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[美洲灯具] UL球泡灯耐压事宜

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发表于 2015-4-29 21:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大侠:
9 ~" U. R4 r' ]0 A
: F. X* p8 V9 l% TUL1993中,对于LED球泡灯耐压测试如下这段话怎么理解:因为我司的LED球泡灯打直流时LED也会坏掉,是否按照这个要求进行每天进行抽检就行了,不用100%全检??
; X9 G8 |+ N( U% z# ~, e/ B8 D( |' u  A& y, T' t
The test may be performed before final assembly if the test represents the completed product.2 U8 K9 b3 L, s# d% {3 O& e0 ?
D.1.5 A device employing a solid-state component that is not relied upon to reduce a risk of electric shock
& U0 w' j5 \% F9 \3 U) `9 S1 Sand that can be damaged by the dielectric potential may be tested before the component is electrically: w1 X5 K" E7 X4 N" `9 Z8 o
connected provided that a random sampling of each day’s production is tested at the potential specified
& f. O; g: R& ~% g  tin Table D.1. The circuitry may be rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of
8 N, Z* V" X7 R7 Jsolid-state component damage while retaining representative dielectric stress of the circuit.
 楼主| 发表于 2015-4-30 14:51 | 显示全部楼层
不好意思,贴错图了,应该是这段话
- Y8 V  \  ]) w. u* JD.1.5 A device employing a solid-state component that is not relied upon to reduce a risk of electric shock2 J- ^; X% Z6 {# }
and that can be damaged by the dielectric potential may be tested before the component is electrically
7 i1 F, C. O7 D  k! X. H/ }+ R; U6 @connected provided that a random sampling of each day’s production is tested at the potential specified
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solid-state component damage while retaining representative dielectric stress of the circuit.
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