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楼主: myfavor

[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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发表于 2008-8-22 09:42 | 显示全部楼层
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
5 q3 c; J. Q0 w9 a没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
发表于 2008-10-7 15:15 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
* ^6 Q0 A& j, D$ [一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障) p" F+ k  J# x
的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
发表于 2008-10-7 16:06 | 显示全部楼层
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
发表于 2008-10-21 16:35 | 显示全部楼层
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
5 y7 s5 i! _& }6 y! R5 L1 l# \一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障0 F1 F* W3 \; e. x2 }
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
) {$ @( m+ |( z5 G
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)" }7 d+ G# u6 D/ V$ z
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值2 s' }! D! c7 i1 C- B6 R, j
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
" ~9 j  |9 M7 }3 f$ ^- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s.4 q* a$ J2 [( |( Z  H; o
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.
* Y3 j9 u& j( X5 `% A& N: B......) j7 z. |  P. l' k1 V
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。$ S# G! o& n! Y' v- f) m1 I
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.
1 R, }8 h5 y. e0 R3 S6 A6 @非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.& I8 ~$ I  h+ j3 T) e
- u. d- [1 Y1 R
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 显示全部楼层
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :
. f% I! E9 E/ e7 P0 X- F# F' ]9 E' _+ o5 V, T) M/ Y9 O

0 ]- d0 k' d/ U# y/ B2 t4 ^* V你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
3 d' n7 i1 b: ?; D1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值: y) ~5 l' d5 l0 \
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,/ s, e# j' h% r1 ^5 [
.......
8 _+ u3 d" Z2 j/ v, @
请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。$ k: d9 j: E# C! i
而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
发表于 2008-11-28 16:07 | 显示全部楼层
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
发表于 2008-12-2 15:02 | 显示全部楼层
这个电阻需要认证,或单独测试
发表于 2009-4-30 10:41 | 显示全部楼层
请问:为何用两串两并方式。
% n' {, b8 Q" w" x
" Y2 l0 ~, d' Y! q6 M4 o: X总电阻为原电阻的0.8倍。
7 H( Y% _/ y% @# z. U
7 \) D8 H: |" U- B6 Y0 X耐压上,串联并不能保证并联的耐压。
1 [1 L8 K4 j6 ?# `
. w; C' w2 Z2 I8 ]0 @+ c另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??0 ^8 Z/ R* T: E7 v
请大侠指教。
发表于 2009-4-30 11:20 | 显示全部楼层
两串两并方式考虑过能效
发表于 2010-4-24 13:29 | 显示全部楼层
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :+ h4 S# B$ ~9 j2 G& T: ]
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。; E. |; y( h8 t7 S
  谢谢!
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