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[综合话题] IEC61345

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发表于 2010-9-19 14:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
NORME( }; O+ D8 p- A- C2 E( K% n$ \: o
INTERNATIONALE
; ^6 P8 A( ^6 wCEI  H2 }+ e9 Z- K: t# K; f
IEC. t# l$ @+ q# [7 K6 `
INTERNATIONAL+ ?% }5 t" {9 @. e
STANDARD" s* d+ e6 S6 ]8 G* E2 |
61345
4 e3 L& G! v' q! ^) A6 l- ]7 `Première édition1 y" O4 m$ o3 ?# C7 ~
First edition
/ o& r. |9 f, E3 T; L9 t6 m9 ]1998-02
6 n0 @1 _- e/ @% BEssai aux rayons ultraviolets
2 R6 S3 ^7 v( D2 V. g5 i$ Q% ]- ades modules photovoltaïques (PV)" j4 n9 O4 T0 R; J) ?4 n
UV test for photovoltaic (PV) modules0 n2 r0 T+ J' |. c9 ?
Numéro de référence
5 @) J) k2 `& q1 h2 JReference number
. B, ^1 v. O0 y6 rCEI/IEC 61345:19981 Q5 s4 P) s& v8 ?. D  }& j* z
Numéros des publications7 r" Y8 P+ G4 c# B1 w' z& U
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI" D/ J: R6 z0 j6 y, t
sont numérotées à partir de 60000.
" k  v6 h3 J9 w2 [. E* e6 T8 uPublications consolidées8 V0 a' U% J2 Y/ f+ ?
Les versions consolidées de certaines publications de6 Z- w. k; L& |- ^' r* w
la CEI incorporant les amendements sont disponibles.7 ?8 V* u3 Q, u! S2 y. `
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2" r8 T2 \7 v/ w* |* F6 Z! e
indiquent respectivement la publication de base, la
) [6 a! [) F1 ^  g7 n# @% Vpublication de base incorporant l’amendement 1, et la
3 }0 R* H3 q2 f. I) K' u+ ?! v6 lpublication de base incorporant les amendements 1
+ C+ h8 \9 S- M. S" @et 2.
/ _; J# @, Z- j! ]! xValidité de la présente publication$ g+ E# H* Y" E7 c: h* k$ v
Le contenu technique des publications de la CEI est3 N% r& D/ |2 Z  H  ?
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état
+ c/ [( z2 C( f. @2 W* J$ oactuel de la technique.
' {* v% K; R; A% i  n& D2 A  zDes renseignements relatifs à la date de reconfirmation0 }( q: I$ o+ {9 s1 m
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de
$ A4 Y. {! c9 Lla CEI.; N; y; f/ J1 [0 Y2 F) x4 c
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établissement
1 B! V8 u! S2 i1 Q6 W- k& ]( V6 tdes éditions révisées et aux amendements) k1 F* C/ N2 b- x% k! l0 {
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la
& s; {, k, N4 F) _0 _/ ECEI et dans les documents ci-dessous:
# C5 ~) ]! i  y4 O· Bulletin de la CEI  O# E3 i/ B: i) K5 q3 D
· Annuaire de la CEI
; a/ H5 I' R: oAccès en ligne*" G$ \" Z" f' i
· Catalogue des publications de la CEI! r. s7 c7 a9 `& o7 f
Publié annuellement et mis à jour régulièrement7 g* }. w' _; ^' a$ ]
(Accès en ligne)*
7 ^) c" e( ]" T/ b3 y$ FTerminologie, symboles graphiques% l9 i7 L, R. k+ D  }
et littéraux$ i. D2 z' ]. B% P' ]
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur
5 j3 }* a0 o& u' ?( h. Jse reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electrotechnique
+ p# Z  T& X4 P- ]International (VEI).
2 O4 S+ J( m* @6 b4 L7 _Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et% u7 U1 G' L+ {; F0 K* R* `" Z; ?
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le
  |! S' h& t# z, W1 W- Zlecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à# o. ^# J% {# W' Y  `) F
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles$ o2 C  @, S9 ~% [* |) q
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et; v% M5 \/ @7 @# A8 k. r; r
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:4 R" }8 ?: }* ~" X$ F
Symboles graphiques pour schémas.
  w" Y7 \0 m) ^Publications de la CEI établies par
1 {  a2 T7 _4 ple même comité d'études
1 b# p5 U8 F% w( p' N, I, G# _% wL'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à
5 G( l  E% g# T( w5 xla fin de cette publication, qui énumèrent les, r- d, ?% \6 F% P$ e0 x& G8 e
publications de la CEI préparées par le comité d'études# y- D& L' w' ?# V  F) ]# ~; a& T
qui a établi la présente publication.0 \" W5 ~$ V6 Q  I; \2 ]5 ?
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.
8 v* ~8 ^; t  y. K9 n$ WNumbering' _& j) n7 ]0 ]: o- c
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued/ q, b/ I5 X8 q$ [
with a designation in the 60000 series.( _8 k# e; [9 F! \4 K
Consolidated publications
2 P" `  J2 z4 f7 |: u7 `- L" eConsolidated versions of some IEC publications
# T5 k" Z+ l" t' M! y3 K7 X/ _including amendments are available. For example,
6 ?* j# I8 t7 N3 Jedition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to5 k; W, [# o7 x6 U- @
the base publication, the base publication incorporating: c+ z( y- A- d; j5 Z: N" s% ~
amendment 1 and the base publication incorporating
# p0 f) ^4 l8 {" zamendments 1 and 2.
7 `* n( Y* L7 x, ^8 VValidity of this publication
# S! d6 k, F# y( EThe technical content of IEC publications is kept under
- b9 A$ o2 q( `+ L/ Y" Y+ ~1 v* oconstant review by the IEC, thus ensuring that the
! S/ @# @9 B: w% _# }$ Ncontent reflects current technology.
8 D( B+ X4 G1 S% _; `/ pInformation relating to the date of the reconfirmation of
) J2 x% d1 G+ l& _! P' S/ Cthe publication is available in the IEC catalogue.
" p& ^7 q5 W7 u  }Information on the revision work, the issue of revised. s' K8 @" l- D! G) L/ s6 v
editions and amendments may be obtained from
, @. M) w" ~7 h2 m7 V3 `/ SIEC National Committees and from the following" [5 k- R2 }8 u* ~
IEC sources:
& T/ B8 J$ w, j· IEC Bulletin. u3 k6 _' u( m) f
· IEC Yearbook
% M% M; {) |+ `( l  OOn-line access*: ~. u3 U9 H9 ~/ R/ j7 M% ?2 y$ R
· Catalogue of IEC publications3 i, g) v1 C8 u! R# f8 O
Published yearly with regular updates
8 z! k& x4 D# K; B(On-line access)*
! w- e, f+ i( _: s) WTerminology, graphical and letter
8 z  z3 d  S: t: y3 Usymbols
% {1 I5 D8 e" ]) K& V; aFor general terminology, readers are referred to
! R0 _9 A$ P$ E* eIEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
9 R2 J6 V4 `  t9 F(IEV).
* I, \, K( \9 P% ~$ kFor graphical symbols, and letter symbols and signs$ k6 `9 I! M; B) i9 Q0 X8 ^
approved by the IEC for general use, readers are1 z9 }2 h7 j' T5 i# Z: F5 K; @
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
+ F; q; D/ e+ ]: m0 }% mbe used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
. Y" X- s% b% @( M  l$ Asymbols for use on equipment. Index, survey and
3 G% h1 }/ ~% B9 {* Ucompilation of the single sheets and IEC 60617:* A7 E2 q: U7 `/ H
Graphical symbols for diagrams.1 z1 m5 C( `6 w2 z4 L
IEC publications prepared by the same
! L/ b- x! H, X3 [# Rtechnical committee1 O2 P* s; [4 H4 J
The attention of readers is drawn to the end pages of8 {: @: L2 o1 y$ o6 P
this publication which list the IEC publications issued
% U/ M  J% W- t+ X( Nby the technical committee which has prepared the# l8 }1 p9 L) V
present publication.
