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楼主: myfavor
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[电源产品] 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题

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11#
发表于 2008-8-22 09:42 | 只看该作者
广东安规检测
有限公司提供:
引用第8楼suuny_yang于2008-08-21 17:36发表的  :
% a# {& ]) W" a0 |没事干吗放那么大的X电容在这里啊
滤除差模干扰!
12#
发表于 2008-10-7 15:15 | 只看该作者
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
" W% Z' ]' F" A" c* J2 N一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障
& G3 O) o% V1 M6 h+ \的情况,即不会考虑放电高压电阻电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?
13#
发表于 2008-10-7 16:06 | 只看该作者
我现在也在想这个测试应该怎么去测试呢!!
14#
发表于 2008-10-21 16:35 | 只看该作者
引用第0楼myfavor于2008-07-28 17:39发表的 60065考虑单一故障条件下的X电容放电测试问题 :
8 Q, B6 l& [; d6 U3 M& Z2 v, J一般开关电源申请60065标准的时候对于L,N两端连接的X电容放电测试我们的做法是不考虑单一故障) p+ e0 N4 n# c9 k
的情况,即不会考虑放电电阻短路或是开路的情况,只考虑正常工作的条件。因为如果这样考虑的话很多电源都过不了该测试。但是标准的11.1中倒数第二段却似乎要考虑电阻短路或开路的情况,只是在电阻本身通过14.1的测试时才不用考虑,对于大多数电阻来说都不满足该条件。对于这个测试,各位如果理解?

8 B5 e9 j4 p" y1 L: F( G你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)
" I$ e% S  u2 e$ p7 T! x1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值
/ s8 o1 p' q' @/ z: u  |% }) j9 J- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,
* U1 L: U% [- T; g- for audio signals of professinal apparatus, 120V r.m.s., N7 f9 R# t' T' Z( |0 b
- for audio signals of other than professional apparatus, 71 V r.m.s.* r) U7 f) s# V: o, o+ h, D
......) O2 s2 a. ]: K; Y& k, J
后者是非正常工作条件下的值。可以看到相应的比正常有点扩大。5 B- W' ^# H5 k
这有点如IEC 60950-1时的SELV值,正常时是42.4V peak, or 60V d.c.! H5 W$ q$ k$ d' i
非正常时是71V peak, or 120 d.c.,  但不超过0,2A.% R, J7 s4 P1 T6 K7 y6 r
: ^9 \% F  I3 {2 r0 \  r  k1 w( o
2. 标准的11.1中倒数第二段隐含的意思是,对于这些符合其自身标准的元器件(比如电阻,电容,RC units,光耦或电感),不需要做短路或开路测试。这里我理解的光耦不需要短路或开路是其初次级脚的短路或开路。
15#
 楼主| 发表于 2008-11-27 13:09 | 只看该作者
引用第14楼ljh809809于2008-10-21 16:35发表的  :7 G# b9 w7 v0 J2 ^
# {5 L/ n7 L0 j" r
3 }+ M! S( u' |9 x+ A5 Z
你的理解有偏差:(你可能只是理解成 cl 9.1.6 withdrawal of mains plug这一节了)7 a9 n- U. }& R
1. cl 11.1的这一段是与cl 9.1.1.1的那一段相对应的,前者的电压是讲正常工作条件下的non-hazardous live parts的电压限值) r; \: y3 c7 u* U( ?+ Y
- 35V (peak) a.c. or 60V d.c.,! W3 r5 a$ u* Z0 \$ R: R8 a
.......

8 F6 n8 ^9 |2 T: h请注意11.1并不是只对应9.1.1.1在故障情况下的要求。
& x% k$ m0 y9 V& G, C) _而是对应于整个第9章在故障状态下的要求,包括9.1.6,见标准11.1的第二段。
16#
发表于 2008-11-28 16:07 | 只看该作者
单一鼓掌需要X电容放电测试吗“
17#
发表于 2008-12-2 15:02 | 只看该作者
这个电阻需要认证,或单独测试
18#
发表于 2009-4-30 10:41 | 只看该作者
请问:为何用两串两并方式。
# l& W' a# f- o$ g9 l5 R: a$ l( z9 m. m& s
总电阻为原电阻的0.8倍。: b/ ^/ F. k6 t' i0 t
; `3 o! R0 H; F' d5 F6 ]  [' z
耐压上,串联并不能保证并联的耐压。; E5 T  M8 {9 G' d+ A4 S
0 _1 j& Z, G# V# S  e& w
另外,这种方法是否是结合X\\Y电容使用??
# ]- T) S, A3 P$ x4 r2 s- W6 m请大侠指教。
19#
发表于 2009-4-30 11:20 | 只看该作者
两串两并方式考虑过能效
20#
发表于 2010-4-24 13:29 | 只看该作者
引用第18楼alger于2009-04-30 11:20发表的  :4 \- ]! @% q% i* V3 X6 p" P$ t
两串两并方式考虑过能效
    和能效有什么关系,能否说具体点。1 m, i5 [. ^0 @( l! e7 Y7 ?
  谢谢!
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