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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。
0 O8 k, F: M: i. R4 u设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。2 x8 X" Y/ m2 _
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。
( y" G7 o0 ] k9 V, U1 y9 y4 q9 C) q根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?
; \1 R) S1 n6 o+ C9 v7 [我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。
* ]5 I1 i# R9 i- B" ]L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)( j, [6 I8 C: a3 i+ z
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)- U; [$ e5 w& k7 p* j! e
l! j5 U3 x( V& R5 z# S, G; `7 |1 d
以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!, ~4 E: A# D, }0 L. P
我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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