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[IEC标准产品] 请问什么叫“累积的应力”

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发表于 2008-12-1 22:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
IEC 60335中% F; E9 H" L! I9 `# a& Y
5.2+ q- F; c% r9 L6 w
NOTE 2 The cumulative stress resulting from successive tests on electronic circuits is to be avoided. It may be& {" B7 p8 R( w  J
necessary to replace components or to use additional samples. The number of additional samples should be kept
& v" O# a  ?) E4 r1 h0 u# x6 Yto a minimum by an evaluation of the relevant electronic circuits." ~7 ]$ I! [2 }4 N% x

& t2 m% ^4 K6 _* XGB4706对应
& x& X3 s8 I. z注2:应该避免在电子电路上连续试验造成的累积应力,必要时更换元件或使用附加的试样。应该使
  F2 O6 b, B% C, B2 d- l* t得评估各相关电子电路所需最少的附加试样数量。
" ?/ c: }6 A. C
/ K+ g% b+ t$ {8 V0 Z* s" e+ {5 D请问这里的cumulative stress (累积应力)是什么意思,能举个例子么?
发表于 2008-12-1 23:10 | 显示全部楼层
试验要求破坏性试验只能保证一次,
发表于 2008-12-1 23:19 | 显示全部楼层
重复多次的话会影响测试结果
发表于 2008-12-2 16:33 | 显示全部楼层
大家都知道所有元件都有一个基本的寿命,特别电子元件这种特别敏感的东西。) Z- C" q3 i: T0 u9 H) U: Y# H3 ^% X' A
在进行电子电路上进行试验时,很多时候会对某个或某几个元件造成超过其额定使用范围的压力,. I: n; h& n# y" G
以电压和电容为例:
, l+ r  Z" ~4 D' J& t! f6 L6 X一个额定工作电压为275 V的电容,在短路某部分电路进行试验时,可能造成其受压:350 V* W2 s& A: n, r+ A: T
这样来说,(电容不爆的话...)其使用寿命就会减少,. E! b0 {/ i: ^. A
过流,过压都会造成应力
" q8 x! L: @* e这就是所谓的累积的应力
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