高压测试的影响

final_72 · 发表于 2007-7-27 16:06

对adaptor 进行交流高压测试后，如果fail.请问内部电路哪里受损，是Y2电容吗？
另外，高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，请问为什么

barry · 发表于 2007-7-27 16:24

引用第0楼final_72于2007-07-27 16:06发表的高压测试的影响 :
4 R1 [7 b: d" [: i) }- M对adaptor 进行交流高压测试后，如果fail.请问内部电路哪里受损，是Y2电容吗？
& X3 n- D% a; k& m% h另外，高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，请问为什么

不一定是Y2。。。

依赖于你的产品的受试部位和你的产品的结构。

举例，如在初、次极间高压不过，

可能的位置有：

1）初、次间的Y电容

2）初、次间的隔离变压器

3）开关管与散热片之间的PVC片

4）初、次间的CR、CL距离不够，引起“跳火”。

5）其它的情况（依赖于产品的具体结构）

高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，这种情况是很有可能的。

削弱的绝缘可以满足功能性绝缘，但不能满足加强性绝缘的要求。

我曾经碰到过开关管与散热片之间的PVC片出现破损而高压不过的情况，但产品仍能正常工作。

Bruce.P · 发表于 2007-7-27 19:41

有沒有遇到過Hi Pot Fail ,是因為橋堆問題造成的,

[s:44] ,
或者是其它非安規元器件的原因引起的?

[s:3]

final_72 · 发表于 2007-8-6 16:43

目前没有

dyp · 发表于 2007-8-7 12:52

同意一楼的观点,
但通常在一二次侧之间跨接的元件(Y1或Y2电容,光耦等)等已经选用经过达到加强绝缘效果认证的元件.
在变压器(工频或高频)中,绕组绝缘也很重要.

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