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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。0 ^. `) [0 H/ B7 T; F5 A
设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。
9 q- `% f2 N7 M# G7 r! ^但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。/ R7 p3 {0 F7 \8 K+ `' ~" j4 W: Q
根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?5 \8 d& c5 I6 u ~3 O9 }& x
我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。$ O6 D: [( T' Y, o) \
L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)
, ~ a9 v- m* m. O: r4 ]& T6 l5 Z也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)/ N( \- t9 x) P' E( N: ]
' |+ |. O5 k- y- G4 X# W以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!) |7 I, Q( i/ Z9 s' i3 m" n
我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?' a( s+ `) \# g3 r
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