GB4706.1中的19.11.2条款

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GB4706.1中的19.11.2条款中第 e)条：”三端可控硅开关元件以二极管方式失效“。这句怎样理解？请大家指教！
1 d7 r7 g# C# p" z4 D

okjun

标准的意思是用一个二极管来替换掉可控硅。
  X7 L7 o9 ?6 [0 `+ h但实际上，可控硅最常见的故障是内部完全短路。写标准的人不懂，仅以可控硅的符号来揣测可控硅内部发生故障后还剩一个二极管。
9 Z4 v3 {) ^$ q4 B所以实际测试中，把可控硅直接短路更符合实际，不管是从测试的方便性、还是从可控硅的内部原理来看都更加合理。

okjun

- @1 R; d$ z7 D- X
; _6 \: D8 i) }7 q从可控硅故障的可能性来看，baicaizfl说的对，短路测试应该在19.11.2 d)考虑。但这并不是写标准的人的本意。在写标准的人的头脑里，可控硅属于集成电路，是被19.11.2 d)排除在外的。

! E9 H/ F; A/ M可控硅的二极管模式失效是另一个故障测试，为了考虑更全面。
) V0 o( \% E5 [: ?$ z网上资料：
9 T% X- g5 v2 d2 J: q"对于电机来说，如果正负半波触发不对称，还会造成电机偏磁，电机发热，出力下降很多，因为偏磁相当给电机叠加了一个直流，产生一个刹车力，严重的会造成磁饱和，电机过流损坏。"
不知道说的是什么类型的电机。串激电机肯定不存在这个问题。
/ m" m6 r- u/ ]9 B* K; `
, y8 H" `/ @8 G/ t1 O1 L, X

zhaobo

谢谢，学习了

ylgc123

okjun 发表于 2021-4-12 16:32
2 r5 R$ `$ M' ?4 F4 Z芯片（IC1）的作用是从高压直流转成低压直流，故障测试如下：
5-3，直接把高电压引到低压端。
5-1，目的 ...

妥妥的电子电路大神水准~

jtt1471025811

像各位大神学习

lds08080808

okjun 发表于 2021-4-12 16:32
芯片（IC1）的作用是从高压直流转成低压直流，故障测试如下：
! E( D; Q4 A' p* P# B5-3，直接把高电压引到低压端。
# Q* Y% p: ~6 _2 f2 H8 s5-1，目的 ...

# j$ u4 T- k3 F& x6 ]非常感谢大神的指点，再请教下，要想将IC1 Disabled，是要短IC1的管脚（如是，是上面所述的那两个脚？），还是要短接其它元件。

okjun

芯片（IC1）的作用是从高压直流转成低压直流，故障测试如下：
1 l( E; K0 M- Q" |' G1 A5-3，直接把高电压引到低压端。
9 ?# h1 Q7 w1 Y4 }6 Z/ }5 c9 B# B5-1，目的同上
1-3，低压端两极短路
& _+ v# D, E5 v9 @2-1，电流反馈失效
: c, ^( a0 s, y
不涉及加强绝缘的元件故障，主要是依赖保险管来保护，绝大多数情况下没什么危害。

小昕

简单粗暴的做法就是将Q管三个引脚两两短路，即（D-S）,(D-G),(G-S)

小昕

lds08080808 发表于 2021-4-10 12:53
借楼主好贴请教下高手，做芯片（IC1）元件失效，要怎样实现

IC1 Pin1-Pin 6 sc ,IC1 pin 2-pin 6 sc, IC1 pin 3-pin 6 sc , IC1 pin 4-pin 6 sc, 因pin 5,6,7,8是等电位，所以Pin 1-4分别跟这个等电位施加故障，不知道您问的是不是这个问题，希望能对您有用。

lds08080808

借楼主好贴请教下高手，做芯片（IC1）元件失效，要怎样实现