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[IEC标准产品] 一个有关GB4706.1 泄漏电流电气强度的试验问题

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发表于 2015-1-19 19:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
      某产品,输入额定电压220V,II类,带有12V直流输出。输出端口IEC 61032的B型试验探棒触及不到,但IEC 61032的13号试验探棒可以触及。6 o( G3 N+ c9 P- `6 o6 L1 ?
      问题:该产品泄漏电流和电气强度测试,在电源输入端和12V直流的输出端是否应当施加试验电压?8 u, Y0 U, F' g, I
      回复请说明理由和标准依据。0 \; Y% Z0 |9 f) p
9 v8 A; ]  @) E2 ~4 W5 j

0 W8 E4 i% C* J# F2 c7 |(为什么发帖插不进图片了呢?)
发表于 2015-1-19 20:11 | 显示全部楼层
我觉得,13号测试手指可以触及的话,同时这个东西才12V,除非是安全隔离的,否则不能符合II类器具的要求。(如果不是安全隔离的话,直接就要改结构之类的)
6 \* q0 o+ i( ^1 R6 n# U: @因为B型手指触摸不到12V的输出,所以12V的输出与电源输入不需要满足II类结构0.35mApeak的要求。
! q% ]9 f8 O$ ]" Q5 B# o+ l4 l也就是说,泄露电流不用测试。8 ]; r* y! q7 o( K. Y+ _) e
但是对于耐压测试的话,电源输入与12V输出,要测试13.3和16.3,而且是按照加强绝缘的要求进行测试。
' R" Y7 [/ g: D; `# K

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参与人数 1安规金币 +15 收起 理由
caballo3157 + 15 有道理

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发表于 2015-1-19 21:51 | 显示全部楼层
漏电流考量的重要是流经易触及表面的电流,考量易触及表面主要是IEC 61032的B型试验探棒,没有参考试验探棒13,所以这漏电流不应该测,能够被试验探棒13触及应该是参考8.1.2防触电来判断,具体判断触及到的是否是危险部件。至于耐压就要以结构来判断,这个结构是什么类型的防触电结构,需不需要打耐压来考量,视具体情况来定
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发表于 2015-1-25 00:57 | 显示全部楼层
输出端子如果13号探棒触及不到应该不用测泄露电流,但外壳的泄露电流需要测;耐压也是需要打的,打耐压本身就是因为需要评估初次级之间的耐压要求,无关乎是否可触及,比如变压器初次级之间也需要打耐压一样。
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发表于 2017-4-26 15:20 | 显示全部楼层
zhangfc 发表于 2015-1-19 20:11 + T) K- @8 x0 G6 f$ F
我觉得,13号测试手指可以触及的话,同时这个东西才12V,除非是安全隔离的,否则不能符合II类器具的要求。( ...

- s) F3 g* L1 ?' U" e同意电气强度的判断,依据8.1.46 ~! x) s; ]* P9 r9 `9 [
不同意泄露电流的看法,依据8.1.2中“注:器具输出插口不认为是插座”。+ z% g& T5 }2 C+ K
13号探棒能触及12V输出插口,认为这个插口是可触及的就应和其他可触及部件一起做泄露电流测试,欢迎大家讨论

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caballo3157 + 15 欢迎讨论

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发表于 2017-4-26 17:23 | 显示全部楼层
最好是分层次来理解。( m1 p+ B1 h' E$ H, f- Q0 a
不管是13章还是16章,电气强度和泄漏电流都是施加在“易触及部件”上的(另一端施加在电源线上或带电部件上,13章与16章不同)。
* o$ H0 [) F" S9 K) a/ `是不是“易触及部件”是用B型探棒来检测的,不是13号探棒。0 @; R# z& }  w; z
从这点来看,B型探棒无法触及则无需检测电气强度和泄漏电流。  f/ x0 i: A7 l" G1 i* k
然后2 ^) ]& h' u. C: ?! E; {% R
看13号试验探棒触及到了是否符合要求。2 Q, t: O7 s+ a& u, T
再看B型试验探棒。。。。。。

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高工,此类产品很多,大家的做法不统一,看我回复的,想听听您的意见  详情 回复 发表于 2017-5-3 09:50

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发表于 2017-4-27 16:34 | 显示全部楼层
追加一个问题,8.2试验是讲B型试验探棒不能触及仅有基本绝缘隔开的金属部件吗?

点评

这是一个通俗的讲法,显然不严谨,会有歧义,而标准的讲法则不会。 试想,基本绝缘外又有一层热缩套(或功能绝缘等不符合附件绝缘要求的绝缘)。 按你的说法该判合格还是不合格?  详情 回复 发表于 2017-4-28 11:07
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发表于 2017-4-28 11:07 | 显示全部楼层
黄良友 发表于 2017-4-27 16:34 + B  P7 m# x7 E5 @/ I' N# P$ F1 m
追加一个问题,8.2试验是讲B型试验探棒不能触及仅有基本绝缘隔开的金属部件吗?
& o5 c( C9 o- Q$ H# V1 B
这是一个通俗的讲法,显然不严谨,会有歧义,而标准的讲法则不会。9 F8 C8 g8 t& D6 B9 l/ m) j1 a- `
试想,基本绝缘外又有一层热缩套(或功能绝缘等不符合附件绝缘要求的绝缘)。
( s$ w$ k3 K  j1 ?5 v/ s/ G按你的说法该判合格还是不合格?
& A; K4 u  a$ m
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发表于 2017-4-28 11:17 | 显示全部楼层
是的,只针对二类电器和结构,其实关键是第二句只允许触及双重和加强结缘。
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发表于 2017-4-28 11:43 | 显示全部楼层
yuzhiqiang 发表于 2017-4-28 11:17 4 W. ]# P4 q/ G( A" @2 @! X
是的,只针对二类电器和结构,其实关键是第二句只允许触及双重和加强结缘。

" T' H* C1 H  k: d* A; _感觉还有有矛盾,比如8.1.1的试验对象并未确定是某类器具试验,而判定结果是:不允许触及带电部件。这包括了2类器具,然而8.2中的要求值允许触及加强绝缘或双重绝缘。假如试验过程中触及基本绝缘该怎么判定。。。。。。。。
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