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[IEC标准产品] 请问什么叫“累积的应力”

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发表于 2008-12-1 22:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
IEC 60335中
2 R* n  y' B! Y/ O) k3 c% Q. w. q5.29 F% I7 l# C. I! O. }" d5 H4 M# I+ x
NOTE 2 The cumulative stress resulting from successive tests on electronic circuits is to be avoided. It may be
9 E' ]4 W3 @) o, S' c$ T; P, ]necessary to replace components or to use additional samples. The number of additional samples should be kept
9 J4 b. c. Y4 Z; S5 Eto a minimum by an evaluation of the relevant electronic circuits.7 a. K2 {! x2 w( t! {% i1 G$ @

& D, v3 P# s3 {/ vGB4706对应
8 x0 {2 ?6 A5 a6 E注2:应该避免在电子电路上连续试验造成的累积应力,必要时更换元件或使用附加的试样。应该使. ~* l! x: ^2 Y. P, k7 N5 k
得评估各相关电子电路所需最少的附加试样数量。
% E5 k# M# f0 G" h& l
4 f7 v2 V. C3 d% p# ^8 ~请问这里的cumulative stress (累积应力)是什么意思,能举个例子么?
发表于 2008-12-1 23:10 | 显示全部楼层
试验要求破坏性试验只能保证一次,
发表于 2008-12-1 23:19 | 显示全部楼层
重复多次的话会影响测试结果
发表于 2008-12-2 16:33 | 显示全部楼层
大家都知道所有元件都有一个基本的寿命,特别电子元件这种特别敏感的东西。  X) C2 K  Z3 O! e
在进行电子电路上进行试验时,很多时候会对某个或某几个元件造成超过其额定使用范围的压力,
# {& z' |; B; z以电压和电容为例:  e% p& d9 k: s# y" f
一个额定工作电压为275 V的电容,在短路某部分电路进行试验时,可能造成其受压:350 V
" q( N) B+ c" N. d$ v这样来说,(电容不爆的话...)其使用寿命就会减少,+ |2 i) x) G2 ?% V) j. v% k
过流,过压都会造成应力" V( j5 |2 N6 o  d% Z
这就是所谓的累积的应力
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