从事多年安规，与各位交流经验和问题

wwbwww · 发表于 2008-3-19 17:23

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scott_cheung · 发表于 2008-3-20 09:17

2. I类结构中次级未接地部分的漏电流如何测量?

你要问得是不是二次侧可接触部分的接触电流测量？
如果是接触电流的问题，测量的具体方法如950图5A,5B所示（Y型系统）

5A是单相测试的图，PE连接到N上，测试表笔1端接PE端子，另1端接输出+, -，注意，产品输入的L,N要交换测试一次。

5B是三相测试的图，PE连接到N上，测试表笔1端接PE端子，另1端接输出+, -，注意，产品输入的L1,L2，L3之间交换2个相续测试一次。

对于三角形系统，你可以参考IEC60990的图13，14的方法，所不同的是，这时候PE端子要接到L1,L2,L3的任一相上再测量

Collin · 发表于 2008-3-20 14:25

引用第19楼scott_cheung于2008-03-19 15:42发表的 :
2 A* L- K' O6 H6 T先回答第一个1. 950: 异常条件下线圈温升是否要减10K?; P/ m$ @/ ~9 k$ {
, Y5 p7 f: j M/ P( Q$ `% C
950只在4.5节里面提到测量绕组表面的温升要减去10K，而在异常测试环节，却没有提及这个说法。这个地方也是有争议的地方，我认为这个地方要减去10K。因为测量表面的温度，而实际上线包内部的温度比表面温度高，对于绕组中材料的最大使用温度实际上应是按照器件中最大的温度来判断的，也就是在测量的表面温度的基础上+10K，或者温升限值减10K。

一般情况下，我也是这样想的.

但是如下的几点使我还有些不明白:
a. 950-1标准在异常时不明确写出线圈限值要减10K, 是否基于某种考虑? 如果说正常的线圈限值是基于60085, 那么异常限值是基于何种工程经验或标准?
b. 60335-1标准的table 3更有意思，上面只有前三个等级(相当于Class A, E, B)要求减10K, 而Class F及以上等级不用减10K。以Class F (155)为例，限值115K等同于950之140°C. 再比如61010-1，它的table 16中Class B的限值居然为130°C, 而且不要求热电偶法减10°C的. 各标准的冲突使我不知如何把握.
c. 特别一些的情形: 只有几匝的电感, 热电偶法直接粘点在线圈上, 量它的温度是不是可以不用减10°C?

Collin · 发表于 2008-3-20 14:34

引用第21楼scott_cheung于2008-03-20 09:17发表的 :
5 Q2 o! o% V/ f$ D" f* F, p2. I类结构中次级未接地部分的漏电流如何测量?7 |# j" W- [6 I: V) B' ~* ^

* x, f8 ]: g+ h8 A/ d& b8 @0 E- g( N
你要问得是不是二次侧可接触部分的接触电流测量？
$ J$ k5 M& C6 b8 d0 w如果是接触电流的问题，测量的具体方法如950图5A,5B所示（Y型系统）
* v6 C% p/ L# A8 O/ U.......

我想问的是: 严格按950标准的测试方法，在次级电路接大地的 I 类结构中, 常常会导致测试必然失败!
所以我认为这里标准是写得有点不周全的. 并想知道大家这个地方如何处理.
测试失败的原因是: 假设一额定输出+12V的单相电源，输出负极接地，则在测输出正极对相线的漏电流时，标准要求初级地要闭合. 此时: 输出正12V会通过测量网络、零线、闭合的地线、负极形成回路，测得漏电流为12/2k (A)=6(mA)!

ajay · 发表于 2008-3-20 16:40

引用第23楼Collin于2008-03-20 14:34发表的  :
" g2 M0 f# M* U* x4 r- O5 |
1 g) a" D4 ^* i5 L我想问的是: 严格按950标准的测试方法，在次级电路接大地的 I 类结构中, 常常会导致测试必然失败!0 o' J% w# {  v" x) b9 {: P/ c' P
所以我认为这里标准是写得有点不周全的. 并想知道大家这个地方如何处理.; t+ M9 ~) G+ a  a' V
测试失败的原因是: 假设一额定输出+12V的单相电源，输出负极接地，则在测输出正极对相线的漏电流时，标准要求初级地要闭合. 此时: 输出正12V会通过测量网络、零线、闭合的地线、负极形成回路，测得漏电流为12/2k (A)=6(mA)!

你看看附录W中的W.1.2接地电路,你就会明白了.

Collin · 发表于 2008-3-20 18:08

引用第24楼ajay于2008-03-20 16:40发表的 :, h6 ]% j6 D0 @, E* M3 C

$ M4 H2 D% `2 ]0 \9 m' Q. G$ f/ z, a7 E3 f5 v
你看看附录W中的W.1.2接地电路,你就会明白了.

图W.1.2与图5A的侧重点不一样. 从电流回路来看，W.1.2是输入高压通过Y1电容及变压器寄生电容到大地或次级可触及部件加测量网络. 而上面描述的特例中，回路的效果是输出正极流到输出负极. 有怀疑的朋友可以实测电脑电源等类似结构的产品验证一下.

gzmuestc · 发表于 2008-3-20 21:19

兄弟讨论真好我喜欢学习，但是我觉得国标与欧洲标准翻译有时差异很大；个人认为以后讨论直接说明是国标还是欧标

Collin · 发表于 2008-3-20 21:35

引用第26楼gzmuestc于2008-03-20 21:19发表的 :
# P$ \* a U8 o, T4 a兄弟讨论真好我喜欢学习，但是我觉得国标与欧洲标准翻译有时差异很大；个人认为以后讨论直接说明是国标还是欧标

谢谢提出，这几个问题都是基于IEC/EN 60950-1:2001. 一般我都直接看IEC或EN的标准，国标看得少些.

ajay · 发表于 2008-3-21 18:14

引用第25楼Collin于2008-03-20 18:08发表的 :- }5 B4 M% y9 ]5 b! R) C& w! T

. v8 O' ~5 F3 _图W.1.2与图5A的侧重点不一样. 从电流回路来看，W.1.2是输入高压通过Y1电容及变压器寄生电容到大地或次级可触及部件加测量网络. 而上面描述的特例中，回路的效果是输出正极流到输出负极. 有怀疑的朋友可以实测电脑电源等类似结构的产品验证一下.

你所举例的情况就和以地为基准的串口是一样的.这种情况就是W.1.2所描述的,通过规定可触及电路的最大电压值来限制人体电流,可触及电路应当是SELV电路或（受限制接触的）TNV电路。所以,只要满足上述可触及电路的条件,接触电流的测量就不适用.
这种那么普遍的情况,标准不会没有考虑的.

Collin · 发表于 2008-3-21 21:12

引用第28楼ajay于2008-03-21 18:14发表的 :
P/ }- x7 x0 c) `' v. r, [# {1 j$ W- D
所以,只要满足上述可触及电路的条件,接触电流的测量就不适用.

我实际中也是这样操作, 但是标准上似乎找不到依据呀。。。每次都得花不少时间来说服发证机构的工程师。有没有更有力的依据?

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