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比方说:9 V$ l* I7 c! U! B8 A$ ^
7 }7 G) S! W w7 N% k) a- v0 H
-----有一个系统,它是由许多零件组合起来的,比方说是硬盘,光驱,电源,等等- ~; x9 y( A5 M, O. j: k2 U
, L- ]7 R, d! u# Z+ q现在,系统的要求是:5 t: x+ H4 L# h9 \- z) }' e
-----Shock: Operating: 40 g, half-sine pulse, 11 ms duration, 3 times per face# h n8 Q/ Q: n
+ {" h5 N* Y; s& u0 J+ {/ X
然而,我们发现硬盘的通过的测试是:: X- X/ |+ X3 v0 E% @
-----Shock: Operating: 400 G/2ms, 200 G/1ms,,half sine wave
% X7 H+ W! M0 v R/ n+ B
& n9 s5 Y4 R$ Y1 g" d0 L现在的疑问是:9 }8 v( y# M8 e2 r$ P* o
-----这两种标准,谁能cover谁呢?
! H, O h. T3 K* |. P- m -----这两种标准之间能进行换算吗?如果可以,怎么弄呢?$ Y9 E+ y4 [ h0 n' J
-----UL60950,对shock的定义,为什么会出现几种不同的测试标准呢?; z% X$ a6 o6 q% c: x2 t1 o- W* @8 S
-----这两种标准的测试方法一样吗?如果不一样,各自的理论依据是什么呢?: a9 _9 k P5 b1 }. |
-----有时,我在选用零部件的时候,发现各自的波形也不一样?那时又该怎么测试呢?
; E! J, p2 Q3 Y; z8 ~2 E8 N* f& A9 c5 j5 Q' H; r6 b
请大家讨论讨论。。。。谢谢啦! |
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