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比方说:; J" F. x) X% N) V' b
- h0 e5 c9 q: {7 W# z% } -----有一个系统,它是由许多零件组合起来的,比方说是硬盘,光驱,电源,等等
! S- g) l4 |& B2 N# U) A) v" W; C$ N5 d
现在,系统的要求是:' V' T( H7 X& t% P$ I8 s
-----Shock: Operating: 40 g, half-sine pulse, 11 ms duration, 3 times per face* M% f* B) J0 u( z# e. I2 d2 _
3 k2 h8 {# f x( W3 ^6 n7 _! d% [7 H
然而,我们发现硬盘的通过的测试是:; n, J, p! F+ {
-----Shock: Operating: 400 G/2ms, 200 G/1ms,,half sine wave% I h" x: w, i
' ]" o1 @' p0 q1 `6 E5 F! W" C. ~& Y2 F现在的疑问是:
7 x6 w. y! M2 X6 z! c9 A; o$ { -----这两种标准,谁能cover谁呢?( m+ a/ k- ?- B' ]! ~/ `
-----这两种标准之间能进行换算吗?如果可以,怎么弄呢?1 V$ q& {. {8 {4 o
-----UL60950,对shock的定义,为什么会出现几种不同的测试标准呢?* c. r/ h& `; P4 h% I2 \3 U3 M
-----这两种标准的测试方法一样吗?如果不一样,各自的理论依据是什么呢?& s. o6 v/ B/ [% F
-----有时,我在选用零部件的时候,发现各自的波形也不一样?那时又该怎么测试呢?
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$ [: h @# |8 i: d4 X% Q1 T' ^' O请大家讨论讨论。。。。谢谢啦! |
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