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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。# K4 |# J; T1 G2 R, Y2 B0 b
设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。: R, L! ?# n# q; E2 U
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。
: E$ |! Q3 ]9 i" ?: _& k根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?
0 ]: \$ _1 L+ T" w6 y b, v: i我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。* L% L; X& {6 K$ F
L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)
4 I& T+ J; v. t4 ]0 X: A也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)
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以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!% A" v" F* v! ]; R/ E) ^- h
我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?; r( Y2 Z! [+ c: z/ b D
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