电源里的光耦EOL了，重新找了个新的替代，这时整个产品需要重新认证吗？

车3000 · 发表于 2012-7-14 16:13

电源里的光耦EOL（End of life)了，重新找了个新的替代，这时整个产品需要重新认证吗？

谢谢

melon628 · 发表于 2012-7-14 16:32

只需要做些随机测试就OK了。

zouzongsem · 发表于 2012-7-14 17:21

做针对光耦的随机测试。

water1983 · 发表于 2012-7-15 10:51

需要做针对光耦的测试

cicisuji · 发表于 2012-7-25 16:14

zouzongsem 发表于 2012-7-14 17:21
# k, u8 k S' `1 [% b/ D q0 Y做针对光耦的随机测试。

如果新换的光耦本身已有认证证书，还需要做随机测试么？
据说光耦的随机测试费用很高啊。

ye_lin86 · 发表于 2012-7-26 15:45

cicisuji 发表于 2012-7-25 16:14 1 ~- \! u2 S% E7 J
如果新换的光耦本身已有认证证书，还需要做随机测试么？
" t2 e, z: ^' q! B& \% i+ m据说光耦的随机测试费用很高啊。

也要做喔，比如说故障实验

cicisuji · 发表于 2012-7-26 16:03

ye_lin86 发表于 2012-7-26 15:45
7 U& c( N9 D7 N3 v, R0 X+ }' j也要做喔，比如说故障实验

这是因为光耦的作用比较关键么？
我看我们公司总部的一些CB报告增加新的X、Y电容供应商，都没补做新的实验的。
不过更换光耦的没见过，就无从参考具体怎么执行了

xingle · 发表于 2012-7-26 22:22

cicisuji 发表于 2012-7-25 16:14
/ h, k3 T* m4 k: n9 _3 z' R如果新换的光耦本身已有认证证书，还需要做随机测试么？
( ?/ h* R! J# U& D. k据说光耦的随机测试费用很高啊。

如果有相关认证，而且光耦内部参数一致，或者比原来的还好，是不需要随机测试的。主要看电气间隙和爬电距离以及穿透绝缘。

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