4 e- y+ J7 r' A7 K, F4 B" X* See web site address on title page.4 t; e# @7 f* d, y( J; N8 ^( l5 d
NORME2 V* D0 p5 k6 d( b) b) ]2 Y; Q, ^
INTERNATIONALE, y) Z6 F& ]2 [' U" B- G
CEI4 e$ ^& p) C. U3 F
IEC
( w- l" j! C. AINTERNATIONAL, g& i8 h. Q7 p. a7 I
STANDARD6 ^, s6 @, B3 E2 ^5 s* `- \
61345& W: R, I, o( I3 Z1 j$ [/ U: e
Première édition
; _+ s6 }7 ^" _" m+ VFirst edition
- p& w, k1 R) q. ]" Z1998-02! b/ g2 a/ T' x. E2 d6 g- L
Essai aux rayons ultraviolets. o5 M3 d9 {. e" w, d7 Q
des modules photovoltaïques (PV)
( ~7 [" `" b0 F$ gUV test for photovoltaic (PV) modules
8 Q; W1 O/ @  r* H3 W6 rCommission Electrotechnique Internationale/ d: F* _, d4 g8 [5 B1 l
International Electrotechnical Commission
, x" p: X9 n. i6 b- kPour prix, voir catalogue en vigueur, r1 F4 b/ K2 I6 T: z9 m
For price, see current catalogue
/ h" D3 ]- P5 d8 G5 d( gÓ IEC 1998 Droits de reproduction réservés ¾ Copyright - all rights reserved
$ a+ k. O9 X2 w+ U) e- [: JAucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni- f/ ~2 L3 |3 b$ N; h
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
* X! A" S' V% i9 \procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie! v" z; z2 N" _# N
et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
5 _* k' L6 n& N  J& P: `" [No part of this publication may be reproduced or utilized in
9 K$ q& e5 [+ c8 F% c3 {' Uany form or by any means, electronic or mechanical,% _+ Y" _6 V# Q$ F; }
including photocopying and microfilm, without permission in( ?5 C& ~& E$ k; x' J
writing from the publisher.# q& a7 F9 H- M
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland2 n+ t# s5 z. \5 |2 P
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch8 o. x4 a* R7 c" s3 r
CODE PRIX) C. z! e+ Q& q% w9 w) ~
PRICE CODE F
" J* r# Z1 C* m- u2 r2 s– 2 – 61345 © CEI:1998
: ^7 b3 K/ U* Q' Q; \; H! xCOMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATONALE2 d0 o+ O) g" E4 P
___________
/ ?/ u; Q0 q/ eESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
2 G# z6 Z$ J5 j, r! k% A" e4 {PHOTOVOLTAÏQUES (PV)) I9 A" J; l5 L
AVANT-PROPOS
0 {6 z. t, v2 o. d: J1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
  k2 ]1 L) W6 b5 I% @5 ?de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
% z2 q$ u! f1 ^$ e! i: f/ q) O2 O" @favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
$ Z$ H3 N% U% Y4 pl'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
$ t" J9 Y' M4 ?; O# T4 n1 U9 Q3 M0 GLeur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le3 B+ C8 f- Q$ I
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
! ^- e9 L! o0 n4 oliaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
  ^1 h) L" h# p$ G: dInternationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.$ K0 t4 _3 _7 q
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
; n7 k, C( c  j4 O1 s' N- R3 Pdu possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés# W( l. l  C7 w
sont représentés dans chaque comité d’études.# ]; Y' q0 V; B1 V' Q
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
7 Y- B/ U# {- B" h% L0 ]- A" E7 M& Ycomme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
  q3 Z3 K7 H5 L4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de* w( d# H! }! Q4 i
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes( o3 O# q, j0 {$ Q7 Q: Z% m' t3 {
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
3 O0 m3 ?, p$ O' ~$ zcorrespondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
' e/ S! w4 F. }2 |5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
/ g( k* i& L9 O6 V! `3 on’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes." Y& Q" y8 x" {0 O; R
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire4 l5 U" N5 w; @2 N5 C  ]. ]0 `) `
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
( L+ {& K; {8 i& J5 ?" I* Wresponsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.: `; J% c3 |$ k* V  O
La Norme internationale CEI 61345 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI: Systèmes
4 ~" G, A  p: X* B0 N: h; D% {; \  Tde conversion photovoltaïque de l'énergie solaire.
7 u8 _8 m# a2 ^8 ^7 b. u+ A  ^% XLe texte de cette norme est issu des documents suivants:
8 m/ i( Y, d  `& m8 tFDIS Rapport de vote- y" e$ S) ^% r2 s* Y8 b
82/187/FDIS 82/194/RVD5 b0 a/ A: n1 o
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant  b  h# ?4 ?" d0 h+ ~: y# B
abouti à l’approbation de cette norme.
- Q0 U8 y( ~/ ?( {L’annexe A est donnée uniquement à titre d’information.8 t8 j, i8 D, W0 X
61345 © IEC:1998 – 3 –
2 f' d+ |3 E0 rINTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
3 t  B4 X/ V$ g& A' W8 t___________' v- C8 X+ s! e: A$ S5 r, M1 V
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES/ X6 x  n8 T1 i3 j
FOREWORD
2 _1 ?: q0 I) C1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising  d: I1 Z7 R, d/ U, @& a, m9 B
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
: k; U0 t5 d9 Ginternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To: a9 ~$ [" g* e. |* A9 ^
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is9 B, y1 m" {! w% s; i0 H7 P" i; z9 z
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
7 E  @( T: F; e* y2 a: m$ f+ ]: b0 aparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising; V4 e1 i% `% I6 h
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
' Y3 z/ }' I9 s( @, vfor Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two$ T# S: g3 s! g, R7 v# ~1 p6 D
organizations.
+ u4 E6 z9 J$ x6 T9 y2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
9 D( W5 Q- w- F4 ^) [- D" Kinternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
( Q- K, j: F% R' P9 ?9 d$ I) Wfrom all interested National Committees." J5 }' L$ T) I; ?  G- _& v
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
" b" {2 B) @$ F) T0 m' bof standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
3 A( o- t+ W  k& a% j4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International- w7 w: S3 T0 R# _( A6 y9 y/ S% z
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
! c/ w. M) k/ s0 t: @( Adivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly1 C- c; g# n( |5 N) T0 ?6 `
indicated in the latter.
+ w+ n# m4 d2 L/ b3 J5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
2 |9 z5 g  U: [9 s$ Y# {equipment declared to be in conformity with one of its standards.
; L9 Q! o; U6 X1 C4 p, o  o6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
6 G( D  ]! a& h( Lof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
" R6 P$ {2 |+ S% x. gInternational Standard IEC 61345 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar
+ X3 Q9 c# ^3 j1 k9 ?2 `& L. Zphotovoltaic energy systems.* O  c" B$ r4 r, J! e. `
The text of this standard is based on the following documents:
" c- E: v7 d0 I9 ]* ~, fFDIS Report on voting& T0 c4 h$ Q2 G" |
82/187/FDIS 82/194/RVD
0 {# s3 }9 H2 O& {Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on1 @) x  W" S5 U2 _$ @9 F
voting indicated in the above table.
: F* V  \8 t+ VAnnex A is given for information only.
7 x- L1 W3 Y, D% J) I– 4 – 61345 © CEI:19980 z8 t# [  f/ C2 f" Z
ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
' m5 ?' X3 C, f* J. a, z  sPHOTOVOLTAÏQUES (PV)1 J3 b& I$ f: Z
1 Domaine d'application et objet
* x; ]) h% E& J, {1 g: X  ELa présente Norme internationale définit un essai qui détermine la résistance du module à
) z. z( b1 o' |, I( {# ~7 _5 I0 \l'exposition aux rayonnements ultraviolets (UV). Cet essai est utile pour évaluer la résistance
6 y  K- H- a2 l2 S9 ?7 r) d0 Jaux rayonnements UV des matériaux tels que les polymères et les revêtements de protection.
! I0 K% d6 X7 [( n# X1 eLe présent essai a pour but de déterminer l'aptitude du module à supporter l'exposition aux
* n, u3 j; P! @+ O9 |( k# lrayonnements ultraviolets (UV) de 280 nm à 400 nm. Avant de mener cet essai, il convient que5 [" l, I- F* v$ p
l'exposition prolongée au rayonnement lumineux, ou autre préconditionnement, soit effectuée
& r0 w4 I+ O9 @, O) ?6 J# g- mselon la CEI 61215 ou la CEI 61646.
