求助理解VDE标准条款

asslay

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各位朋友，大家好：
5 c# |7 C. J+ Y3 u5 N最近在看一个客户标准的时候有这么一段，谁能帮忙说一下VDE中关于三端双向可控硅与二极管替代实验的要求：
' f9 [, @- D" S0 Z* C) D. VTriac in diode mode (VDE request)
5 i) ^9 h+ f1 p/ w. b& S7 }1 P, @  X; pTest according to the following method. During the test, record the winding temperature and
, ~' ~4 e9 L7 M/ dsamples should conform: There must be no fire or smoke from the pump.
: U- [9 I8 n( A! b) f% x, l/ l% G
    Pump with thermal protector
    Test equipment: hot-line resistance tester , thermocouple, thermocouple monitor
    Test method:
/ B3 S) N* i$ i5 Y! c2 LPlace a thermocouple on the surface of winding in order to monitor the winding temperature. Remove the triac and use diode instead it, apply rated voltage to sample until steady conditions are established. And record the temperature. The highest temperature should be less than 240℃if its insulation grade is F. (according to GB4706.1 ITEM 19.7)

这个主要讲的是洗衣机上用的排水泵，Remove the triac and use diode instead it,
移除其中的三端双向可控硅开关，然后用二极管代替，资料上说是VDE的要求。
所以不知道这个三端双向可控硅开关和二极管的替代有什么直接关系？
$ D7 T$ ~. v1 E' G& Y或者那位朋友能帮忙分析一下这个到底是怎么一个试验!
7 U3 e3 P5 _4 U5 }, J谢谢!

xuewenfei

是IEC60335-1 19.11.2 模拟电子电路故障a到f故障测试中的e测试e)可控硅以二极管方式失效。

6 \) k4 l- @/ _- \( ?; V我们一般可控硅的三个脚两两短路啦

小鸭的天空

模拟可控硅失效， 长通。因而变成以二极管的工作方式。

xuewenfei

小鸭
我想问下你

  V$ g9 Y; {( f: P- h$ s5 Y; d* l标准上说e)可控硅以二极管方式失效。
3 Y7 W0 W' x: |+ ?应该不是楼主所说的用二级管代替可控硅吧（Remove the triac and use diode instead it）
2 d4 u, r4 @' \4 R8 i( F我觉得就是把可控管两个级短路吧
可我发现论坛很多同事说要用二级管代替可控硅
' C* O2 ^: E9 L/ N7 V我想一想多麻烦啊
可又有些疑惑

asslay

谢谢各位的帮助，我想可能是模拟可控硅失效后以二极管模式工作，会不会产生什么安全隐患，
所以就直接用二极管换掉可控硅了吧？