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高温加速系数的确定
/ V! x* r) l3 K0 F- L2 K对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:% d; _ L* t4 ]$ C
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}
$ D0 q- {& z# q! h" ^! @- C/ e上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。4 }, U( j/ ?6 Z/ y# b9 A2 U% s
式中:
( ` q3 j, P- H$ G" s9 xEa:激活能,这里取值为1.0eV;
6 S- N8 g, l/ B) a" ~k:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;, ^0 O" d9 \5 N" i) k
Tu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;
! e V+ F0 z4 p5 a8 tTs:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;6 c/ {/ v! L& O N
经计算,AF=31.74 _3 i! W, R: B
所以加速条件下,MTTF取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。7 `, Q M% o) `9 h K& w
若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。
, u4 `* A! n" I从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片,这对于预期的使用寿命周期内约二至三年,并且大部分时间处于低负载状态,这要求也比较合适。经高温加速后试验时间缩短为一个月,生产单位可接受。 |
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