, Z6 a5 j7 C9 V1 ]& E2 Références normatives
/ E3 Z: Y6 u* y* j9 U! U9 B% F4 pLes documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence% a3 ~. y! F3 d  R
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au. S! Q1 I8 e) Q" n  W  M$ O
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
5 d1 c$ G7 u9 e6 lest sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme' r: n8 _4 U( \2 w; S9 ~: J
internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes% H/ _) ?/ v. z3 E
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le( J) V* h1 V* H, i8 a: _9 ^7 M
registre des Normes internationales en vigueur.# o( N: A4 f# J, k( F# \
CEI 60904-1:1987, Dispositifs photovoltaïques – Première partie: Mesure des caractéristiques
' l  m' d! o- p3 u$ ~+ w: ?9 B2 ocourant-tension des dispositifs photovoltaïques
. L' M- X7 R4 x$ S0 o0 R( p2 yCEI 60904-3:1989, Dispositifs photovoltaïques – Troisième partie: Principes de mesure
8 D/ T- w( }; Ndes dispositifs solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de
6 Y- p0 F1 U. d- l& G+ j+ |$ b9 rl'éclairement spectral de référence
- W- c3 J! I) w  xCEI 61215:1993, Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin pour application terrestre –
& v- L1 t' u7 r' d+ N1 `Qualification de la conception et homologation
8 ~3 h: c, E6 c( U8 ICEI 61646:1996, Modules photovoltaïques (PV) en couches minces pour application terrestre –
* u6 Z9 d. i' F( l" H6 R& |6 DQualification de la conception et homologation de type2 y9 J8 v" g* s" B9 Y" e( ]% ]
3 Mesures initiales2 L# z; b6 v, N. S3 P- f
Les mesures initiales suivantes doivent être effectuées:
* a" S, D6 Z0 F4 N– examen visuel suivant la CEI 61215 ou CEI 61646;! c3 U* ]9 L* n* w# N5 ^* ~" ]
– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;
. ]& W9 S$ X5 I1 m– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou CEI 61646.4 I- T. h; ?% F4 m' l( `
61345 © IEC:1998 – 5 –
2 g# p; \" J3 v+ [# D( \UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES
% V' A' [" O; ]! S4 W3 M, V4 w1 Scope and object
& U2 J" D8 i# O, P) k+ |This International Standard defines a test which determines the resistance of the module when
2 |3 c* T9 {9 F3 x8 H" U9 m8 }exposed to ultra-violet (UV) radiation. This test is useful for evaluating the UV resistance of1 S+ G. P0 C/ G- G
materials such as polymers and protective coatings.
2 r2 B7 f: p9 ]# _The object of this test is to determine the ability of the module to withstand exposure to ultraviolet- i9 l; T, n5 M9 X. l
(UV) radiation from 280 nm to 400 nm. Before conducting this test, light soaking or other
+ o: u1 s, w' i4 T. J; m, O9 ypre-conditioning should be performed in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
# H. A. ]! r6 S" w2 Normative references
7 z  _% {: I5 r; S/ qThe following normative documents contain provisions which, through reference in this text,% _+ w- \2 Y; I- l- o1 g
constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions
! s* |9 F# M+ rindicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
5 B0 \7 G! W" f* hagreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility
: o$ c4 v1 T' M# W3 kof applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of
, Z* X$ a  a6 E+ WIEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
7 ~! K4 n6 }. P0 |IEC 60904-1:1987, Photovoltaic devices – Part 1: Measurements of photovoltaic currentvoltage
( M" c4 c# d4 x' E, Echaracteristics
" W+ r  F8 A9 [' _7 |2 Y, fIEC 60904-3:1989, Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial$ }+ p, m8 ~" \
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
( D+ }6 [. b0 o$ x6 \IEC 61215:1993, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification) H% q! j1 E% _, C. O9 d& h" y/ N0 N
and type approval
3 o) D$ R( Y& J0 H6 B2 C; {* Z* BIEC 61646:1996, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type+ ^3 f) N& S, \4 b% r1 J& u
approval* m& B' ?  n9 f+ M; U+ x
3 Initial measurements
# ?' G/ z+ B/ r- P! YThe following initial measurements shall be carried out:
, s1 ], e: B) Z# d– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;# _% a' v" @: G0 ]
– I-V characteristics at standard test conditions (STC) in accordance with IEC 60904-1;9 G* m( p) h# a7 `* A6 W7 l, s- D
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
' B# p3 X; k$ Q, |3 ?– 6 – 61345 © CEI:1998. Z/ l' I0 ^+ g7 _
4 Equipement6 F$ `1 L# q! N) Q
L’équipement comprend les éléments mentionnés ci-dessous.
1 u) s5 O* M& r+ Za) Une étuve d'essai ou une autre forme d'installation régulée en température avec une
' j& K& v+ f1 Q2 S# W+ R9 Mfenêtre ou des installations pour source de rayonnement lumineux UV et le ou les modules
, V+ u$ s8 J. q3 y2 ]en essai. L'étuve doit être capable de maintenir la température du ou des modules à 60 °C
* _, [& i* Z4 U2 j4 h' _  O, Q± 5 °C et en chaleur sèche.) Z4 D( z% t5 x7 E& z4 Z' ~+ W  i
b) Une source de rayonnement lumineux UV capable de produire des rayonnements UV avec
2 [: k' A8 I' yune uniformité d'éclairement de ±15 % au-dessus du plan d'essai du ou des modules et
4 p$ s2 s: ]$ f- ^capable de fournir l'éclairement total nécessaire dans les différentes régions spectrales
0 l  ]: N$ v2 V3 u6 T3 Rintéressantes comme défini au point c) de l'article 5. Le rapport d'essai final doit indiquer: K; \0 w6 w& Q) T( P
quelle source de rayonnement lumineux UV est utilisée.* i* m' z+ \4 `  w1 `
c) Des moyens pour mesurer et enregistrer la température du ou des modules avec une6 z. f& G: ?1 K& d
précision de ±2 °C. Les capteurs thermiques doivent être fixés sur la face avant ou arrière& T1 f  ^2 D+ W& h
du module et proches de son milieu. Si plusieurs modules sont en essai simultanément, le% n" i7 n0 d. J7 ^4 L4 E
contrôle de la température d'un échantillon représentatif sera suffisant." [7 L, \2 [8 [# z+ F1 @) \
d) Un radiomètre étalonné capable de mesurer l'éclairement du rayonnement lumineux UV
/ M  a2 T+ k4 U( U) T3 Fproduit par une source de rayonnement lumineux UV au plan d'essai du ou des modules.
' y- Q# ]& @4 p9 ?Voir l'annexe A pour les sources de rayonnement lumineux UV suggérées.8 G% ~& i5 P' p8 _8 z0 o
5 Méthode& ^: G. a) o2 d* ^- ]5 ^$ S
L’essai doit être réalisé selon la procédure décrite ci-dessous.
& L0 B" J5 i1 |a) En utilisant un radiomètre étalonné, mesurer l'éclairement au plan d'essai proposé du* i' L9 C7 Q+ U# @
module et s'assurer qu'aux longueurs d'onde entre 280 nm et 400 nm, l'éclairement
" g2 u* M' \- B; [5 r7 [; sspectral d'essai ne dépasse jamais cinq fois l'éclairement de référence correspondant,8 A" T, B  F0 e* w2 ?$ \) W: X
spécifié par la distribution de l'éclairement solaire normalisée de AM 1,5 donnée au
% s% _" L& f8 q7 O- n$ f# w. i: Ntableau 1 de la CEI 60904-3, qu'il n'y a pas d'éclairement appréciable aux longueurs d'onde
# f! L! ?: e) V: [! Vau-dessous de 280 nm et qu'il y a une uniformité de ±15 % au-dessus du plan d'essai.
1 g8 i! u5 n2 |( kb) Installer le module dans le plan d'essai à l'endroit choisi dans a) avec le côté avant
! y/ e0 S4 j+ F% Iperpendiculaire au faisceau d'éclairement UV.
0 y1 R1 m. D' h2 |7 w7 D) `c) Tout en maintenant la température du module dans les limites de la gamme prescrite,
+ F4 a' q1 J3 y! q$ @soumettre le ou les modules à un minimum d'éclairement de
4 I: a& X; n! T2 f– 7,5 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et 320 nm et- r. I" ]& X7 O
– 15 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 320 nm et 400 nm.
5 [: p0 N3 U% ud) Réorienter le module de telle façon que le côté arrière soit perpendiculaire au faisceau$ a' h$ j: l% I( a7 b6 C# Q
d'éclairement UV.+ @3 t" v+ s/ l* S
e) Répéter l'étape c) pour 10 % du temps aux mêmes niveaux d'exposition énergétique que1 A0 R- ~& q6 m1 e( ?
ceux effectués sur le côté avant./ O% J3 Z- t, X5 e6 V
6 Mesures finales
7 a* Q  e4 w# q* o, Q( URépéter les essais suivants:
2 _) I2 ~% u- H- g  T1 K1 l" T6 H– examen visuel suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646;
4 k5 Z! V7 a! h8 W3 Q– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;% Y8 @% T0 G' @& g
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646.
0 n% ~3 K4 B$ M: U- E61345 © IEC:1998 – 7 –  q7 o% \) l" Q+ W
4 Apparatus; \  f0 ~6 k. v
The apparatus consists of the items listed below.
