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高温加速系数的确定
2 k5 [; ]# h/ u8 T6 U5 ?对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:
% n4 M2 Y Y& m8 L7 k3 vAF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}
7 _. e; {1 U) ?: V/ k1 ^' Y上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。% z' h0 Q3 r4 i. e
式中:
e- \8 r( ]+ ^5 o4 ?2 QEa:激活能,这里取值为1.0eV;
7 ~& k9 y. y4 o/ }k:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;8 q. l, E" l0 _( _ Q! h" _
Tu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;7 ^& t4 O w% i! n- S
Ts:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;2 `8 O3 O) u& q p+ R3 R
经计算,AF=31.7
1 U0 E! y; Y+ F. e0 N. N- |9 [3 `, N& |所以加速条件下,MTTF取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。
' }/ T) r, l$ e5 ~/ {4 \+ Y若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。 U% l9 U# p. P
从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片,这对于预期的使用寿命周期内约二至三年,并且大部分时间处于低负载状态,这要求也比较合适。经高温加速后试验时间缩短为一个月,生产单位可接受。 |
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