电气强度试验的小疑问

谦谦婉兮

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1、试验初始时，施加的电压不超过规定值的一半，然后平缓地升高到规定值。
) j' O( {& O9 u   请问：这个升压过程的耗时算不算在试验时间的1min内？
; `3 l! t" R8 u" T: a2 v1 I) f
2 X: X0 {4 t! ~" z7 c# t$ ^/ X2、·通标13.2的试验，测量在电源的任意一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。
5 t9 r/ v; @0 R3 \! ]  j6 ?* w% L9 A    请问：为什么要求所贴的金属箔必须与绝缘材料的易触及表面相接触？
2 [% Y; }) {! ?0 }
谢谢！

bob_dai

1. 如果可触及外壳只有金属部件，那么直接测试电源一极和金属部件之间的泄露电流；
2. 如果可触及外壳只有非金属部件，那么用20*10的金属箔覆盖非金属外壳，测试电源一极和金属箔之间的泄露电流；
3. 如果可触及外壳既有金属外壳又有非金属外壳，那么用20*10的金属箔覆盖非金属外壳，并且把金属箔连接到金属外壳，测试电源一极和金属外壳（与金属箔连接）之间的泄露电流。
标准其实是要模拟最恶劣的情况，就是人的手掌覆盖在非金属外壳表面，但是手掌的一部分又触及到设备的金属外壳部分。

ediqi

非金属部件才要金属箔，经常这样用了。

无缘无份

学习了，学习了

阿bin

引用第9楼bob_dai于2010-11-29 20:59发表的  :
1. 如果可触及外壳只有金属部件，那么直接测试电源一极和金属部件之间的泄露电流；
2. 如果可触及外壳只有非金属部件，那么用20*10的金属箔覆盖非金属外壳，测试电源一极和金属箔之间的泄露电流；
# b* ]; _- D8 e3. 如果可触及外壳既有金属外壳又有非金属外壳，那么用20*10的金属箔覆盖非金属外壳，并且把金属箔连接到金属外壳，测试电源一极和金属外壳（与金属箔连接）之间的泄露电流。
+ `9 T& K* t% I! }标准其实是要模拟最恶劣的情况，就是人的手掌覆盖在非金属外壳表面，但是手掌的一部分又触及到设备的金属外壳部分。

请问第三点是否属于最恶劣的情况？接触电流是否可以叠加？这种情况下接触电流的限值又该如何断定？

谦谦婉兮

楼上的正解啊，谢谢。也感谢各位同学的热心参与。
) J3 o9 ^% c7 u2 x3 t' L
$ y7 W- X6 ^  G( V! O7 V: D9 m看来标准的语言描述有时候也不是尽善尽美啊。需要不停的总结。

aha0827

引用第3楼谦谦婉兮于2010-11-29 08:18发表的  :
我的第2个疑问重点是：测量的一极明明是“贴金属箔的金属部件”，为什么贴金属箔时还要使其与“绝缘材料的表面”相接触？

8 ?' e3 e, @% p! n8 \全贴在金属部件上不行吗？

金属部件本身是导体，不需要贴金属箔，需要贴的是绝缘材料， 6楼说的很形象，如果绝缘表面不加金属箔，只能测试某点，如果覆盖了金属箔，测试的是整个覆盖面。结果大不相同！

stey

金属箔也是模拟实际增加接触面积

chenlf

引用第0楼谦谦婉兮于2010-11-28 19:32发表的 电气强度试验的小疑问 :

1 C' r& n0 g7 w/ \# ?
2、·通标13.2的试验，测量在电源的任意一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。
    请问：为什么要求所贴的金属箔必须与绝缘材料的易触及表面相接触？
& }" D5 B* m4 H' c# @' F7 W  P+ C.......

2 E9 C( E$ u& p. P1 X也许可以这样理解：
1. 金属箔可以看作是金属探头的一部份；
2. 由于金属箔的导电特性，相当探头密密麻麻地布满在绝缘材料表面；
3. 这样，可以确保绝缘材料的每一点都施加了测试电压，检测结果是针对整个绝缘材料，而不是绝缘材料的某点区域。

caballo3157

引用第3楼谦谦婉兮于2010-11-29 08:18发表的  :
) I7 O: I. }8 @+ f4 R) k* x! l我的第2个疑问重点是：测量的一极明明是“贴金属箔的金属部件”，为什么贴金属箔时还要使其与“绝缘材料的表面”相接触？
. \# G5 x. I% F: A6 h4 B3 b
全贴在金属部件上不行吗？

不是“贴金属箔的金属部件”，而是“连接金属箔的易触及金属部件”，金属箔要贴在绝缘材料的易触及表面。