& m* Q+ Y3 h( t* z# X0 La) A temperature controlled test chamber or other arrangement with a window or fixtures for a. e3 m0 O  O2 o7 Y7 G
UV light source and the module(s) under test. The chamber shall be capable of maintaining% f9 O5 v9 L% z) R1 R
the module temperature at 60 °C ± 5 °C and a dry condition.  U" Y( n0 r  |3 h5 ^' c- c) s/ x
b) A UV light source capable of producing UV radiation with an irradiance uniformity of ±15 %
7 v1 D) i- ~0 i* T, e( Gover the test plane of the module(s) and capable of providing the necessary total irradiance1 h4 t: @1 |' A% U2 J2 H; @# Q$ ~1 ~" q
in the different spectral regions of interest as defined in clause 5 c). The final test report) z! T3 O$ n  U
shall indicate which UV light source is used.
) ^9 k* @+ l$ ]c) Means for measuring and recording the temperature of the module(s) to an accuracy of
% j, t% B1 @* H; m0 ?±2 °C. The temperature sensors shall be attached to the front or back surface of the+ J0 L8 z$ N: u3 w
module near the middle. If more than one module is tested simultaneously, it will suffice to) w7 m/ R' }% T7 ]2 E
monitor the temperature of one representative sample.
; e) x5 Y/ N& k! a1 md) A calibrated radiometer capable of measuring the irradiance of the UV light produced by the" g, T9 \& j, R* l& \+ \+ C5 N
UV light source at the test plane of the module(s).+ O+ v6 V% k2 c' f1 I/ L
See annex A for suggested UV light sources.# O& ^% p! ~( S% W' @& @( a& ^
5 Procedure, ~% {4 s1 s" _& o6 f
The test shall be carried out according to the procedure outlined below.
; P1 F$ a  R  r0 v; g+ _+ ya) Use the calibrated radiometer to measure the irradiance at the proposed module test plane
/ \# k+ D. H/ w2 H. a8 Kand ensure that, at wavelengths between 280 nm and 400 nm, the test spectral irradiance! O/ ]+ D0 \! E& O% Z
is never more than 5 times the corresponding standard spectral irradiance specified in the) ?& h0 |5 X  y+ e' m1 h8 a' F
standard AM 1,5 solar irradiance distribution given by table 1 of IEC 60904-3, that there is
, g6 u! F% ~3 U. Qno appreciable irradiance at wavelengths below 280 nm and that it has a uniformity of, H$ {) Q) s, u. Z- p
±15 % over the test plane.
7 S( g8 _) X) C4 Ob) Mount the module in the test plane at the location selected in a) with the front side normal9 U- m0 F, {8 `( q* O8 b
to the UV irradiance beam.8 S" Y3 A' K2 D' z( l
c) While maintaining the module temperature within the prescribed range, subject the  {8 `$ t5 f1 Z
module(s) to a minimum irradiance of9 y3 q* N) p: q; O# v
– 7,5 kWh×m–2 in the wavelength range between 280 nm and 320 nm, and
6 K- s/ Q8 _' l– 15 kWh×m–2 in the wavelength range between 320 nm and 400 nm.7 w2 ^4 Q& _8 ^/ E! u! S; F
d) Reorient the module so that the back side is normal to the UV irradiance beam.9 q# A5 `' Z$ e$ Y8 _9 l- x
e) Repeat step c) for 10 % of the time at the irradiation levels that were performed on the front* l, o: p8 x5 Y8 W  G0 |) U5 Z  ?
side.
' M9 ]% C8 C7 h5 S+ E! I6 Final measurements( I- B+ A. s4 Y0 N+ ~
Repeat the following tests:; ~2 h+ @: S$ v  w
– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;
2 q& a7 @9 c) y7 I5 m8 }– I-V characteristics at STC in accordance with IEC 60904-1;& \* I5 k# O1 r3 f. B/ m1 ^( Q
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.- b% e: r; o' ?" S
– 8 – 61345 © CEI:19984 q! A6 A9 ~4 v% [
7 Exigences& B+ e4 A# g% O
Les modules photovoltaïques testés doivent satisfaire aux exigences indiquées ci-dessous.
4 [9 t. o' r. S) l: i8 P. \– Pas de défauts visuels majeurs, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646./ @( ^$ Q+ E% U* M2 w" D* g
– La dégradation de la puissance maximale de sortie dans les conditions normales d'essai7 f: ~3 ]6 w% L! L" i
(STC) ne doit pas dépasser 5 % de la valeur mesurée avant l'essai. Pour les modules à
3 j' O0 x! V" [- jcouches minces, la puissance de sortie maximale dans les conditions normales d'essai doit2 t- r% l  p" K/ j- S
dépasser la puissance assignée minimale spécifiée par le fabricant pour ce type de
  F3 f& p: T: E8 amodule.$ P/ D" [3 [$ ~7 B  R3 \
– La résistance d'isolement doit satisfaire aux mêmes exigences que celles des mesures
. c  r7 @3 i9 W( \9 l; F8 jinitiales, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.* [. n0 H3 G) V1 G- Q
61345 © IEC:1998 – 9 –7 Z  @7 }7 l$ e5 ]. j
7 Requirements0 b4 l# J6 Y, F" a' _
The photovoltaic modules tested shall fulfill the requirements stated below.% T3 A5 m: k; N* B& O1 r) I
– No evidence of major visual defects, as defined in IEC 61215 or IEC 61646.
  y& y0 Y- `+ L9 n3 T5 j– The degradation of maximum power output at STC shall not exceed 5 % of the value1 m5 L! F7 m6 }9 w5 i( \
measured before the test. For thin-film modules, the maximum output power at STC shall
. e! Q/ B* \) Z0 W/ T( lexceed the manufacturer’s minimum power rating for this module type.
* c1 |5 ]9 D2 C– Insulation resistance shall meet the same requirements as for the initial measurements, as
4 m% M- N; y% x( Tdefined in IEC 61215 or IEC 61646.4 ~- y; g7 S0 [5 g6 Q0 a" Q9 w
– 10 – 61345 © CEI:1998) _4 f" x' @( Z1 {1 ]- o2 L) Y# U/ D1 z8 x
Annexe A- i. y' K" B* X- z& m; N- M+ q
(informative)  E0 a6 B( N' x2 s1 }
Sources de rayonnement lumineux UV suggérées! M( V# [( v) a* W! d" @1 U
Le choix d'une source de rayonnement lumineux UV est basé sur son aptitude à satisfaire les
- x1 H, I7 C2 f( G2 ~exigences spectrales de la présente norme. Les sources de rayonnement lumineux UV
, C/ @/ b4 l) P9 i6 X0 Isuivantes peuvent être capables de satisfaire ces exigences, lorsqu'elles sont correctement* X; ]/ N! K# H! X
installées et/ou posées.$ g- I" G3 g. \% X: Z. N/ I5 K
A.1 Lampes fluorescentes UV QUV-A et QUV-B ou similaires7 w* |5 R- A! d* y& F/ H
Les lampes QUV-B ont une gamme spectrale de 280 nm à 315 nm. Le seul inconvénient de2 j* y: c+ D' @1 B
cette source lumineuse réside dans le fait que presque tout l'éclairement sera à la limite haute4 ~' }, p$ z& B' T1 m
énergie de la gamme d'éclairement spécifiée. Une combinaison des lampes fluorescentes
# g5 q" i. }& t/ v5 sQUV-B et QUV-A peut être utilisée pour fournir l'exposition énergétique requise dans les2 P2 }) Y( h; F
gammes spécifiées.
! U( {& ]8 A' Y2 \' SA.2 Xénon filtré
- F4 q/ ~# `# ~5 o4 L5 e- B2 ~L'éclairement spectral d'une lampe au xénon filtré dans la gamme UV visible ressemble
0 R1 D9 B; T, A& d* P7 Ybeaucoup au spectre de l'éclairage solaire naturel, en particulier dans les longueurs d'onde de! o2 N& y4 n! t" b
280 nm à 320 nm. Etant donné que le xénon reproduit tout le spectre solaire, il a plus d'énergie) n, D3 a' W$ H9 Q0 b( h" E* O& M
dans la gamme de longueurs d'onde de 320 nm à 400 nm que l'essai ne le spécifie. Pour
- O9 k4 P+ W8 V' N* ~' Iatteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et 320 nm avec une1 ]: K$ d  J0 y/ B" S
source au xénon, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2" s& C( C( C) `+ [7 [
d'exposition énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et
3 P& q4 v# E. K$ a# b: y2 y400 nm.7 G! P2 Z, K! `4 N) g1 r4 c
A.3 Lampe UV aux halogénures métalliques à haute pression$ f4 U0 p2 M; h: H) D7 S0 C& w
Ce sont des lampes à décharge au mercure à haute pression avec des additifs aux
/ O, H4 a; y4 _  N' dhalogénures métalliques qui rayonnent principalement en UVA et UVB. Le verre de silice
  R9 y( j* Y( p1 n& v- @spécial doit être utilisé pour absorber le rayonnement UVC. Cela est aussi important pour$ y  [2 T. z9 c, S% h% ^
éviter la production d'ozone.
