|
污染等级:0 C* l1 c8 E. X, i6 a3 n" A j( \
微环境决定了对绝缘的污染影响。当考虑大环境时,要考虑微环境。
, \% Y! @: t4 T" x v( }) a6 L应在考虑充分使用罩壳、封装或密封胶的情况下,减小污染对绝缘的影响。当考虑PT-系统或在正常使用中产生的污染的情况下,这些措施可能不是很有效。3 n# U- i0 t* Y! `3 Z. A. |
小空气间隙可通过固体颗粒、灰尘和水来充分跨过,因此在微环境下可能出现污染的位置要规定最小空气间隙。
4 ?* a$ j8 M$ {8 J4 y1 B& y0 u/ E注:污染在潮湿的情况下可能导电。污染由污水、烟、金属或可导电的碳灰造成。4 }, k+ l4 x3 d3 W# f! d; Z; x
微环境下的污染等级
- }: q) l$ H% e$ f9 r1 e: B为了评估爬电距离和空气间隙的目的,确定以下三个污染等级:9 M. A0 q, b- Z: c1 r! \" W
—污染等级1
- i$ k; f" z. w. }* h无污染或仅存在干燥、不导电的污染。此类污染不产生影响。
o, p; B9 K& E: U& I—污染等级22 X' H- M# M( R7 v6 q" D. r4 c
除了偶尔产生预期的临时导电外,仅发生不导电的污染。4 V% ?. ?. T4 j6 ]
—污染等级31 L/ n7 m: G) v- X/ j. K- f! A6 G
发生导电污染或预期中干燥的、不导电污染变成导电性的污染。 |
|