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[信息产品] 60950中1.4.14故障和异常测试

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楼主
发表于 2015-11-6 14:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
1.4.14中的描述如下:# w7 U4 H6 [9 C- }* G2 J4 W
当设备某个单一故障时,这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。
# E. i& i$ ]! `
3 ^7 d" `% u: t% U2 p- v2 u
. [, m* g4 A" D! F% Y基于此上有疑问如下:
3 p! K2 y3 v4 Y8 j/ z" q' j. ?( }1 基本绝缘失效主要指那些?能否举例说明?
+ Z1 L$ f% ^6 O7 U. W2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘,如果失效后,接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后,需要对设备做耐压测试,这种情况下,L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下,怎么解释?" x( Y5 A; a9 R
$ u  C# m/ B  G1 M1 y# i! ^6 u

1 h7 x+ ^5 y! r望高手解释下。
% m% L# m1 s+ }- x
* v& }7 T* I3 X4 o
7 u/ d9 J5 z0 P
沙发
 楼主| 发表于 2015-11-6 15:30 | 只看该作者
没人解释下?
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板凳
发表于 2015-11-9 16:36 | 只看该作者
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;8 `5 H8 Z, X7 U, s2 D
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

点评

1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI; 起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧? 另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件  详情 回复 发表于 2015-11-10 18:53
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地板
 楼主| 发表于 2015-11-10 18:53 | 只看该作者
microos 发表于 2015-11-9 16:36
0 R, B4 j  c8 y. \1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;2 [: P0 U, m, H% @6 e! F# N
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...

( |, T/ o6 e% x4 ?) G: J1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
; K9 d& V% E  @8 |, |" p- p: B起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?, ?1 |. t5 a5 b" T; @2 _  _2 `
另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。
, D7 Z  D5 a6 c; c* J+ }: e! x8 R2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.8 t5 Z1 L  u9 W& G
2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释?

点评

1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。 2。PE到live parts满  详情 回复 发表于 2015-11-10 21:10
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5#
发表于 2015-11-10 21:10 | 只看该作者
powerlg 发表于 2015-11-10 18:53 & {! k8 d5 A$ w1 n9 a
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;  u# [4 ~% |. S* b3 }7 p6 q
起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝 ...

: B6 e2 A- {2 a; `" u1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。" E. C! L6 G1 B8 F/ R, e+ Y
2。PE到live parts满足BI没错,并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的,比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

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感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.17和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。  详情 回复 发表于 2015-11-11 11:25
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6#
 楼主| 发表于 2015-11-11 11:25 | 只看该作者
本帖最后由 powerlg 于 2015-11-12 13:38 编辑 4 D$ a/ G. V8 e
microos 发表于 2015-11-10 21:10 - |) L5 _2 _. K6 B; L. O
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重, ...
( ~4 Q/ k) h2 h% q" S, l
感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。
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7#
发表于 2015-11-11 17:02 | 只看该作者
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

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我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。  详情 回复 发表于 2015-11-12 13:41
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8#
 楼主| 发表于 2015-11-12 13:41 | 只看该作者
sky0805 发表于 2015-11-11 17:02
& G" F+ ^, Y  y9 ]60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???
: Q# Q! y0 t! V6 r2 [+ k& V  X  Z
我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

点评

謝謝您的回覆喔!!!  发表于 2015-11-12 17:47
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