" q" u9 \7 g! p/ }% IA.4 Eclairage solaire naturel
1 `( Q! |' z) X+ ?L'éclairage solaire naturel peut être utilisé avec concentration. Comme avec la source au2 {) r7 C( m6 t# c
xénon, pour atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et
# U8 E2 D. N! v( ?9 J320 nm, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2 d'exposition
6 g0 W7 Z( R6 ?2 S* génergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde de 280 nm à 400 nm.6 l/ e. \0 `1 s" `6 ]. L+ L
___________9 Z# E+ F( q6 i
61345 © IEC:1998 – 11 –" C) J% o+ _$ U' W2 ^4 r: R5 M
Annex A# ^! h6 U& i# ~9 q; G* B
(informative)
  \, G* a# y7 _8 B- l, u2 Q' MSuggested UV light sources
7 ~* R/ S4 \6 P1 X( t% BSelection of a UV light source is based on its ability to meet the spectral requirements of this
+ g/ a4 _/ V% B7 D& g5 bstandard. The following UV light sources can be able to meet these requirements when
' e  D  e" r( X0 \3 `& Cproperly mounted and/or filtered.
! Y, K7 E& J& Q* O0 I# jA.1 QUV-A and QUV-B fluorescent UV lamps, or similar& L- p# i  |. g
QUV-B lamps have a spectral range from 280 nm to 315 nm. The only drawback with this light! j: [' L  }* ^# I7 c7 b, N
source is the fact that almost all of the irradiance will be at the high energy end of the specified
8 h+ a8 P' g1 d: q, Birradiance range. A combination of QUV-B and QUV-A fluorescent lamps may be used to
! A6 U1 W: m" ?provide the required irradiation in the specified ranges.$ x6 M: q( V2 ~0 c! j- \6 a
A.2 Filtered xenon# [5 S- }" O4 n6 L
The spectral irradiance of a filtered xenon lamp in the UV-visible range most closely resembles  p5 F( i8 ^1 C7 }' ^  H4 b$ b2 q6 U
the spectrum of natural sunlight, especially in the wavelengths from 280 nm to 320 nm.# R! h5 |! d  O. ?- N! x. ]2 @; \
Because xenon reproduces all of the solar spectrum, it has more energy in the wavelength
, @" V: |6 N9 v8 Gbracket ranging from 320 nm to 400 nm than the test specifies. To achieve a total irradiation of1 U; u1 x- Z  g8 i9 g- F) M
7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm with a xenon source, the sample may be exposed to1 @0 t, C1 o0 F0 {- Q: {5 k% M
considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the wavelength range
/ L( h9 X# r+ p3 }  ^between 280 nm and 400 nm.! p0 v2 C( n7 n& \& Z0 X: G8 c
A.3 UV-high pressure metal halide lamp  x# x. T2 F& M  L3 N
These are high pressure mercury discharge lamps with metal halide additives which radiate9 X8 _6 M0 h2 C  p
mainly UVA and UVB. Special quartz glass shall be used to absorb the UVC radiation. This is+ Q( g3 [6 {3 k0 ?7 m8 ^# S
also important in order to avoid the production of ozone.
6 p0 {4 X) [  N! r+ M8 QA.4 Natural sunlight
' r( Z  f# u) n7 @Natural sunlight can be utilized with concentration. As with the xenon source, in order to1 a& `5 @- q/ \& P8 c% o
achieve a total irradiation of 7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm, the sample may be
3 f" X) I$ _0 A; eexposed to considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the
, c$ \) e2 p  }wavelength range between 280 nm and 400 nm.2 y/ H& Y, A! F+ }2 U
___________
, U* @8 n5 V+ }4 DStandards Survey
' _% N0 T8 z4 l/ \6 i. j6 j2 XWe at the IEC want to know how our standards are used once they are published.# L7 F6 V  h! I1 z) X6 A
The answers to this survey will help us to improve IEC standards and standard related
5 a  G* Y2 C; k  \' s9 I; W% Ainformation to meet your future needs
( ~* G9 c4 y& _% T1 sWould you please take a minute to answer the survey on the other side and mail or fax to:
4 H. T0 Z" T+ M& VCustomer Service Centre (CSC)0 X/ H- n) }; E( p$ u
International Electrotechnical Commission* {1 a6 s' y7 G- F  z7 A) V4 ?
3, rue de Varembé+ A/ D: }5 N" M4 D) U
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2 _: Y' `& ?' KSwitzerland
7 I3 M+ [! u# r$ nor  t& }  Z8 z4 ?4 l$ z" ~
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* u' b, D3 C( J1 r; BThank you for your contribution to the standards making process.8 _7 ?) Z: X5 x% \5 @
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5 i- j! w4 f0 E, x9 P0 B2.
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an engineer7 {* C: }6 S- R: y1 B0 J7 D0 Z
a safety expert( `- o) b0 a$ l! F% u4 r; ^
involved in testing6 m; |8 h; [4 v8 Z
with a government agency
, U6 _' l! {  \7 i  {in industry9 `' Z7 v4 S: h% c  Z8 N5 z
other........................................# \. s! g' I$ t
3.
8 |. \7 S+ L) F1 g9 z' hThis standard was purchased from?
/ \9 f3 f% {+ ~, O2 e.......................................................$ `: b7 {" C  T7 I  W# c/ q8 C
4.
& J3 L/ W+ a' j' iThis standard will be used
& d9 t# p& e+ K9 ]9 h! J3 X(check as many as apply):
: T, B+ i4 t6 n- r# t- g, \for reference
3 V1 ^) m/ D' w' d3 k" }+ U$ ~, t0 Uin a standards library
+ n. H- m* M7 F! Q- P% ]to develop a new product
  D; o. f$ e+ y/ yto write specifications3 ^2 h$ W2 }; z2 K
to use in a tender
* N' c' h/ j- \for educational purposes1 D, e; R/ U( S+ _, _% ~
for a lawsuit: q+ C$ i4 Y0 x
for quality assessment
! C0 S* b) M0 Rfor certification, h( v6 W5 v) o( a
for general information: g* n7 K5 q8 M1 f. `$ g
for design purposes% p1 I2 v& z9 t" g' l/ y
for testing# p0 y. V. R  ]
other........................................' G7 Y& I! L: D) v, i
5.
7 r% p( G+ M1 k2 M7 M' v+ `This standard will be used in conjunction
5 }6 |+ a) f7 F6 Hwith (check as many as apply):' t, ^, @4 |/ i& L
IEC
4 h& N% R" i* Z# s/ j3 t+ N1 v+ q7 ^+ v4 DISO
. `4 J  k5 [5 @2 V) Lcorporate) P% \+ b# b$ c1 H
other (published by................... ), h/ C5 Z) U" m  ~* A
other (published by................... )
+ L( q" D, [; c. f, iother (published by................... )
! U0 q/ U3 n+ w6.
3 e* n: l% Q* c! m4 m- V; I  J* ~This standard meets my needs
+ z, @& y( E  p8 W$ N) Y0 J(check one)
3 g* U# j% u5 Qnot at all
* d2 L1 `0 t7 k2 calmost) _7 _. i' ]4 `# v
fairly well8 a9 N- W1 A: c/ S3 a0 h
exactly
& @- `$ m, e; N8 E7.
$ S9 W; g8 g: X7 i' HPlease rate the standard in the following; W5 r0 F5 y4 n! c# g! u
areas as (1) bad, (2) below average,  d/ h. ]! r# Y. N5 |
(3) average, (4) above average,- `8 t- J, F4 m* T3 v3 U- D
(5) exceptional, (0) not applicable:
9 g; P! M! G' ]* Dclearly written4 K# ]1 j! N1 l0 S6 ^4 w
logically arranged
2 Y8 x( _4 i. \: Q: ainformation given by tables
, a4 P+ B/ s0 B$ \  }illustrations
& n4 f; P- a/ \. M6 s* qtechnical information
- n3 }! S. V; J; S8.
