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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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发表于 2021-11-29 15:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,9 P& {8 m. X; A3 \4 \% w
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
9 A( o6 p' a$ v3 J% [2 {" Q, d" D1 L+ @
4 h, Q9 Z3 l9 i  T! m$ R
+ Q! m! f% t1 Y& [8 g# U$ r' J* m$ e9 }+ f3 c$ V$ H: Y6 a& i: }4 Q
18.1 Dielectric voltage-withstand2 K3 H# C6 w! {' ?! q2 W
18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
  Z8 C3 a8 k, F  ~! p18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied# ?# o4 U! ?, z+ Z
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during1 J8 |: K, L' k
relamping.
. g1 ]: a+ d! r# |0 z% g2 b18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice* l7 w* \! S* l1 L. |
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
5 N7 B; }: A2 V- N  N) ]1.414 times the AC potential denoted above.
% k; R+ S; `0 l) u+ w  x18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
9 y& }) }: l  h2 ntest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the/ F+ P3 J, Y( V6 u
ON position.
* A: U, t+ ]9 C; V! m& e18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
# B4 C+ J1 S0 odecorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
; v) ~( {1 D) m, z4 n% w& s/ p18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
; w& `9 w7 F1 K7 D3 f$ \9 F' mbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
5 ]2 S& ^, i- c" n+ R' N- frearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
* L! N; Q9 p* s( ]" `retaining the representative dielectric stress on the circuit.; _* r5 u1 T1 N$ s: k

* N4 L3 M( ~5 ~) z5 z
发表于 2021-12-3 16:20 | 显示全部楼层
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 显示全部楼层
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
9 i% @) C# C$ b- a, }7 j: Q不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
1 s$ Y, T, J1 @- Z+ J7 w/ f8 I
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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发表于 2021-12-29 08:14 | 显示全部楼层
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
  m/ v( ?5 ^: T注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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发表于 2021-12-29 08:27 | 显示全部楼层
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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发表于 2022-1-4 13:24 | 显示全部楼层
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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发表于 2022-5-12 15:30 | 显示全部楼层
正好需要,学习了
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发表于 2024-10-23 10:16 | 显示全部楼层
学习了,学习了
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