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[UL认证] 请教电子开关温升测试

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楼主
发表于 2011-8-16 10:12 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
UL61058 第16.2 章节中有说到开关若与半导体器件并联,则在测量时只测试在触头闭合之前那一刻的温升......怎么理解这句话.
" p9 H+ G; r* z* i) s+ k4 U9 G原文:  if the switch has a mechnical contact which is connected in parallel to the semiconductor switching device ,the temperature rise is measured immediately befor the contacts close.
沙发
 楼主| 发表于 2011-8-16 10:13 | 只看该作者
触头都没闭合,哪来的温升呢.求解.......
板凳
发表于 2011-8-16 10:46 | 只看该作者
测试半导体器件的温升啊,考核半导体器件的性能
地板
 楼主| 发表于 2011-8-16 11:15 | 只看该作者
引用第2楼zhutongshuai于2011-08-16 10:46发表的  :% x" Q4 p( [- P6 D' p
测试半导体器件的温升啊,考核半导体器件的性能
你有做过类似的测试?
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