" B5 B0 c; l$ t- JI would like to know how I can legally% o* m! Y9 G8 E- f4 ?& Z6 \* g
reproduce this standard for:/ o' Y, w2 M' ?" g/ ~
internal use, J! o( G' E5 M/ v
sales information- L; @0 C2 v+ t# h9 A
product demonstration
" j) K# t# A4 ?4 N/ m, Y# c% S/ }other ................................) i; f; F4 {) {0 V  G* Z1 J
9.4 F$ B( Q2 \% S  v: d% p
In what medium of standard does your
7 P1 X  x1 }2 Q' t) v2 w& qorganization maintain most of its
! j3 K; B( N, {; U4 \standards (check one):
" S5 M$ v* a4 P; V4 _( ?paper
8 n( `- ~7 ^. e2 @& g+ Y) k1 ?microfilm/microfiche8 Y+ M6 v. G5 q: C  _/ n4 \
mag tapes
( `, @+ y1 [) D# u( L2 \- [- ?CD-ROM
: a/ |* O0 {) t# [1 n" ofloppy disk
, y/ h+ v- C3 y" M. A! @( U8 oon line
. ~" {, Q/ B- }' `9A.
, E1 X5 L( y; k$ R+ {0 N- o& ?' v3 i" EIf your organization currently maintains
# Y% ?0 k2 r1 e) dpart or all of its standards collection in' @* W0 v( j3 S7 \! F% D5 }. G! v
electronic media, please indicate the
7 Y8 G) D" ]6 ]+ Z2 p1 qformat(s):) y4 G2 c# k) q' \+ x( L" ~* D& i
raster image
, N! J  F5 f6 I4 L7 lfull text
$ s6 E1 O5 Q9 H4 w. c* b0 r10.9 t; ?% Y$ X  u4 e4 j' O+ X9 U
In what medium does your organization
2 Q) Q) u9 B3 W* u% g$ cintend to maintain its standards collection8 ?- v# j& M. L2 w
in the future (check all that apply):9 n& V( l2 ^' c; \
paper
8 p5 z3 o% A9 Bmicrofilm/microfiche) e# E. H' O9 `! a
mag tape! W- G5 T& g, h% D2 @$ }+ ^
CD-ROM: E3 M  p* U9 n  f- U) {
floppy disk6 j: k7 t8 f- z: l7 f% l. Q, h$ ^
on line5 U" o0 Q" T* N2 S6 |* `! I8 W
10A.
/ g# w( X& s" e6 G9 H* AFor electronic media which format will be
! Z7 A( r, E8 {chosen (check one)
2 E* f- ^# [# `1 H5 M1 vraster image$ g% C5 {% j, Q7 c
full text
( E/ S; V3 |, M) T/ p, b$ Q11.
" S6 u) ~9 q7 [: ^% h5 XMy organization is in the following sector
" K6 z, f0 p7 V0 N2 W1 r1 ](e.g. engineering, manufacturing)
( N7 c  h& E+ k...............................................% O! p% m9 e, A' v% h7 V+ [
12./ d4 A/ X5 o0 g/ v/ d
Does your organization have a standards  z  r/ Y5 U' J9 |2 C' J9 \
library:
$ L3 @# Z  N" V/ z, dyes
- W6 C* i" G# m$ i8 `/ qno( |* G! t; r" _7 ^$ S/ A, [
13.
; R7 k/ {  ?0 x; I$ |If you said yes to 12 then how many
+ c1 a( I; [% r* r) Q  E4 yvolumes:
' N. A! |/ e4 u/ N; P" B% a................................................
; {$ B: y( p- J8 [, P14./ s. W$ M, W# g+ p0 G6 m" u, [5 Z
Which standards organizations
  Q; j. b6 }( ]; v" ~3 s2 M/ Ipublished the standards in your
9 P) g! D- `( W6 Blibrary (e.g. ISO, DIN, ANSI, BSI,
6 L2 p9 h; j4 {9 H7 N* P7 Netc.):
$ S* u. ]% m7 C) |/ e................................................, @# @* \( r0 W) ^
15.
4 Q- X! ~- _) B6 W/ T; CMy organization supports the* i/ D0 l( M1 u& N* x7 t
standards-making process (check as; H+ }- f- n$ k! p2 s$ \& C
many as apply):, C0 J; O& e! m( |+ t- G
buying standards- G* L9 e. b3 V1 \$ c0 g/ E
using standards+ N  |: l6 f* ^$ w
membership in standards* [3 m2 S+ |$ |2 V) v) {- ^! |
organization
7 C) n: S7 t  w3 l( B5 Sserving on standards9 E( `5 d4 Y. Z7 H, r# Y4 c# I4 @" F
development committee
! r! ^! K8 c) {/ jother ................................( C8 q- {4 ?( e+ d
16.) m1 Q- Y% c& m, l* q$ M
My organization uses (check one)
3 G2 n: ~4 q& R4 J! P7 zFrench text only
' ~  b" y* U4 V5 d& V* k  D, d6 uEnglish text only; ^- q/ I' P, ]: {/ f) W
Both English/French text
! D1 }  Q) B- h% e* a17.
$ W# p" z8 [( Z; uOther comments:
# R; a) {+ J9 a& ^2 W2 V! V........................................................- J- E/ w0 d, U8 t' a
........................................................, [2 `& m3 O0 W( p  z8 ~( Y3 b8 `
........................................................# w" G/ P2 L4 w0 w
........................................................7 p8 i4 }7 K" S
........................................................1 ]0 q6 R( M4 `# p% s7 z/ b
........................................................  a  I$ g3 A% h" o3 z& [4 |- |
18.7 L) k9 J! u% Y1 K( b6 N8 E* k& W
Please give us information about you
, T2 }/ H4 o, g- R1 jand your company4 r# _1 g! p+ U$ u: A
name: ..............................................2 `# c# E  s) w5 S8 k3 L! ^+ d; V
job title:............................................
: z: K8 u$ Y+ S! G9 {- J4 Acompany: .........................................$ ~0 _2 d" @4 H4 y
address: ...........................................
0 e; J! w0 F) V: Z........................................................
& F" p$ X' L4 d0 w3 ~........................................................) ?" Q- B% @4 z+ V& Z
........................................................
; o5 G4 d) P3 sNo. employees at your location:.........( B/ s$ B3 G$ `
turnover/sales:..................................
8 ]* ^. }& ~/ t& G3 h* H4 }Enquête sur les normes' [" d* a$ \3 ~
La CEI se préoccupe de savoir comment ses normes sont accueillies et utilisées., N) N7 t3 k0 v; P9 B& C4 B5 n
Les réponses que nous procurera cette enquête nous aideront tout à la fois à améliorer nos# S; G$ F/ `! g% a
normes et les informations qui les concernent afin de toujours mieux répondre à votre attente.# t! B7 t- \+ t. w
Nous aimerions que vous nous consacriez une petite minute pour remplir le questionnaire! T7 r0 p0 L6 p
joint que nous vous invitons à retourner au:
% k  E! p% ~6 j% L) o: p! kCentre du Service Clientèle (CSC)/ e, Z- {' e0 Q1 G! @2 v0 z, \& c
Commission Electrotechnique Internationale. }& j+ i' m$ q2 j4 P$ d- K$ V
3, rue de Varembé8 {1 I' }( a/ J. F( @
Case postale 131: |2 N0 u( K! a2 N0 k  F
1211 Genève 20
; C/ ]0 y4 P8 D3 T' FSuisse" D0 t/ E0 G  b
Télécopie: IEC/CSC +41 22 919 03 00. H' I/ `/ Y/ S& C
Nous vous remercions de la contribution que vous voudrez bien apporter ainsi
" `; N: H8 S1 g. J' wà la Normalisation Internationale/ p$ A0 H/ H, w: b
Non affrancare! f+ s0 e( @3 N( f) Z7 R0 g
No stamp required/ S5 M% H& f& ^. W
Nicht frankieren+ F4 [5 L0 [5 E; W* L( @$ U
Ne pas affranchir
2 f  g! F  C( r1 w; A6 a; @A Prioritaire% U! d6 u) X/ F
RÉPONSE PAYÉE; t! ?9 x! \7 w9 r3 N
SUISSE
; F7 J# K) @# {; h4 H6 \) cCentre du Service Clientèle (CSC)9 W. H; |8 S5 U+ f$ N
Commission Electrotechnique Internationale
( ?* W- \# P/ ]  y0 p3, rue de Varembé
' d6 t" Q% [' I+ |Case postale 131
8 ^% M  m! T% K1 j1211 GENÈVE 20, V; t# D8 D3 Z, t
Suisse  s8 ~' y' T' b8 [- Q/ O6 W( K5 H4 |
1.
  v9 y' i5 [1 cNuméro de la Norme CEI:
2 H  S+ D. O# }- o( L3 ~.......................................................$ ^6 Q7 W* J5 a7 E" L, M
2.
