GB4706.1中的19.11.2条款

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GB4706.1中的19.11.2条款中第 e)条：”三端可控硅开关元件以二极管方式失效“。这句怎样理解？请大家指教！
- n: i& t1 s7 j: t4 G! v- Y

okjun

标准的意思是用一个二极管来替换掉可控硅。
但实际上，可控硅最常见的故障是内部完全短路。写标准的人不懂，仅以可控硅的符号来揣测可控硅内部发生故障后还剩一个二极管。
所以实际测试中，把可控硅直接短路更符合实际，不管是从测试的方便性、还是从可控硅的内部原理来看都更加合理。

okjun

6 p" i* k$ ~8 V: `
6 f, d9 T0 F' M8 c- E从可控硅故障的可能性来看，baicaizfl说的对，短路测试应该在19.11.2 d)考虑。但这并不是写标准的人的本意。在写标准的人的头脑里，可控硅属于集成电路，是被19.11.2 d)排除在外的。
$ {: j: h! Y2 C7 X( Q, Q( e% N
可控硅的二极管模式失效是另一个故障测试，为了考虑更全面。
; _# I- h- U4 @4 v5 C' G网上资料：
# h$ F# U3 b3 G+ W( C1 x"对于电机来说，如果正负半波触发不对称，还会造成电机偏磁，电机发热，出力下降很多，因为偏磁相当给电机叠加了一个直流，产生一个刹车力，严重的会造成磁饱和，电机过流损坏。"
不知道说的是什么类型的电机。串激电机肯定不存在这个问题。
  _" M" Y2 P$ q  k7 C
+ _, |9 @! s$ S9 l! c  |6 [1 R

SUN196262

明白了，非常感谢！

lds08080808

借楼主好贴请教下高手，做芯片（IC1）元件失效，要怎样实现

小昕

lds08080808 发表于 2021-4-10 12:53
4 u% H  b1 z& b- Z4 _借楼主好贴请教下高手，做芯片（IC1）元件失效，要怎样实现

8 V1 ^( }5 w6 lIC1 Pin1-Pin 6 sc ,IC1 pin 2-pin 6 sc, IC1 pin 3-pin 6 sc , IC1 pin 4-pin 6 sc, 因pin 5,6,7,8是等电位，所以Pin 1-4分别跟这个等电位施加故障，不知道您问的是不是这个问题，希望能对您有用。
/ F) B3 J# \7 @- z  ]3 i& x

小昕

简单粗暴的做法就是将Q管三个引脚两两短路，即（D-S）,(D-G),(G-S)

okjun

芯片（IC1）的作用是从高压直流转成低压直流，故障测试如下：
5-3，直接把高电压引到低压端。
  z/ ^6 S9 \% j0 o- k8 i5-1，目的同上
9 h) r( B5 G$ j9 @; H2 l/ g& g1-3，低压端两极短路
. i' {: d+ O0 H# B2-1，电流反馈失效
$ ^* t. ]: t" n9 k) _2 x' o2 \
( m8 r4 b) G+ q( [' ?不涉及加强绝缘的元件故障，主要是依赖保险管来保护，绝大多数情况下没什么危害。

lds08080808

okjun 发表于 2021-4-12 16:32
8 G9 r, G- V, A* X芯片（IC1）的作用是从高压直流转成低压直流，故障测试如下：
5-3，直接把高电压引到低压端。
5-1，目的 ...

5 c  B" o4 K9 h; [8 X  s非常感谢大神的指点，再请教下，要想将IC1 Disabled，是要短IC1的管脚（如是，是上面所述的那两个脚？），还是要短接其它元件。

jtt1471025811

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