+ R61345 (1998) UV test for photovoltaic (PV) modules.
5 c; a7 q: l% c# M5 f* M, K61646 (1996) Modules photovoltaïques (PV) en couches minces
# J# I0 \" L* V9 u% ]! X7 K/ _pour application terrestre – Qualification de la; G& x- z( f* M, S
conception et homologation./ {. K* X( g6 P1 ~" T' p
61646 (1996) Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules –
- C/ p" ]5 W4 t/ ^* z; ZDesign qualification and type approval.
9 \4 B S8 Z; x61701 (1995) Essai de corrosion au brouillard salin des modules
1 p% P% W- _: g; D! I) n% \( pphotovoltaïques (PV).
% z9 u. Q* \! s- p) T61701 (1995) Salt mist corrosion testing of photovoltaic (PV)
: d9 V' D! ]( j; ^) b# Z( @modules.# c5 O) ^# |2 j* d6 o* P
61702 (1995) Evaluation des systèmes photovoltaïques de pompage: |8 b4 m, `, T$ j6 }, |% r5 m
à couplage direct.
. |* E6 ~7 Y; f) g61702 (1995) Rating of direct coupled photovoltaic (PV) pumping
( x8 d, i" G9 g: ?0 O# ]7 d! m# gsystems.
; p. `- z- y- K61721 (1995) Sensibilité d'un module photovoltaïque au dommage4 Q: T# }, G1 C! J2 D( A8 ^+ {
par impact accidentel (résistance à l'essai d'impact).
: ?8 p e( V8 c$ r& k" u/ C; ^61721 (1995) Susceptibility of a photovoltaic (PV) module to
- H$ O/ D/ j& x; Eaccidental impact damage (resistance to impact test).
% h/ ~, s7 S0 N$ @6 @61725 (1997) Expression analytique des profils solaires journaliers. 61725 (1997) Analytical expression for daily solar profiles.
7 c1 r& ~$ v' C8 W9 V9 k61727 (1995) Systèmes photovoltaïques (PV) – Caractéristiques de2 @3 n' K. j0 n6 [1 ^& _7 d
l'interface de raccordement au réseau.& k; z- Q( Q9 Z% x W" n9 D
61727 (1995) Photovoltaic (PV) systems – Characteristics of the0 ]' P* M, ?5 _, W
utility interface./ b( ~- Q5 T0 W# E
61829 (1995) Champ de modules photovoltaïques (PV) au silicium
, f+ M% v+ s) O. D3 ]3 o7 v8 i5 Pcristallin – Mesure sur site des caractéristiques I-V.* M2 _$ Y W# Q8 d3 P- \1 \
61829 (1995) Crystalline silicon photovoltaic (PV) array – On-site
# Y- `7 `; G$ Z( N6 d, nmeasurement of I-V characteristics.$ A5 }' x9 p! Q: N
61836 (1997) Systèmes de conversion photovoltaïque de l'énergie
3 ^* z3 t7 N8 E. Esolaire – Termes et symboles. Y, T2 U9 I$ q* k- H% ~+ a3 `& p( a
61836 (1997) Solar photovoltaic energy systems – Terms and
$ K' s5 S! H6 y* d8 \- Tsymbols.
) n8 C: L$ B/ T. ^+ E2 {6 X9 X# LPublication 61345
% l3 f" j) Y8 i1 c; I9 X6 K4 \8 r2 @ISBN 2-8318-4250-6
8 `, l, V9 u+ j; W0 F, O&1+', ;7583<
! Y! W5 U5 ^- L/ PICS 27.1607 ?" D; i1 R: M5 }( e y3 _$ e8 U: x
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