" u$ s# o1 ]5 i1 y3 _Pourquoi possédez-vous cette norme?& @' [& s5 G3 F& u( P) \1 p
(plusieurs réponses possibles). Je suis:
9 p5 f$ D* ]! H. _l’acheteur! q5 R0 d' Y+ k2 J
l’utilisateur
7 T# h/ T" e& F- {3 n; c& nbibliothécaire7 K( Y+ P' l! m. D9 p9 _7 h5 |- r
chercheur
) {. R  [3 G) \: Q' P7 Wingénieur
% q7 `; Q( Q; [, ?* ~2 f3 g/ hexpert en sécurité6 b' G$ n8 D& O- W5 M) B
chargé d’effectuer des essais
7 H! f8 {! D0 J: u& B3 Q& Dfonctionnaire d’Etat( [& C. i! C  U" x% @
dans l’industrie, j& ]4 H) [" ~$ g9 g: R
autres ......................................
% i7 t- x/ k' f3.
" n5 k/ ]/ ^) J5 K: eOù avez-vous acheté cette norme?
- f# P  q5 i4 R" I.......................................................
9 t) d; s4 L- ?* w' d4.4 \/ N8 }" `$ y8 p# ?) p, x' T9 ]# j
Comment cette norme sera-t-elle utilisée?9 f+ d3 ?" i, O3 l; Q& Z  v4 M
(plusieurs réponses possibles)
3 S# L% Z. d  u4 p- I) Z! l" bcomme reférence
9 |& G' ^: ~: F+ o/ `dans une bibliothèque de normes
" h& }) u# w4 `9 F3 X1 Npour développer un produit nouveau
/ \2 M7 }% [$ l) t1 j7 r& p/ V) Jpour rédiger des spécifications
+ l/ \' ?5 t) \* |pour utilisation dans une soumission
) ?* ^$ Q* N7 y2 A; p( ~à des fins éducatives
! r$ f1 m0 F( C) J9 @* cpour un procès
2 j+ ?, `- [. y; L9 Kpour une évaluation de la qualité8 i3 T; C  n' K* Z" u( x* t' e- D  P# s; B
pour la certification
2 q! V" M  F! R; Xà titre d’information générale
0 G3 B0 U( Y7 v0 f& Dpour une étude de conception
4 |; ~9 Z7 C/ f& z- b4 ?- apour effectuer des essais" r& z* [4 R: |- f3 V  V* H
autres ......................................
9 z: Q! Z: a8 v+ _* O5.
3 g* D; B9 s8 j, sCette norme est-elle appelée à être utilisée0 |3 A; }9 r5 |% I3 p* v' f9 S% }
conjointement avec d’autres normes?' Q* }. {: @7 h. _: S& _* ~% \& ?
Lesquelles? (plusieurs réponses possibles):; p5 N9 D& D/ m5 d- D5 S
CEI
% h, }7 l3 S4 a, N/ H/ i- T3 o) WISO
$ |: S5 k  H8 F  v- m* Finternes à votre société
' Y) F; S. _2 D/ m0 f* N, Z- Kautre (publiée par) .................... )
& z; X# ?6 j. ?autre (publiée par) .................... )4 U  z# w1 a6 c, a2 T$ v% _
autre (publiée par) .................... )
+ R* z. j8 G) l0 a8 l6.
5 Y7 N, A5 Z% B% u3 ICette norme répond-elle à vos besoins?
* ~  F/ }8 {8 d, L; ?# Q' Mpas du tout
, S; ^3 x/ Y' V9 yà peu près
: h" n9 \5 V4 q# j8 u: massez bien3 C1 N' F0 ?% u$ y
parfaitement" O1 z( U9 W) {7 F
7.
. W- @. w) q$ p5 y! s; h# p2 nNous vous demandons maintenant de donner. x' b0 X! ?' R; N% I+ _9 m8 w) B
une note à chacun des critères ci-dessous/ S- n8 t) b" D& z' G8 `
(1, mauvais; 2, en-dessous de la moyenne;+ z) M9 T8 C7 s6 c6 J3 w. Z8 g
3, moyen; 4, au-dessus de la moyenne;
4 X, t- h. X' g- q0 n5, exceptionnel; 0, sans objet)
8 g7 k" ]7 A. |; X; ^; f# c$ O: Cclarté de la rédaction
9 ?) A5 s, Q0 H, f- s- Plogique de la disposition' R6 ?0 N, f, q1 s* @  d* S
tableaux informatifs
* |  Y' j6 T' ^9 b( X/ H. Zillustrations, P' h. k3 K, p7 p5 n1 ]1 Q
informations techniques( ?. a6 b3 ^/ c( s- K# W
8." v% o! r3 i0 N1 F/ g4 z2 u& v
J’aimerais savoir comment je peux1 s$ N% D8 B  U1 ~
reproduire légalement cette norme pour:2 K% h- b; F- O$ `4 |
usage interne
4 Z% A$ z8 e# C$ f3 R0 U$ Ldes renseignements commerciaux+ f) C( X: X$ G" h9 B3 f
des démonstrations de produit! S3 k, a% p# d! z/ X
autres ..............................7 s) B# |4 X, T5 n& s0 Z
9.
; O: [# g  C. N0 h+ C4 n2 y# e0 AQuel support votre société utilise-t-elle
  g9 R  u4 G' f6 I; g$ xpour garder la plupart de ses normes?$ B* N2 }9 L2 O% Q
papier
7 D1 f2 A& L7 c+ Cmicrofilm/microfiche3 u6 T0 P8 b6 v# V* @/ A7 E
bandes magnétiques  N3 C  \' O: F. N6 b$ W7 m
CD-ROM
7 s0 J9 k# I! s8 v: {# I1 ydisquettes
/ r0 e# y) w  k; I+ q. ?9 L3 N6 ?abonnement à un serveur électronique1 e  U, V" [; }& n6 `$ A
9A.
% d$ B$ Z- _0 o& X9 pSi votre société conserve en totalité ou en! g* R3 v7 \+ ?/ ?# d
partie sa collection de normes sous forme' u) R4 \: J6 V; m; [2 Z8 M
électronique, indiquer le ou les formats:
% u  [, ^4 D& ]! Q6 eformat tramé (ou image balayée
7 x% f" e8 X9 _* j+ ~3 l7 [ligne par ligne)1 S6 W5 h" R- n! W7 A
texte intégral
0 u7 x6 Y9 g3 X) z/ o: l10.- w9 ?  w* X0 d5 D, b' R) G
Sur quels supports votre société prévoitelle* q% [; R/ ]/ q! C2 [5 |+ h: r
de conserver sa collection de normes/ ]) P' d9 x) G
à l’avenir (plusieurs réponses possibles):
7 s+ T, h2 m# @, y# Hpapier
; X: j3 K: N7 ]" E( J9 w8 Dmicrofilm/microfiche
8 C  Z' ~$ O+ {$ ibandes magnétiques
0 @& d* \' G$ E' C2 \CD-ROM
8 k  L# j9 l, D% }" [2 y0 W  C; edisquettes
5 j$ E2 J8 v! `6 ?9 fabonnement à un serveur électronique; N) J; j7 v. g, `3 n
10A.' B8 _/ b5 |9 _  o
Quel format serait retenu pour un moyen& l. \7 m: ?% T
électronique? (une seule réponse)5 ~* F# D* D+ Z: l9 g" e
format tramé
" ~( ]: H, S0 q& S1 |; W+ Dtexte intégral
& s. O& o( b0 i. O11.
. W) _8 {3 O- i. [8 rA quel secteur d’activité appartient votre société?
* o$ g; u/ J0 ~4 i6 k1 r, H3 j(par ex. ingénierie, fabrication)7 z  O$ n! V( R: x7 b% u
...............................................
# Q7 X0 d' A" P' n12.
/ I/ r/ K- a& [% l5 J/ b( uVotre société possède-t-elle une: u+ {& S& ^9 a
bibliothèque de normes?8 U/ D$ J' }( |0 J( |) G
Oui. D+ o# M: g" ]$ ^9 M8 j& a
Non5 T- B" [/ J/ ?. G- Q: q% h+ a
13.8 P$ l2 {% i0 y) m4 e3 ?
En combien de volumes dans le cas
6 B% O" B; L9 f- ]  zaffirmatif?! K0 b3 I  F5 ^
................................................
