关于AV类产品的故障试验

david888

呵呵。
) {+ V7 O6 D& q$ ^% Z( V5 S9 Q一般的产品都会有一个测试周期，不用太担心。
我以前有做过AV类的测试，其实大致的故障试验就是那么几个。
, g  v1 M: h% d在做温升实验的时候就得跑去做其它实验并整理数据，这样会比较快。
& ^, l8 x# V- E另外，可以向工厂多要些样品，就可以在同一时间对样品分开进行故障测试。
而且，有些故障测试的结果是可以预料的，比如会烧保险之类的。几秒钟就算OK了。

david888

是啊。
" X* H$ I7 e5 B  z0 l; f0 N8 z* a当然因产品的不同具体在进行试验时也会有不同，我说的是大致的故障测试都差不多。

suuny_yang

看标准吧,4.3章写的很详细的

安规菜鸟

是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

barry

引用第5楼安规菜鸟于2007-10-10 15:39发表的  :
是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。
  x# o# u, S5 |/ {: w$ e  A
如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

安规王子

我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

barry

引用第7楼安规王子于2008-03-13 23:30发表的  :
* |: p( E  t" [: y! O* N7 d9 m我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

是要测“electric strength”吧。

每次异常测试后必须要用“electric strength”来检验的。

秋飘风叶

引用第6楼barry于2007-10-10 15:47发表的  :


對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。
7 B4 S4 A; N6 T& t. f
, E9 `9 h. ?# }- \# z如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

3 H9 J* A$ n4 |) g6 e0 ~我对一些开关电路也不太熟悉，所以每次做的时候IC那一块都做得马虎，真难啊。