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引用第0楼roy517于2007-10-16 19:09发表的 UL60950-2003系列問題 :
+ Q. ?1 f& v0 J6 ~1 D& J, l首先我以下的几个问题都是基于标准：UL60950-2003
) ]7 o1 v& M4 ~, P: W3 k( m7 m1.标准2.4 章LCC测试的具体测试方法？和IEC的测试方法有什么区别？用228的表是否可以直接测Y1电容两端的电流值而不用串2K无感电阻？
J# e: {" |, E. \, o9 s. C3 E2.标准2.2.2，2.2.3，2.2.4章SELV RELIABILITY TEST 的具体测试方法？
8 v3 B6 D2 e! b1 a3.标准2.5章 LIMITED POWER SOURCE MEASUREMENTS 的具体测试方法？
+ _9 K# a$ Y$ R, f' w& N7 v! K4.标准2.10.2章DETERMINATION OF WORKING VOLTAGE - HAZARDOUS VOLTAGE (CIRCUIT) MEASUREMENT TEST请回答具体的测试方法？ L. a7 E+ H" f, ~4 ?- {
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5 F, t4 g7 T# b$ i1.标准2.4 章LCC测试的具体测试方法？和IEC的测试方法有什么区别？用228的表是否可以直接测Y1电容两端的电流值而不用串2K无感电阻？
- a' k7 [" c' ?' N dF：已经有人回复你了，只是提醒一下，如果用2K电阻一定用无感的，否则没有参考价值。要么就用附录D的电路来测试（IEC也是允许的），UL允许用228；注意不同测试条件下的限值不同。$ x7 |. U3 k1 v
2.标准2.2.2，2.2.3，2.2.4章SELV RELIABILITY TEST 的具体测试方法？
& V6 _) }" `5 YF: 根据2.10.2你测试的Limited component 分别短路，看输出电压是否满足要求。
( Y8 g' U7 P7 I9 g6 P, n) E1 V, K
, ~" e- |: M$ c7 F6 ?5 }3.标准2.5章 LIMITED POWER SOURCE MEASUREMENTS 的具体测试方法？# N% S w! @; u( }$ ?. N7 l/ j. j
F：仔细看标准，分清情况：Inherently limited / Non-inherently limited
* f. _! M$ \" l- e X& ?测试时输出: No loading or minimum loading condition
6 H) h4 }+ P+ J: t然后记录输出：
; T# ~& Z3 C/ i/ N) WMax. Voltage (V) Max. Current (A) Max. VA 6 L$ \; H7 [: u W
# K n, v4 g% \3 _7 [然后和认证工程师商量破坏的器件，在器件破坏时记录：4 B* ^- q: N0 z: { u
Max. Voltage (V) Max. Current (A) Max. VA
D8 R& v- z; k6 |/ f: ?3 y8 s' {
+ ?& {4 O7 j; k! B4 i然后根据Inherently limited / Non-inherently limited的分类选择不同的表格进行比较判断是否合格！
( W4 i9 g% `) G+ G3 w2 v
8 J2 U- F+ g" i/ @! ^' ^# B: u; Z
4.标准2.10.2章DETERMINATION OF WORKING VOLTAGE - HAZARDOUS VOLTAGE (CIRCUIT) MEASUREMENT TEST请回答具体的测试方法？
# H r8 [$ f8 E9 L yF：UL的TDS中已经描述的很详细：The outputs were loaded to the rated value. The working voltage at each secondary winding was measured using an oscilloscope and the result was recorded. If the working voltage exceeded 42.4 V pk or 60 V dc, the measurement was taken again after the next component in series with the secondary until the working voltage measured was less than 42.4 V pk or 60 V dc.
/ R& L; V2 Q% `3 W; s Each working voltage measured and each component located in series directly before the measurement was noted. % h$ r5 j; c6 ?; G4 d5 x! d6 r
* G! a9 `( l% ]* U$ b: o! c; E5.标准4.6章针对直插式器具的几个测试问题：
8 Z* \: Y. }2 Q4 F 1.N BLADE SECUREMENT TEST% g' T! Z* {' y$ q6 h- x& _
2.IN SECURITY OF INPUT CONTACTS
9 P' Q' g! S3 l! q 3.IN RESISTANCE TO CRUSHING! t2 f) N% z; }3 Z- H
4.IN ROD PRESSURE TEST
% Y0 b$ I3 D% V 5.WEIGHT AND MOMENT DETERMINATION
1 V! ]! i8 O- |! Q4 O/ e2 u 请教具体的测试方法？& _0 l2 l9 N! t' O- M0 C
F: 4.6讲的是外壳的开孔，你讲的应该是4.3.6，我不知道怎么说，我们的测试方法就是按照UL的data sheet翻译的。; J) _& X3 m3 ~2 w5 D- H
6.标准5.1章5.1, ANNEX D TOUCH CURRENT TEST (SINGLE PHASE/POLYPHASE; TN/TT SYSTEM)请给出具体的测试方法？
: Y3 @6 e# z. T* mF：见标准5.1的图5A和5B，标准中的描述就是测试方法。% H; t: l. M/ Q1 i: l9 c5 W
7.请问在做元件失效时元器件的选择一般有什么原则？5 {# u3 K# z1 F* w
F：器件的损坏可能带来整机危险的点都可以做器件失效，已经证实满足加强/双重绝缘要求的器件不需要做测试。- `* N; ~+ D. n
| 具体的测试方法需要看你们公司的测试操作指导书，不同的公司具体要求可能不太一样，只要大家在对标准的理解上达成一致就可以了，如果对标准的理解有疑问可另开贴再谈！ | | | 从以上你问问题的方式可以看出，你手头可能已经有UL的TDS，UL的TDS对测试方法写的很详细，多看几遍再去实验室操作几次，遇到UL的工程师沟通一下，就差不多啦！我相信很多高手也是这样学习的！ |
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发表于 2007-10-17 09:12
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