cloud.huang 发表于 2008-7-17 16:42

other capactiors是哪些电容?(60335-1)

60335-1的table 3电容的温升限制
Outer surface of capacitors h:
– with marking of maximum operating temperature (T)                                                 T-25
– without marking of maximum operating temperature:                                          
      • small ceramic capacitors for radio and television interference suppression          50
      • capacitors complying with IEC 60384-14                                                                        50
      • other capacitors                                                                                                                  20

Note h: There is no limit for the temperature rise of capacitors that are short-circuited in 19.11.
如这个note中所说,在19.11中可以短路的电容是不限制其温升的,

而在19.11.2中说明了c) short circuit of capacitors, unless they comply with IEC 60384-14;
只要是不符合IEC60384-14的电容,都是要做短路的。

这样问题来了,可以做短路试验的电容不用限制温升,不符合60384-14的要做短路,那么从table 3中的分类来看,符合了60384的电容温升限制是50,不符合60384的就不管,在19章做短路就好,那么表中的"other capacitors"   Temp rise 20是针对什么电容来说的 呢?
                                                                                    

cloud.huang 发表于 2008-7-18 08:52

没人知道么?

kendy 发表于 2008-7-18 09:04

你把11章和19章混在一起了,分开就能理解了。

cloud.huang 发表于 2008-7-18 09:23

我不这样认为,一份标准应该是前后贯通保持一致性的,虽然各章侧重不同,但是不应该有冲突的地方,那样只能认为标准的说法不严谨了。

cloud.huang 发表于 2008-7-18 10:02

Note h: There is no limit for the temperature rise of capacitors that are short-circuited in 19.11.
如这个note中所说,在19.11中可以短路的电容是不限制其温升的
(table3里的note)

fasten 发表于 2008-7-18 12:46

没仔细看你的贴子, 还确实是有这个h note.
但是瞄了一下19节, 其实并不矛盾的.
你要看19.11.2具体是指在什么电路上, 它并代表所有的电路, 除了此类电路, 还有些满足19.11.1 和19.11.3的电路, 它们中的电容并没有被要求按19.11.2短路掉, 我想other capacitors应该就是这两节所涵盖的电容, 当然要去掉上面这些所列的电容.

If the safety of the appliance under any of the fault conditions depends on the operation of a
miniature fuse-link complying with IEC 60127, the test of 19.12 is carried out.

cloud.huang 发表于 2008-7-18 13:12

有道理,19.11.1确实使一部分电路的电容免于短路,因为平时做的时候低功率点都是不去判断的,19.11.1的第二条比较难断定,所以把这个漏掉了。
不过19.11.3的情况还是需要做短路。the relevant test is repeated with a single fault simulated, as indicated in a) to f) of 19.11.2
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