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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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发表于 2021-11-29 15:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,2 k% P6 h; H1 [) }
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)# @/ P6 h1 Z. E  @
+ v" k& r+ }: [
! p& \. M9 {* c# S- N5 T" X
8 b; R- r* u, c( h! K+ [
18.1 Dielectric voltage-withstand
7 o0 U& N0 F5 H- G7 N# K$ [18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.) F% r: m. A4 U- [5 b1 F: n
18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied- t7 X. R6 Z9 H$ p" b& m9 J
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during9 i: S/ z/ r* X* X7 I( s* H' A
relamping.
2 o6 G( a; E4 U1 x$ ]: k+ l1 `18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
' e* c) V6 Y' n& I5 H- z" jthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
( @( n$ W& D: C: l1.414 times the AC potential denoted above.- Q( R" \) E. M2 V9 `
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required# G' R6 U- a+ G5 [& ?, a
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the7 F# ~. j! A! Z2 F' u
ON position.& \8 P2 t1 `3 v7 |
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
, e* x. s' Y2 \) Sdecorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.7 d/ J8 z# \" e9 W
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can. Q3 r' B3 @0 r5 N
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be6 C  y8 a4 A3 |2 X% u4 h
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while6 M7 w3 X# e7 j1 W: a+ }$ f% ^
retaining the representative dielectric stress on the circuit.
5 p# \6 n: I  _; J6 e1 |0 Z$ [. O# D8 w7 V' f
发表于 2021-12-3 16:20 | 显示全部楼层
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 显示全部楼层
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
7 f5 W3 T* J" G7 D& W- K不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
8 v8 o7 L7 I+ \
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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发表于 2021-12-29 08:14 | 显示全部楼层
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
' F; c' X, d. E! j( @: m* X2 h4 `6 Z0 U注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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发表于 2021-12-29 08:27 | 显示全部楼层
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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发表于 2022-1-4 13:24 | 显示全部楼层
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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发表于 2022-5-12 15:30 | 显示全部楼层
正好需要,学习了
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发表于 2024-10-23 10:16 | 显示全部楼层
学习了,学习了
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