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[信息产品] 60950中1.4.14故障和异常测试

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楼主
发表于 2015-11-6 14:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
1.4.14中的描述如下:
; K0 h1 P9 w) f5 R! e当设备某个单一故障时,这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。3 @6 D! N! v' c: J

4 ~9 c' i; N* ]4 d" m6 l: C; \" q% {' ^- K: B( |  @, X4 O5 ?
基于此上有疑问如下:
5 d# O: R, D: d& z: }1 A; h. }% l1 基本绝缘失效主要指那些?能否举例说明?. b" Y5 ^' D) d1 s4 \0 N# J
2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘,如果失效后,接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后,需要对设备做耐压测试,这种情况下,L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下,怎么解释?
! n  X6 q: m( @2 Q; Y' S* ]* u2 U& `. K& E: ~
: I2 n  t8 _4 x8 z: j8 ^! D
望高手解释下。+ J8 {0 g4 d$ V: ~+ r* [

% ]7 F+ w+ v# r$ J3 B8 M0 n) y: }$ M( l  t  E
沙发
 楼主| 发表于 2015-11-6 15:30 | 只看该作者
没人解释下?
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板凳
发表于 2015-11-9 16:36 | 只看该作者
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;3 `2 Y: H8 S+ s; w7 x" W7 @' ~
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

点评

1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI; 起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧? 另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件  详情 回复 发表于 2015-11-10 18:53
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地板
 楼主| 发表于 2015-11-10 18:53 | 只看该作者
microos 发表于 2015-11-9 16:36 9 U- t# G3 b, X6 Q! `
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
* {3 Y8 q" ^( o1 o! t1 X: o2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...

7 D! W, \2 I. b4 J$ \1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;5 u" ^5 h* |/ _6 c
起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?
. C# s0 G  X: \另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
3 N8 O9 V5 q  B, g( w7 v9 ]2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC./ d( l* g5 _+ E; {) K0 c
2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释?

点评

1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。 2。PE到live parts满  详情 回复 发表于 2015-11-10 21:10
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5#
发表于 2015-11-10 21:10 | 只看该作者
powerlg 发表于 2015-11-10 18:53 % c. }. ~5 g4 L; K! U
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
/ A6 P# F* c  d  d起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝 ...

4 h. T' i3 N' z) x, O( t& @1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。
7 I# m1 A  o7 b7 e2。PE到live parts满足BI没错,并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的,比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

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感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.17和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。  详情 回复 发表于 2015-11-11 11:25
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6#
 楼主| 发表于 2015-11-11 11:25 | 只看该作者
本帖最后由 powerlg 于 2015-11-12 13:38 编辑 6 b. S* Y; t  M/ T/ F
microos 发表于 2015-11-10 21:10
3 W6 X! V% G  T* q6 i* v2 J( _1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重, ...
3 X$ p5 B8 X/ O1 w; f- g: W
感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。
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7#
发表于 2015-11-11 17:02 | 只看该作者
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

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我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。  详情 回复 发表于 2015-11-12 13:41
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8#
 楼主| 发表于 2015-11-12 13:41 | 只看该作者
sky0805 发表于 2015-11-11 17:02
2 s2 K* e& G, E' |! \# t1 z) ?60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???
7 T; W7 ?1 P) `) M& M; F
我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

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謝謝您的回覆喔!!!  发表于 2015-11-12 17:47
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