60950中1.4.14故障和异常测试

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1.4.14中的描述如下：
当设备某个单一故障时，这个故障包括任何绝缘（双重绝缘或是加强绝缘除外）或是任何元器件（具有双重绝缘或是加强绝缘除外）的失效。
4 m7 f( Z4 Y& D% C9 o' O5 w
/ J$ s2 e" |& z! G( h
8 Y  @1 Q8 L5 i# v基于此上有疑问如下：
5 \1 [% f4 s1 I5 W1 基本绝缘失效主要指那些？能否举例说明？
2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘，如果失效后，接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后，需要对设备做耐压测试，这种情况下，L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下，怎么解释？

1 B: H* \% y6 n3 s6 v4 h  j
望高手解释下。
8 I# r+ u, U" T. `* A

4 S2 H, u( w( w% y2 I3 m. J

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sky0805 发表于 2015-11-11 17:02
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到，請問法規是哪個版本呢???

0 Q8 p1 a0 W+ U/ P我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14，不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

sky0805

60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到，請問法規是哪個版本呢???

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microos 发表于 2015-11-10 21:10
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求，BI并不是一定不会失效，对危险的防护一般都需要双重， ...

5 g! {4 v( w2 `9 f4 a9 S 感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题，自己又详细看了标准，我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。

microos

powerlg 发表于 2015-11-10 18:53
% D  R: M; u! F- U6 ?* a1.起BI的Y电容，BI+SI结构中的BI;
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/ Y, Y* J+ P  `' E- J1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求，BI并不是一定不会失效，对危险的防护一般都需要双重，需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效，那为什么还有SI？看下定义。
2。PE到live parts满足BI没错，并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的，比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

powerlg

microos 发表于 2015-11-9 16:36
1.起BI的Y电容，BI+SI结构中的BI;
+ a4 d; c/ s! r0 ~& v5 T9 }2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...

- c* F8 {2 ?# M( K1.起BI的Y电容，BI+SI结构中的BI;
起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求，应该不需要做基本绝缘失效吧？
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘（双重绝缘或是加强绝缘除外）或是任何元器件（具有双重绝缘或是加强绝缘除外）的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.
2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险，肯定没有的。但针对标准的描述，怎么解释？

microos

1.起BI的Y电容，BI+SI结构中的BI;
$ W1 _2 p/ j! s+ q' I5 r5 w$ t2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

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没人解释下？