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[信息产品] 60950中1.4.14故障和异常测试

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楼主
发表于 2015-11-6 14:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
1.4.14中的描述如下:0 D7 H7 G) Z' P5 W1 h) E( p
当设备某个单一故障时,这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。
8 B) y' B( X  G) l  m7 l/ ]4 _4 I% A4 _! j, L

% G- b( m6 e' _4 s8 v. X3 w基于此上有疑问如下:
. I7 K' c& q; h4 m; u1 基本绝缘失效主要指那些?能否举例说明?$ j& n% L4 ^2 \% M* @8 c; R  Y
2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘,如果失效后,接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后,需要对设备做耐压测试,这种情况下,L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下,怎么解释?
" Y7 q/ s, b; S' A4 @% c) u" i9 R& `1 o& g0 o1 }
# v" J5 C1 w" u: D$ h2 J
望高手解释下。
: g+ L+ a5 D  ?0 r* ?7 R5 d) H8 ~' N3 m0 ?
7 j& s0 X" a0 [
沙发
 楼主| 发表于 2015-11-6 15:30 | 只看该作者
没人解释下?
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板凳
发表于 2015-11-9 16:36 | 只看该作者
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
1 I4 o8 X. Z; i2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

点评

1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI; 起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧? 另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件  详情 回复 发表于 2015-11-10 18:53
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地板
 楼主| 发表于 2015-11-10 18:53 | 只看该作者
microos 发表于 2015-11-9 16:36
8 U4 t, _4 b( J7 Q0 S1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
# g/ _4 n2 D: E# A: @& S% ]2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...

. Z$ u& z5 y1 o4 L' a* O1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;. ~+ d4 O5 ^. S3 o" R$ j3 b
起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?$ J( p) C) V1 l) L+ \
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
& G1 X2 x: w2 P. w  h  C2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.
) E2 ?' }6 Q: ?9 t2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释?

点评

1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。 2。PE到live parts满  详情 回复 发表于 2015-11-10 21:10
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5#
发表于 2015-11-10 21:10 | 只看该作者
powerlg 发表于 2015-11-10 18:53
* a6 o6 _( K% Y% u% p: l1 j2 a1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
' I  Q# |! Y4 V' O8 k4 `起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝 ...
9 C2 W* s" c6 v8 Y
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。
; o6 u- a( h) C7 C2。PE到live parts满足BI没错,并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的,比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

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感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.17和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。  详情 回复 发表于 2015-11-11 11:25
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6#
 楼主| 发表于 2015-11-11 11:25 | 只看该作者
本帖最后由 powerlg 于 2015-11-12 13:38 编辑
+ q6 g7 @3 n: R. z  f$ m" i
microos 发表于 2015-11-10 21:10
3 w, y; A. D$ i8 `5 Q% l$ e3 J! F% l1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重, ...
6 T- m$ Q1 N+ Y, L6 ]! ~# r( H
感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。
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7#
发表于 2015-11-11 17:02 | 只看该作者
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

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我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。  详情 回复 发表于 2015-11-12 13:41
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8#
 楼主| 发表于 2015-11-12 13:41 | 只看该作者
sky0805 发表于 2015-11-11 17:02 / k$ ~' }- c$ x9 ~. H
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

0 Z4 X, ?  m6 `) N+ e; k( y我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

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謝謝您的回覆喔!!!  发表于 2015-11-12 17:47
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