关于AV类产品的故障试验

david888

呵呵。
一般的产品都会有一个测试周期，不用太担心。
我以前有做过AV类的测试，其实大致的故障试验就是那么几个。
* ^" j6 `4 }) g( X9 `在做温升实验的时候就得跑去做其它实验并整理数据，这样会比较快。
另外，可以向工厂多要些样品，就可以在同一时间对样品分开进行故障测试。
7 V" @5 ?+ ?5 O3 ]3 u而且，有些故障测试的结果是可以预料的，比如会烧保险之类的。几秒钟就算OK了。

david888

是啊。
' j9 g3 p# ?$ Q1 S5 |当然因产品的不同具体在进行试验时也会有不同，我说的是大致的故障测试都差不多。

suuny_yang

看标准吧,4.3章写的很详细的

安规菜鸟

是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

barry

引用第5楼安规菜鸟于2007-10-10 15:39发表的  :
是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

; Q8 S7 B0 ?2 R7 {4 ~: I對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。
# A+ a, Y# A# n
4 F# E" G2 }" l如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

安规王子

我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

barry

引用第7楼安规王子于2008-03-13 23:30发表的  :
我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

, d0 b. W% ]" h4 z7 o& D; N: o是要测“electric strength”吧。

. v) x- X. U( }7 R& q- H每次异常测试后必须要用“electric strength”来检验的。

秋飘风叶

引用第6楼barry于2007-10-10 15:47发表的  :
0 p; q) Z" K2 {% z' H% y" h8 ?
( `1 [, {; c5 {9 y% v3 A& c
0 N+ x* i+ o' Z# N$ b對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。

5 D$ M9 B6 v2 R6 ~9 H7 \如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

0 d/ Z( _3 {* w/ V- R' N9 `我对一些开关电路也不太熟悉，所以每次做的时候IC那一块都做得马虎，真难啊。