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[综合话题] 关于I类设备,外壳都是塑料的,关于保护接地条款大家是着么处理的呢

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发表于 2009-4-4 15:02 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
关于I类设备,外壳都是塑料的,关于保护接地条款大家是着么处理的呢???8 S' M9 F6 f! f) ^- ^
在此向各位高手请教!!!!!
发表于 2009-4-4 15:33 | 显示全部楼层
保护接地接在内部电机铁芯, PCB 的功能地端。器具成I类设备, II类结构。
发表于 2009-4-4 15:45 | 显示全部楼层
引用第0楼归去来于2009-04-04 15:02发表的 关于I类设备,外壳都是塑料的,关于保护接地条款大家是着么处理的呢 :2 g& X$ {4 e* o, N/ {( O
关于I类设备,外壳都是塑料的,关于保护接地条款大家是着么处理的呢???
9 \2 _: O, f) `在此向各位高手请教!!!!!
. i5 H. `/ @# {4 ]; @2 S3 ?& E
& h3 r; D( z* E
' y  ^; N3 Z% H2 z5 _. ~2 {
这个问题提的好啊,目前也没什么统一定论,国外有些就认为接地阻抗这一条款不适用(与接地阻抗定义相统一)。。。。。国内有些检测中心打开设备外壳测量内部的接地电阻(这个不符合接地电阻的定义)。。。。。。。。请其他的同仁也谈谈自己的看法吧
发表于 2009-4-4 17:36 | 显示全部楼层
引用第2楼316979109于2009-04-04 15:45发表的  :
- f6 Q: Q" \9 f, y  b5 L  F3 o- o9 m+ ], |; w
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5 [! a6 L1 H5 q

1 T1 `* n0 z+ e% O- z这个问题提的好啊,目前也没什么统一定论,国外就认为接地阻抗这一条款不适用(与接地阻抗定义相统一)。。。。。国内有些检测中心打开设备外壳测量内部的接地电阻(这个不符合接地电阻的定义)。。。。。。。。请其他的同仁也谈谈自己的看法吧
7 {) E4 r! O! E, G; q$ Q

1 {9 k9 h% n' X2 P+ z您依据什么说国外认为这一条款不适用。有些是判断不适用的,有些是按二楼的方法处理的。本人问过tuv的专家
( H5 z* F: B4 P1 ~0 P' B- Q0 y6 j
% j1 ]) G! O" G5 k+ K6 h(2iso版主修改与主题无关用语)
发表于 2009-4-4 19:29 | 显示全部楼层
引用第3楼nesta于2009-04-04 17:36发表的  :0 X/ i  m; z0 }' U
; @, M) n4 s$ _; l. K8 @
3 P: M7 P2 e( t4 T- o+ V  P# S
' o: `6 g7 n2 Y- B
你凭什么说国外认为这一条款不适用。有些是判断不适用的,有些是按二楼的方法处理的。本人问过tuv的专家

; v# `5 q# p, X" G1 T( A4 [9 r" e5 _1 H1 F* `, N8 y- P" ^. X2 g$ v5 v+ h
( R# V% r/ @" N; U9 x
你...看看接地阻抗的测量要求吧,,...看看18章吧,“可触及金属部分”这几个而且还是加黑的字,你应该看到了吧。。。。就凭这点就可以判它不适用。。。你问过了TUV专家又有什么用呢,人家也不能给你个定论。。。你还是去问下IEC委员吧-----14人小组(忘记了具体几人了,姑且叫它是14人小组)
发表于 2009-4-4 19:40 | 显示全部楼层
以国内目前第2版的标准,这个问题有点难办。。。。。。IEC第三版,18章也是可接触部件来测量,不过加入了风险分析,可以认为从等效的方法来解决:1)、内部测量接地阻抗;2)、I类设备,外壳是II类结构,满足A-a2的要求。。3)、其他等效方法等
! b0 B) Y( `: W* s! G: P目前这个问题,反正是各说各的吧。。。。。# t5 }5 F9 `9 R2 w# m

8 G/ p8 n2 D! Z. g. ^' A* j" u- j$ `, ?5 d: L2 C% |

: y$ \: R) e5 P  |, Z" L: b关于IEC第三版,我也是大概的看了下,具体细节的,大家自己去了解吧,或许人家第三版已经解决了这个问题呢
发表于 2009-4-4 20:26 | 显示全部楼层
这个问题,各地区可能有不同的看法!
发表于 2009-4-4 21:14 | 显示全部楼层
晕倒 你怎么知道没有给定论。人家专家就是给出了定论。
发表于 2009-4-4 22:50 | 显示全部楼层
呵呵,那你说说看,什么专家给出了什么定论。。。根据标准那一条呢!!!![s:3]
发表于 2009-4-5 11:31 | 显示全部楼层
引用第8楼316979109于2009-04-04 22:50发表的  :
/ p; T# ^  \1 K% J: x呵呵,那你说说看,什么专家给出了什么定论。。。根据标准那一条呢!!!![s:3]
$ g0 P' Z1 P1 F9 q
就是可以按二楼的方法测试。  n& L- ~, K4 a3 R7 @) O: j

7 K% H! }% ~* v, }& H4 K1 s: O' G........ (2iso版主修改与主题无关用语)2 @7 m9 W* a5 R0 K+ N+ [) U
$ K6 X: E) P7 x* V
按照你的观点,A-f就只是应用于网电源带电部分了,如果是电池的话就不适用了?
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