3 S6 b9 a5 w5 z2 b14.: F; Y1 f6 L/ {; R6 x
Quelles organisations de normalisation' W3 R4 l+ L7 J/ f# k
ont publié les normes de cette
. S; `0 b$ y8 r7 dbibliothèque (ISO, DIN, ANSI, BSI, etc.):; g# V% [5 B9 `7 I0 @
................................................5 G4 e; d, G8 a8 m9 c* l: u" P
15.9 O" u0 l# l/ v6 U
Ma société apporte sa contribution à% {( E- }; @& [/ ?
l’élaboration des normes par les: A; C2 b9 W, @
moyens suivants
% t: {/ k  n! o& n% S% F(plusieurs réponses possibles):
4 @  C, _2 s1 e; Ken achetant des normes1 c' W2 {8 q9 a  q' Y* L8 C" \
en utilisant des normes
! ?% j8 A- D/ W# Jen qualité de membre d’organisations& J; ^- r, p6 n* D3 f; V! `
de normalisation
/ y- U; B; m9 B8 \+ v8 d) Fen qualité de membre de
, X0 c8 n. t1 j' {! z. pcomités de normalisation
, V9 }- ~, [# bautres ..............................& c1 J  ~2 d$ m% a' P! P) v
16.+ b! k  V& r- N8 q
Ma société utilise (une seule réponse)
  l! j& n. t% K  ]% ?des normes en français seulement% U% Z( R: P# g2 _6 l4 I: Z( Q
des normes en anglais seulement
8 i4 a  G6 I, e) ^1 V: |des normes bilingues anglais/% K' x8 H7 h! ~* m" W
français
5 v0 P8 X) Y8 E/ {- V- J17.
; }% z8 u* ~- f1 r& N1 cAutres observations
# g8 r; E5 i6 i/ l3 M........................................................7 t: S, f4 _0 Z8 v5 @1 C7 b0 `( ?# k
........................................................2 Z9 r! e$ v) G: }# k7 w
........................................................
; y8 o0 b" W2 v2 c........................................................
* F0 |7 X2 R$ P........................................................& r: o( p6 N, N, p# n! @
18.
! H0 K# w3 Y! |- b/ B! gPourriez-vous nous donner quelques; ~0 u8 A6 L" N1 a! \: g1 _
informations sur vous-mêmes et votre* L- D' D7 g3 P. L3 A/ M
société?5 [' {# ~+ U; h+ ]/ `! J" X& d
nom .................................................
9 `7 f; O; e4 s  B& `/ n0 h5 H; Ifonction............................................
  H4 Q3 C8 L* B  h1 v( |) \nom de la société .............................
; z" J- Q8 l! Badresse............................................0 U0 w3 J: Z$ q  g/ p  ^
........................................................$ S  G" f2 i- l* L1 D
........................................................
  r( R# ~0 Y- _- U........................................................
+ s4 w2 i3 ~. y7 o/ ynombre d’employés...........................* {% c2 v. I' {
chiffre d’affaires:...............................0 h0 j3 w2 A( l2 b/ W. l
Publications de la CEI préparées IEC publications prepared# P; n% D' q: W' p
par le Comité d’Etudes n° 82 by Technical Committee No. 82
9 M  w- l- k$ ?( ?0 s60891 (1987) Procédures pour les corrections en fonction de la
* v3 a4 N2 T, X7 P/ stempérature et de l'éclairement à appliquer aux, Q6 \3 O+ B# \* p. A0 A. j
caractéristiques I-V mesurées des dispositifs( f+ c; M3 I7 O
photovoltaïques au silicium cristallin.* F, I; ^' c# l
Amendement 1 (1992).' K. H* B2 }& }% v7 a
60891 (1987) Procedures for temperature and irradiance corrections' t# M, m! R1 K, Y. Y4 y
to measured I-V characteristics of crystalline silicon
: n) a6 t2 w; L* V' \8 `3 |photovoltaic devices.
7 Z2 x; D5 u2 Q+ h: y4 gAmendment 1 (1992).6 m: Z: q6 U: g" I' r* b% i
60904: — Dispositifs photovoltaïques. 60904: — Photovoltaic devices.
9 M. U' B1 S7 }) }6 N  F60904-1 (1987) Première partie: Mesure de caractéristiques couranttension
2 b) ?' ]+ m0 |: [5 @9 B) N! M" @6 xdes dispositifs photovoltaïques.7 ^1 M& P# b! A6 s- m6 b
60904-1 (1987) Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage! O/ t8 }5 }( m- ?# u2 t
characteristics.6 x3 T, X8 b) n% ]
60904-2 (1989) Deuxième partie: Exigences relatives aux cellules
. `. Z6 j" E4 K7 U3 ?solaires de référence.
/ I9 A5 O0 W) F. U  d9 g& WAmendement 1 (1998).5 b8 [9 ^4 j( O1 @) L& c
60904-2 (1989) Part 2: Requirements for reference solar cells.
3 z* U& y3 Y: V5 M, UAmendment 1 (1998).) I5 p( v) h2 g
60904-3 (1989) Troisième partie: Principes de mesure des dispositifs
6 R% A! F; w: Tsolaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre" W; |& L0 d; y' R& O' D
incluant les données de l'éclairement spectral de* f6 Q' z1 X- E
référence.
* R: k$ V( p) h6 G7 W. K6 z60904-3 (1989) Part 3: Measurement principles for terrestrial% D$ s" v, `! `
photovoltaic (PV) solar devices with reference
9 c# w( M$ ^) I8 m% R, cspectral irradiance data.
8 E% S5 ?" q' w0 X60904-5 (1993) Partie 5: Détermination de la température de cellule
; N7 b9 `) H# T2 d# ^8 s  eéquivalente (ECT) des dispositifs photovoltaïques
( c( Y$ y' a/ h- O! o(PV) par la méthode de la tension en circuit ouvert., X3 g+ }- [/ ?! ^
60904-5 (1993) Part 5: Determination of the equivalent cell! l( z3 [. p, ]" ]
temperature (ECT) of photovoltaic (PV) devices by; z5 @" l; _  K1 n# F' D5 e
the open-circuit voltage method." A' @+ X; E) i/ L, @$ T
60904-6 (1994) Partie 6: Exigences relatives aux modules solaires de
$ b) n  z. Z( ?; ?" F0 G/ wréférence.
* k1 l4 {/ }1 Q# p# n+ _2 P1 IAmendement 1 (1998).
2 q9 o* G' S3 V$ X9 B- u" h* `  z60904-6 (1994) Part 6: Requirements for reference solar modules.
5 a4 v' U, T" P$ @Amendment 1 (1998).! A3 ~: }4 O0 V6 b6 i2 g: m* ~
60904-7 (1995) Partie 7: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-7 (1995) Part 7: Computation of spectral mismatch error
; g  k$ s7 u& h' Vintroduced in the testing of a photovoltaic device.( Q& I8 O6 W% [* C" X# x- k; ?. j# X
60904-8 (1998) Partie 8: Mesure de la réponse spectrale d'un% d8 i( y$ Q- d4 {
dispositif photovoltaïque (PV).+ w1 P, P1 o6 }+ E5 Z/ b8 e
60904-8 (1998) Part 8: Measurement of spectral response of a
3 i# k8 P, c+ a8 J4 kphotovoltaic (PV) device.+ x$ t  G* Z; N- G# a2 ]. H
60904-9 (1995) Partie 9: Parue en langue anglaise uniquement. 60904-9 (1995) Part 9: Solar simulator performance requirements./ n- j+ M0 {5 G9 i+ B* t( D
60904-10 (1998) Partie 10: Méthodes de mesure de la linéarité. 60904-10 (1998) Part 10: Methods of linearity measurement.3 f4 L+ i$ m# M+ O
61173 (1992) Protection contre les surtensions des systèmes# _$ m% B/ `" Y6 K7 s, p  y8 |6 b
photovoltaïques (PV) de production d'énergie –
- c  R6 R5 J6 Y% w" _, E% WGuide.
) I$ z0 c% G0 N" w61173 (1992) Overvoltage protection for photovoltaic (PV) power
7 ]6 q  n9 S1 K$ p7 j4 kgenerating systems – Guide.
( f& P+ h+ a  m7 J! G, H1 j61194 (1992) Paramètres descriptifs des systèmes photovoltaïques# r1 I* R: A) T8 q: `2 K
autonomes.: Z/ c! k# J% A* w, ]1 {8 x$ ]
61194 (1992) Characteristic parameters of stand-alone photovoltaic5 p* [9 f* e+ i* p9 @( |- V
systems.
6 b$ T* @9 o! W: `% O3 e61215 (1993) Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin" a6 \# j* r) X% K( L5 y
pour application terrestre – Qualification de la
* a2 W: y9 b' N! f/ Sconception et homologation.2 R, L# s3 m2 U# \; h# D% f
61215 (1993) Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV)
2 ]) {# |* ^6 K6 {3 F- k! q' Kmodules – Design qualification and type approval.; a  J" W, l: _( m2 B, V
61277 (1995) Systèmes photovoltaïques (PV) terrestres – Généralités
% u. e/ {& P6 z5 Aet guide.
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