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[信息产品] 60950中1.4.14故障和异常测试

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楼主
发表于 2015-11-6 14:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
1.4.14中的描述如下:
8 R" x3 r  F6 z* A0 }" `当设备某个单一故障时,这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。
& a3 x5 e2 o( S$ s* I: m) h  i- H! l/ g2 A/ y; K. N

3 f$ b( W, p# o& z6 C基于此上有疑问如下:& C/ p) A/ p6 c( J, H6 W9 [) l
1 基本绝缘失效主要指那些?能否举例说明?
$ ~2 W7 F0 _4 U1 t9 Q4 B# B2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘,如果失效后,接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后,需要对设备做耐压测试,这种情况下,L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下,怎么解释?" W! [1 P' }( X8 Q' ^1 V7 e
( P- _, u; M- l- d  u
" N* a" `# M: G8 `
望高手解释下。
$ R* y! P- ^$ N: J: W. x5 |- i7 U- a3 r: I  _9 ^

. L" k$ E  r; @2 ~
沙发
 楼主| 发表于 2015-11-6 15:30 | 只看该作者
没人解释下?
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板凳
发表于 2015-11-9 16:36 | 只看该作者
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;2 a$ }$ p. s4 x/ @
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

点评

1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI; 起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧? 另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件  详情 回复 发表于 2015-11-10 18:53
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地板
 楼主| 发表于 2015-11-10 18:53 | 只看该作者
microos 发表于 2015-11-9 16:36 ! X7 R$ Q% j) N8 `
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;1 r) q0 g+ q9 b0 l1 M8 a7 @# `3 q
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...
5 r& n2 I$ m0 q
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
2 y: K* t# T5 C3 j/ o2 T起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?5 q9 ]% [$ `" f
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
3 Q& A/ j. s1 o9 T2 @- T0 P4 l% }2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.
% A7 \' N3 q! C$ U1 j3 F2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释?

点评

1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。 2。PE到live parts满  详情 回复 发表于 2015-11-10 21:10
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5#
发表于 2015-11-10 21:10 | 只看该作者
powerlg 发表于 2015-11-10 18:53
; m8 t( B+ N2 \7 t1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
+ p. }! h; j& B起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝 ...

3 `  X# V  e' S1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。) h+ b6 I( v. h) P
2。PE到live parts满足BI没错,并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的,比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

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感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.17和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。  详情 回复 发表于 2015-11-11 11:25
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6#
 楼主| 发表于 2015-11-11 11:25 | 只看该作者
本帖最后由 powerlg 于 2015-11-12 13:38 编辑 / `3 `+ {) l' \. _# V, m; w* D2 t
microos 发表于 2015-11-10 21:10 , B; d6 O4 j! e; ]5 \: y+ V3 t! K
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重, ...

+ x: k4 Y( w$ V7 \0 Q  u 感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。
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7#
发表于 2015-11-11 17:02 | 只看该作者
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

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我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。  详情 回复 发表于 2015-11-12 13:41
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8#
 楼主| 发表于 2015-11-12 13:41 | 只看该作者
sky0805 发表于 2015-11-11 17:02 ( c: c; ~6 T* |1 Z
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

- @9 k/ X9 x% l# }- J" O1 o我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

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謝謝您的回覆喔!!!  发表于 2015-11-12 17:47
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