jsspace 发表于 2008-10-17 10:08

60335-1 CLS 8.1.2的疑问

60335.1 CLS 8.1.2 试验棒还需穿过在表面覆盖一层非导电涂层的接地金属外壳的开口。
                试验棒不能触及到带电部件。
对这句话有点不明白：既然外壳上有开口，不管怎么说我们都是要用试验棒测试是否可以碰到带电部件，与非导电涂层有什么关系？与金属接地有什么关系？

小山 发表于 2008-10-17 10:32

我也觉得多余。

ljh809809 发表于 2008-10-17 11:15

不一样。
你可以逆向思考：假如是I类设备，其外壳没有覆盖一层非导电涂层，则测试指可以接触到带电部件，只要测试指必须同时碰到接地外壳。
假如有覆盖一层非导电涂层，测试针碰到带电部件，且不是人可以接触带电部件而没有接地保护。

sclongwar 发表于 2008-10-17 11:27

2楼的解释没错. 主要是针对I类器具的II类结构, 金属外壳上涂上绝缘漆之后, 要用13号的测试手指, 不能从金属开孔里碰到带电体. 因为涂有绝缘漆的外壳已经不具有接地保护了.

jsspace 发表于 2008-10-17 12:15

说一下我个人的理解，假如是没有非导电涂层的接地金属外壳，我觉得也是不能碰到带电部件的。
就算你的手碰到外壳了，那就有接地保护只是一重保护并没有起到双重保护的作用。 那假如手没有碰到外壳而碰到带电部件呢？
所以我个人觉得，不管有没有涂层都是不能碰到带电部件的。

sclongwar 发表于 2008-10-17 12:51

8.1.2主要是考虑II类器具和II类结构. 而如果器具的金属外壳覆盖了一层非导电的涂层, 就应该考虑这条. 如果金属外壳接地, 没有非导电涂层, 那么就不是用13号这么小的测试手指来判定是否能够接触到带电体.不同的结构使用的测试手指不一样. 但是判定条件都是不能接触到带电体.金属外壳和带电体之间是有一层绝缘系统.

luqing_sz 发表于 2008-10-17 13:09

引用第5楼sclongwar于2008-10-17 12:51发表的:
8.1.2主要是考虑II类器具和II类结构. 而如果器具的金属外壳覆盖了一层非导电的涂层, 就应该考虑这条. 如果金属外壳接地, 没有非导电涂层, 那么就不是用13号这么小的测试手指来判定是否能够接触到带电体.不同的结构使用的测试手指不一样. 但是判定条件都是不能接触到带电体.金属外壳和带电体之间是有一层绝缘系统.
如果是I类电器,外壳接地,接地的外壳且有小孔,13号试验手指可以碰到这个接地外壳孔内的带电部件??

ljh809809 发表于 2008-10-17 13:20

引用第6楼luqing_sz于2008-10-17 13:09发表的:

如果是I类电器,外壳接地,接地的外壳且有小孔,13号试验手指可以碰到这个接地外壳孔内的带电部件??

可以，但要满足条件：外壳的小孔是接地金属件的一部分且没有覆盖一层非导电涂层。有了这个条件，甚至都不用 test probe 13测了。

playa666 发表于 2008-10-17 15:03

引用第5楼sclongwar于2008-10-17 12:51发表的 :
8.1.2主要是考虑II类器具和II类结构. 而如果器具的金属外壳覆盖了一层非导电的涂层, 就应该考虑这条. 如果金属外壳接地, 没有非导电涂层, 那么就不是用13号这么小的测试手指来判定是否能够接触到带电体.不同的结构使用的测试手指不一样. 但是判定条件都是不能接触到带电体.金属外壳和带电体之间是有一层绝缘系统.

问一个问题： Ⅱ类器具应该 是不用接地的啊？

sclongwar 发表于 2008-10-17 15:09

引用第8楼playa666于2008-10-17 15:03发表的:


问一个问题： Ⅱ类器具应该 是不用接地的啊？
II类是不用接地, 我的意思是I类器具中, 部分结构为II类. 这条款本来就是考量II类器具和II类结构的.
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