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比方说:% X. t! k. \3 e6 c3 P. I$ U
' A9 x7 ~3 ?2 ]$ {/ T
-----有一个系统,它是由许多零件组合起来的,比方说是硬盘,光驱,电源,等等
1 C- e& F5 ?( n9 J
% _) Y2 O/ r) t# P+ H现在,系统的要求是:
* Z7 G4 n; y, L' Z -----Shock: Operating: 40 g, half-sine pulse, 11 ms duration, 3 times per face/ c9 w) a. Q$ G) a2 ]6 i! d5 m3 U
2 u) a# t7 ^5 \/ B5 n+ U 然而,我们发现硬盘的通过的测试是:
" @6 A5 k% e. z0 N0 h" U -----Shock: Operating: 400 G/2ms, 200 G/1ms,,half sine wave
8 J; T& P: D9 D+ W6 t" m1 V! t7 f2 w, H$ P* G* H
现在的疑问是:7 e# X$ ^2 U1 \+ `$ ]; v
-----这两种标准,谁能cover谁呢?
$ j6 N7 b6 M0 v9 n; Z- v -----这两种标准之间能进行换算吗?如果可以,怎么弄呢?5 j' d% m4 L8 u2 j
-----UL60950,对shock的定义,为什么会出现几种不同的测试标准呢?
( S6 i5 K+ L+ O5 a5 V6 p; }2 n -----这两种标准的测试方法一样吗?如果不一样,各自的理论依据是什么呢?; o G0 H4 c' F1 }7 R# ~4 n
-----有时,我在选用零部件的时候,发现各自的波形也不一样?那时又该怎么测试呢?
, r0 P" k/ a7 Y5 e1 W R0 X. M f; ?2 S3 e' L. Z& x
请大家讨论讨论。。。。谢谢啦! |
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