I类器具的II类结构上电气强度的例行试验

山炮 · 发表于 2012-8-11 15:09

会造成损坏的情况下就不应该试验。会导致基本绝缘或附加绝缘承受不该承受的电压时也不试验。部分LED灯具耐压试验常出现死珠坏珠，那就不该试验。保留不适合试验的证据，如受损情况，击穿点形成的真实路径分析，可以堵住审查人员的嘴，这时将耐压试验前移至某些工序前进行就有理有据。真正的耐压试验永远是让电压施加在受试绝缘，而不是通过电子器件后再施加到绝缘上。一个电子产品，打耐压就是将高压施加于电源输入端与易触及端，这样是错误，是原理上的错误，绝缘或跨接的保护阻抗形成的漏电流让一次回路中的电子零件与二次回路上的零件承受了不该承受的电压，产生损坏就在所难免。

craigyu · 发表于 2012-8-11 23:16

山炮发表于 2012-8-11 15:09 : v6 f. g7 s2 x) c- n
会造成损坏的情况下就不应该试验。会导致基本绝缘或附加绝缘承受不该承受的电压时也不试验。部分LED灯具耐压 ...

这话我很同意，但是我听说LED在测试时如果打坏或者点亮了，即使没击穿也是不接受的？没想明白是为什么

，也没人给我解释。

山炮 · 发表于 2012-8-12 10:03

仅从安规角度，打坏点亮是可接受的。但客户肯定不接受。有暗伤的LED，光衰很快。

liuyingcai · 发表于 2012-9-6 22:33

呵呵，跟你们学了不少。

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[IEC标准产品] I类器具的II类结构上电气强度的例行试验

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