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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。
! _2 s7 g5 D& b/ Q设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。& }# Z2 x1 D/ _ T/ J
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。
4 a: q" p& m+ T% F- y+ T+ `3 V$ t根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?4 ~, M( j4 @: e6 `( s- q4 n
我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。
z9 o2 q- @5 I2 @L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证), F3 P# P2 s" i% p% E; J. s& ?7 W
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)
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以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!
9 c( {1 I% q7 D我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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