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发表于 2015-11-10 18:53
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microos 发表于 2015-11-9 16:36
2 w+ z, V @: J1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
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: r4 V$ r/ @& }+ t; r1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
, ?6 k( k7 y+ ]9 X$ m起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?2 m+ F* ^' ?! I" R1 R d0 p- G
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
6 ?5 }( w4 }4 G. m5 a2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.' v/ ^' |! v, r7 q
2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释? |
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