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比方说:
1 a7 D% [* s/ @0 m$ z0 j2 D& K% t ( E0 a7 H, t& G) N8 O5 l: |
-----有一个系统,它是由许多零件组合起来的,比方说是硬盘,光驱,电源,等等6 ^% M7 T q: ?: T Z6 F
' C) j7 e$ q8 s4 w B现在,系统的要求是:; F O$ m1 Y7 A( y4 Z4 G- v
-----Shock: Operating: 40 g, half-sine pulse, 11 ms duration, 3 times per face
5 _3 S8 z- R$ M( `% v' f9 @2 }/ \
然而,我们发现硬盘的通过的测试是:+ ?+ {' j6 @) m$ [; g
-----Shock: Operating: 400 G/2ms, 200 G/1ms,,half sine wave
* ^4 I* C9 W+ g7 d1 P7 u, i/ A# {1 f0 T* p/ o
现在的疑问是:
" F0 H* Z( I" P; d- V0 E -----这两种标准,谁能cover谁呢?
2 |( y& e" |4 s. X6 { -----这两种标准之间能进行换算吗?如果可以,怎么弄呢?
2 o& `/ u* O3 ^( f; } -----UL60950,对shock的定义,为什么会出现几种不同的测试标准呢?
7 z4 Z& u1 Q0 O5 I -----这两种标准的测试方法一样吗?如果不一样,各自的理论依据是什么呢?
, D& P1 P. c x s) S -----有时,我在选用零部件的时候,发现各自的波形也不一样?那时又该怎么测试呢?9 e, S+ i4 Z$ y0 W( @
0 s- w- w- ]5 C# h1 \# O# \- [% r请大家讨论讨论。。。。谢谢啦! |
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