|
microos 发表于 2015-11-9 16:36 5 k/ \- K# v+ m0 u
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;& @0 S+ B" C6 R) ~& U, d$ ]7 |
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ... 3 j) D3 A$ }" w- k& u) t
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
3 o2 @# e2 p: m4 Y0 L5 U4 o3 c起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?$ J' e5 J) H+ u+ m' J
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。+ r5 e, m4 r7 z* L) A8 z
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.
$ Y& ^ ?' o& ` u, _1 B# P2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释? |
|