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标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点） [打印本页]
作者: ylgc123    时间: 2018-10-19 14:10
标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点）
ed4.1版：13.2 泄漏电流通过用 IEC60990中图4 所描述的电路装置进行测量,测量在电源的任一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。被连接的金属箔面积不得超过20cm*10 cm,并与绝缘材料的易触及表面相接触。
9 W: H6 v& e) e2 I/ A8 { --对Ⅱ类器具          0.25 mA
ed5.1版：13.2 对0类器具、 II类器具、 II类结构和 III类器具，使用 IEC60990中图4 所示的电路装置测量泄漏电流。对0I类器具和I类器具，C可由适用于器具额定频率的低阻抗电流表代替。
测量在电源的任一极和下述部件之间进行：
——对 I 类器具和 0I 类器具：打算与保护性接地连接的易触及金属部件；
2 l2 x  L; H8 Q——对0类器具、II 类器具、II类结构和III类器具：与绝缘材料的易触及表面接触、 面积不超过 20 cm×10 cm 的金属箔，以及不打算连接到保护性接地的金属部件0 ~% o% Y5 p9 b8 V8 s2 ~
& w; l- @- H" e* ^( c) |2 ^  @
--对Ⅱ类器具以及 II 类结构的部件   0.35mA 峰值
7 R( `) `1 e' Y( L
①ed5.1版本出来后，实验室内部针对泄漏电流的测试就将“I类器具”，及其上的“II类结构”进行了区分测试。需要进行2次单独测量。
②ed4.1版本的时候，将绝缘材料外壳与接地金属用铝箔纸接触后进行1次测量。
; A, Z5 k- |3 B" s5 p9 W
疑问：1、哪位大咖知道标准为什么在5.1版本中将II类结构单独出来？？？
          2、理论来说ed4.1版本是不是将I类结构、II类结构的泄漏值叠加起来显示在我们面前？而5.1版本是单独分开的。？？
          3、目前大神们各自做泄漏的金属箔贴合方式是怎么样的？
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行，还是要用figure 4网络去测试，所以要单列出来! c  l' G+ ~+ Q& z3 `! \
2. 标准是在不断的完善，4.2版本不管三七二十一全部合在一起用网络测试，5.0版本改为除0类、II类、III产品用网络测试其它产品可以直接用电流表测，5.1版本发现有问题，把II类结构单独拿出来说也要用网络测试# g; D# y4 E" x3 S  V
3. 按照5.1版本的，0I类、I类产品接地金属不用金属箔，直接测试就好了，II类结构部分盖金属箔，0类、II类、III类产品全部用金属箔
作者: zhongwen_lee    时间: 2018-10-19 16:41
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09& F( [: e& o3 I/ E* E8 r
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
' X% ?. D- G* [6 r% J- s
楼上的回答正解！
作者: Rocket-He    时间: 2018-10-19 22:05
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
- s: f- @6 I  L, a. [  i2 F/ b& x1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
9 _, m. G9 j5 n" N. o# J8 h
总结的针针见血，很赞！
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 10:47
本帖最后由 ylgc123 于 2018-10-22 11:32 编辑 9 R; q* M0 u" R2 q3 x  i
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
9 M5 G% J9 W- u5 d3 e9 `1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

- D7 V) v/ @. m8 T. S, ]# [; `baicaizfl兄；8 j8 w' _! c! n. M
关于第1点，对228这个表不是特别了解，但是以前看UL的时候和229-2对比过。
2 h2 Q8 l, i% `5 \228中说明书的figure3中电路（react档），不就是60990中的图4吗？
2 V/ [9 I* m  x4 K6 X3 x228设计的时候针对的是IEC60950来设计的设备，测量出来U2后自己去除以500，为什么这个表就不能在CLASS II结构上使用？？？% k' B4 ?* s& T: p; h  s
- l  j, {3 T6 t! x* X
没理明白为什么228这个表就不能测II类结构。其他都回复非常ok，非常感谢~~5 l& r# S5 H$ P% L! \. H# R
是因为pk值和rms值的原因吗？这个应该也可以手动换算呀~, x, Y# Z; A- h9 O% Y

3 |9 b) F" h. Q0 b/ p1 p$ i! @另外，baicaizfl兄是否了解为什么IEC认为I类器具可以不用网络来测试？就算UL那边的家电，229-2表中还留有一套小网络。
2 ~0 Q% {: @; o0 k9 p
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 17:08
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09( }0 o& X3 p; ]' }5 @! S
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
" e& k  S) B0 u% X$ X" |( c
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：9 e3 Y+ q  n! p- C; U
①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类：II类结构是接触电流，而I类器具是保护导体电流。6 G7 h. S4 o' i7 W# [
   接触电流的U2最高峰值/500Ω；
( a* J  ]$ F" I5 m5 j   保护导体电流是按照60990  8.3的说法，用一个0.5Ω安培表串进去测量即可。9 K9 P7 c& W' b& [1 I# o
   所以ed5.0的变化当时仅仅考虑了I类器具保护导体电流用低阻抗电流表来测量，没有考虑II类结构是接触电流的范畴。7 @" W) M; y) K% q; g8 |- |
   这也是为什么在ed5.0之后，泄漏电流限值有Pk和rms值的分别。3 f! d1 [1 e# m5 u( i
   【如果上述推论成立：Pk值变化原因，为什么II类结构单独出来，I类器具为什么不用网络都能解释】$ q4 j  a8 c0 D9 m* Y* j6 I( A7 P
. V7 R% S7 H5 m# F8 w+ p
②baicaizfl兄，我还是不明白II类为什么不能用228表，按照我上面的推论，228表用起来更合理才对。
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-22 18:01
ylgc123 发表于 2018-10-22 17:08! `! C/ C' h: K% ]- k
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
" M' F& r. J7 A8 X; C' v①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类： ...
1 d' f4 ~5 e1 i- z* h# @
哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I我是想说毫安表来着
作者: vernal.meng    时间: 2019-11-14 09:18
baicaizfl 发表于 2018-10-22 18:01
* d1 B' I# G% S& g哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I ...

- P  |$ `4 H1 i' ~6 O* o4 x你好，对于I 类器具的可触及绝缘表面还是要用测试网络吧
作者: 人间庄严    时间: 2022-10-18 10:20
有用，受用，已截图打印出保存



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